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机构	日期	题名	作者
國立中山大學	2007-07-27	Deposition of Polycrystalline AlN Thin Films by Coherent Magnetron Sputtering at Temperature < 80 o	A.K. Chu;C.H. Chao;F.Z. Lee;H.L. Huang
國立中山大學	2006	On-Chip Solenoid Inductors with High Quality Factor for High Frequency Magnetic Integrated Circuits	M.H. Chang;K.H. Lin;J.W. Huang;A.K. Chu
國立中山大學	2005-12	Design of solenoid inductors with high operating frequency for RF integrated circuits	M.H. Chang;K.H. Lin;A.K. Chu
國立中山大學	2005	On the Hardness and Microstructure of AlN Thin Films Prepared by Long-distance Reactive Magnetron Sputtering	F.Z. Lee; C.H. Chao; H.L. Huang; A.K. Chu
國立中山大學	2003	Influences of Bias Voltage on the Crystallographic Orientation of AlN Thin Films Prepared by Long-distance Magnetron Sputtering	A.K. Chu; C.H. Chao; F.Z. Lee; H.L. Huang
國立中山大學	2001	Deposition of Polycrystalline AlN Thin Films by Coherent Magnetron Sputtering at Temperature< 800。C	A.K. Chu; C.H. Chao; F.Z. Lee; H.L. Huang
國立中山大學	2000	High-Dielectric-Constant Ta2O5/GaN Metal-Oxide-Semiconductor Structure	L.W. Tu;W.C. Kuo;K.H. Lee;P.H. Tsao;C.M. Lai;A.K. Chu;J.K. Sheu
國立中山大學	2000	80°C以下低溫以同構磁控濺鍍系統成長多晶氮化鋁薄膜	A.K. Chu;C.H. Chao;F.Z. Lee;H.L. Huang
國立中山大學	1999	Effect of Thermal Stresses on Temperature Dependence of Refractive Index for Ta2O5 Dielectric Films	W.H. Cheng; S.F. Chiu; A.K. Chu
國立中山大學	1999	Microstructure and corrosion resistance of room-temperature RF sputtered Ta2O5 thin Films	A.K. Chu;M.J. Chang;K.Y. Hsieh
國立中山大學	1999	Determination of built-in field by applying fast Fourier transform to the photoreflectance of surface-intrinsic n+-type doped GaAs	D.P. Wang;K.R. Wang;K.F. Hang;T.C. Huang;A.K. Chu
國立中山大學	1999	Room-temperature RF sputtered Ta2O5: a new etch mask for bulk silicon dissolved processes	A.K. Chu;Y.S. Hwang;S.H. Tang
國立中山大學	1999	Effect of modulating field on photoreflectance simulated by electroreflectance	S.J. Chiou;Y.G. Song;D.P. Wang;K.F. Hang;T.C. Huang;A.K. Chu
國立中山大學	1998	High temperature wet chemical etching of Ta2O5 in NaOH solution for fabricating ARROW-type waveguides	M.J. Chuang;K.Y. Hsieh;A.K. Chu
國立中山大學	1997	Characterize Index-Versus-Temperature of Ta2O5 Thin Films	A.K. Chu; H.C. Lin; W.H. Cheng
國立中山大學	1997	Temperature dependence of Fermi level obtained by electroreflectance spectroscopy of undoped n+-type doped GaAs	K.M. Huang;K.L. Wang;D.P. Wang;K.F. Hang;T.C. Huang;A.K. Chu
國立中山大學	1997	Characterization and etching of Ta2O5 thin films on Si by RF magnetron sputtering technique	M.J. Chuang;K.Y. Hsieh;A.K. Chu
國立中山大學	1997	The temperature dependence of refractive index of Ta2O5 dielectric films	A.K. Chu;C.H. Lin;W.H. Cheng
國立中山大學	1996-05	The Dependence of Carrier Lifetime on Spectral Width in Multimode Semiconductor Lasers	W.H. Cheng; A.K. Chu
國立中山大學	1996	On the antiresonance of a microcavity with quarter wave dielectric mirrors	W.T. Lai;H.W. Chang;A.K. Chu
國立中山大學	1995	Multilayer Dielectric of TiO2/Ta2O5/SiO2 for Temperature-Stable Diode Lasers	A.K. Chu; C.J. Lin; W.H. Cheng
國立中山大學	1995	Multilayer dielectric materials of SiOx/Ta2O5/SiO2 for temperature-stable diode lasers	A.K. Chu;C.J. Lin;W.H. Cheng
國立中山大學	1993	Fabrication and characterization of an InP/InGaAs photon transport transistor	A.K. Chu;Y. Gigase;G. Robinson;B. Van Zeghbroeck

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