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機構	日期	題名	作者
國立成功大學	2008-06-26	應用陰影疊紋法量測電子元件的共面性與翹曲量	陳璟照; Chen, Ching-Chao
國立成功大學	2008-06-26	應用陰影疊紋法量測電子元件的共面性與翹曲量	陳璟照; Chen, Ching-Chao

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