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机构	日期	题名	作者
淡江大學	2001-08	The methods to construct imaging circuit for efficient VLSI circuit verification	饒建奇; Rau, Jiann-chyi; Chen, Y. M.; Chang, S. C.
淡江大學	2001-01	A timing driven pseudo exhaustive testing for VLSI circuits	Chang, Shih-chieh; 饒建奇; Rau, Jiann-chyi
淡江大學	2001	超大型積體電路與系統設計---IP Testing	饒建奇

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