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机构	日期	题名	作者
國立成功大學	2008-03	An error rate based test methodology to support error-tolerance	Hsieh, Tong-Yu; Lee, Kuen-Jong; Breuer, Melvin A.
國立成功大學	2011-06	An Error-Tolerance-Based Test Methodology to Support Product Grading for Yield Enhancement	Hsieh, Tong-Yu; Lee, Kuen-Jong; Breuer, Melvin A.
國立成功大學	2012-05	Efficient Overdetection Elimination of Acceptable Faults for Yield Improvement	Lee, Kuen-Jong; Hsieh, Tong-Yu; Breuer, Melvin A.

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