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機構 日期 題名 作者
國立交通大學 2018-01-24T07:43:24Z 覆晶15μm厚銲錫接點在高溫下的電遷移研究 唐葆明; 陳智; Tang, Pao-Ming; Chen, Chih
國立交通大學 2018-01-24T07:42:54Z 直徑30 µm微凸塊的冶金、電遷移、熱循環測試的可靠度議題研究 謝宛霖; 陳智; Chen , Chih
國立交通大學 2018-01-24T07:42:43Z 30μm尺度下銅鎳錫銀以及銅銅錫銀微凸塊冶金反應及電遷移議題之研究 林宛萱; 陳智; 林宏基; Lin, Wan-Hsuan; Chen, Chih; Lin, Hong-Ji
國立交通大學 2018-01-24T07:42:40Z 在通電後錫晶粒方向與錫晶界對銅鎳錫介金屬化合物成長的影響 吳幸怡; 陳智; Wu, Hsing-Yi; Chen, Chih
國立交通大學 2018-01-24T07:42:25Z 三維積體電路封裝接點之研究:微凸塊可靠度與銅對銅直接接合 朱奕丞; 陳智
國立交通大學 2018-01-24T07:41:29Z 鍍液溫度對電鍍奈米雙晶銅膜成長之研究 陳彥杰; 陳智; Chen, Yen-Chieh; Chen, Chih
國立交通大學 2018-01-24T07:41:25Z 以化學機械研磨之奈米雙晶銅薄膜應用於低溫銅對銅直接接合研究 林柏帆; 陳智; Lin,Po-Fan
國立交通大學 2018-01-24T07:41:17Z 錫晶粒方向對65μm厚覆晶銲錫接點的電遷移破壞研究 林志章; 陳智; Lin, Chih-Chang; Chen, Chih
國立交通大學 2018-01-24T07:41:16Z <111>奈米雙晶銅在<100>優選方向與無優選方向之銅薄膜上之晶粒成長之研究 劉心咏; 陳智; Liu, Hsin-Yong; Chen, Chih
國立交通大學 2018-01-24T07:41:15Z 高<111>優選方向之奈米雙晶銅膜拉伸及疲勞測試之研究 賴韋伶; 陳智; Lai, Wei-Ling; Chen, Chih

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