English  |  正體中文  |  简体中文  |  总笔数 :0  
造访人次 :  50955852    在线人数 :  754
教育部委托研究计画      计画执行:国立台湾大学图书馆
 
臺灣學術機構典藏系統 (Taiwan Academic Institutional Repository, TAIR)
关于TAIR

浏览

消息

著作权

相关连结

"黃嘉宏"的相关文件

回到依作者浏览
依题名排序 依日期排序

显示项目 31-39 / 39 (共4页)
<< < 1 2 3 4 
每页显示[10|25|50]项目

机构 日期 题名 作者
國立高雄師範大學 2002-08 快速熱製程中熱輻射對超薄氧化層膜金氧半元件影響之研究 黃嘉宏; Chia-Hong Huang
元智大學 2002 校園網路使用與學生學業成績之關聯性研究 黃嘉宏; Jia-Hung Huang
國立高雄師範大學 2002 Effect of Mechanical Stress on the Characteristics of Silicon Thermal Oxides Chia-Hong Huang;Jui-Yuan Yen;Jenn-Gwo Hwu; 黃嘉宏
國立高雄師範大學 2001 Breakdown Characteristics of Ultra-thin Gate Oxide ( < 4nm ) in MOS Structure Subjected Substrate Injection Chia-Hong Huang;Jenn-Gwo Hwu; 黃嘉宏
國立高雄師範大學 2001 Anomalous Low-Voltage Tunneling Current ( LVTC ) Characteristics of Ultra-Thin Gate Oxide ( ~2nm ) after High Field Stress Chia-Hong Huang;Jenn-Gwo Hwu; 黃嘉宏
國立高雄師範大學 2000 Enhancement in Soft Breakdown Occurrence on Ultra-thin Gate Oxides Caused by Photon Effect in Rapid Thermal Post Oxidation Annealing Chia-Hong Huang;Jenn-Gwo Hwu; 黃嘉宏
國立高雄師範大學 2000 Role of Interface Trap Generation in the Low-Voltage Tunneling Current ( LVTC ) Characteristics of Ultra-Thin Gate Oxide ( ~2nm ) under High Field Stress Chia-Hong Huang;Jenn-Gwo Hwu; 黃嘉宏
中國醫藥大學 2000 基於自動分類為基礎的圖書題名特徵擷取之研究-以輔助圖書分類系統為例 黃嘉宏; Huang, Jia-Hon
國立高雄師範大學 1999 The Breakdown Properties of Front- and Back-side Post Oxidation Annealed( POA ) Ultrathin Gate Oxide ( <3nm ) under High Field Stress Chia-Hong Huang;Jenn-Gwo Hwu; 黃嘉宏

显示项目 31-39 / 39 (共4页)
<< < 1 2 3 4 
每页显示[10|25|50]项目