臺灣學術機構典藏系統 (Taiwan Academic Institutional Repository, TAIR)

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機構	日期	題名	作者
國立交通大學	2014-12-12T02:25:32Z	軟性崩潰對深次微米 n 型通道金氧半電晶體特性	蔡旻郁; Min-Yu Tsai; 黃調元; 林鴻志; Tiao-Yuan Huang; Horng-Chih Lin
國立交通大學	2014-12-12T02:25:31Z	蕭特基阻障多晶矽薄膜電晶體之研製	黃若谷; Ruo Gu Huang; 黃調元; 林鴻志; Tiao-Yuan Huang; Horng-Chih Lin
國立交通大學	2014-12-12T02:24:06Z	具有複晶矽鍺閘極與局部形變通道之P型金氧半場效電晶體元件製作與分析	張伊鋒; Yi-Feng Chang; 黃調元; 林鴻志; Tiao-Yuan Huang; Horng-Chih Lin
國立交通大學	2014-12-12T02:23:54Z	後沉積之一氧化二氮氣體電漿處理對二氧化鉿堆疊式閘極金氧半場效電晶體電性之影響	李聰杰; Tsung-Chieh Lee; 黃調元; 簡昭欣; Tiao-Yaun Huang; Chao-Hsin Chien
國立交通大學	2014-12-12T02:23:24Z	氟摻雜對二氧化鉿堆疊式閘極P型金氧半場效電晶體其可靠性的影響	藍文廷; Lan Wen-Ting; 黃調元; 簡昭欣
國立交通大學	2014-12-12T02:23:16Z	超淺接面製程及鈦鈷堆疊結構形成矽化鈷之特性研究	陳志遠; Chi-Yuan Chen; 黃調元; 林鴻志; Tiao-Yuan Huang; Horng-Chih Lin
國立交通大學	2014-12-12T02:23:14Z	超薄氧化層崩潰特性之研究	李建源; Chien-Yuan Lee; 黃調元; 林鴻志; Tiao-Yuan Huang; Horng-Chin Lin
國立交通大學	2014-12-12T02:23:14Z	電漿製程對N通道金氧半場效應電晶體之損害效應	林世偉; Syhy-Woei Lin; 黃調元; 林鴻志; Dr. Tiao-Yuan Huang; Dr. Horng-Chih Lin
國立交通大學	2014-12-12T02:20:46Z	電漿處理對低溫複晶矽薄膜電晶體特性和可靠度之影響	楊明瑞; Ming-Rang Yang; 黃調元; Dr. Tiao-Yuan Huang
國立交通大學	2014-12-12T02:20:46Z	製程參數對複晶矽TEOS介電層特性之影響	盧文泰; Wen-Tai Lu; 黃調元; 趙天生; Dr. Tiao-Yuan Huang; Dr. Tien-Sheng Chao

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