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机构 日期 题名 作者
中華大學 2005 The High-Speed Measurement of a Partial Area Imaging System Applied to Photoresist Development Processing 邱奕契; Chiou, Yih-Chih
中華大學 2005 積層陶瓷電容表面瑕疵之檢測與分類 邱奕契; Chiou, Yih-Chih
中華大學 2005 AOI瑕疵檢測應用 邱奕契; Chiou, Yih-Chih
中華大學 2005 應用機器視覺於LCD擴散片之檢測 邱奕契; Chiou, Yih-Chih
中華大學 2005 隨線套標品質檢測系統之開發 邱奕契; Chiou, Yih-Chih
中華大學 2005 表面黏著製程生產即時檢測系統 邱奕契; Chiou, Yih-Chih
中華大學 2005 以機器視覺為基礎之液晶面板點燈檢測 邱奕契; Chiou, Yih-Chih
中華大學 2005 光碟片自動光學檢測系統之研發 邱奕契; Chiou, Yih-Chih
中華大學 2005 Automatic Wear Measurement of Ti-based Coatings Milling via Image Registration 邱奕契; Chiou, Yih-Chih
中華大學 2004 使用特徵匹配與共同資訊之乳房X光影像註記 邱奕契; Chiou, Yih-Chih
中華大學 2004 使用共同資訊及薄板雲形曲線理論之乳房X光影像註記法 邱奕契; Chiou, Yih-Chih
中華大學 2004 線掃瞄機器視覺檢測系統之開發與探討 邱奕契; Chiou, Yih-Chih
中華大學 2004 影像套合於鈦基鍍膜面銑削刀具磨耗的自動量測 邱奕契; Chiou, Yih-Chih
中華大學 2004 以幾何模型比對為基之印刷電路板瑕疵檢測技術 邱奕契; Chiou, Yih-Chih
中華大學 2004 積層陶瓷電容表面瑕疵之檢測與分類 邱奕契; Chiou, Yih-Chih
中華大學 2003 經濟型光學尺對線性運動誤差補償之研究 邱奕契; Chiou, Yih-Chih
中華大學 2003 紋理分析在彩色影像分類上之應用 邱奕契; Chiou, Yih-Chih
中華大學 2003 使用參考比對法之印刷電路板底片缺陷檢測 邱奕契; Chiou, Yih-Chih
中華大學 111-09-20 在課程中導入創新教學法的同時,避免學習成效M型化 邱奕契; Chiou, Yih-Chih

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