臺灣學術機構典藏系統 (Taiwan Academic Institutional Repository, TAIR)

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机构	日期	题名	作者
國立高雄師範大學	2000	Enhancement in Soft Breakdown Occurrence on Ultra-thin Gate Oxides Caused by Photon Effect in Rapid Thermal Post Oxidation Annealing	Chia-Hong Huang;Jenn-Gwo Hwu; 黃嘉宏
國立高雄師範大學	2000	Role of Interface Trap Generation in the Low-Voltage Tunneling Current ( LVTC ) Characteristics of Ultra-Thin Gate Oxide ( ~2nm ) under High Field Stress	Chia-Hong Huang;Jenn-Gwo Hwu; 黃嘉宏
中國醫藥大學	2000	基於自動分類為基礎的圖書題名特徵擷取之研究-以輔助圖書分類系統為例	黃嘉宏; Huang, Jia-Hon
國立高雄師範大學	1999	The Breakdown Properties of Front- and Back-side Post Oxidation Annealed( POA ) Ultrathin Gate Oxide ( <3nm ) under High Field Stress	Chia-Hong Huang;Jenn-Gwo Hwu; 黃嘉宏

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