臺灣學術機構典藏系統 (Taiwan Academic Institutional Repository, TAIR)

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机构	日期	题名	作者
臺大學術典藏	2018-09-10T07:08:51Z	A Digital boost converter to drive white LEDs	W.-H. Chang;D. Chen;H.-S. Nien;C.-H. Chen; W.-H. Chang; D. Chen; H.-S. Nien; C.-H. Chen; DAN CHEN
臺大學術典藏	2018-09-10T07:08:51Z	A Digital boost converter to drive white LEDs	W.-H. Chang;D. Chen;H.-S. Nien;C.-H. Chen; W.-H. Chang; D. Chen; H.-S. Nien; C.-H. Chen; DAN CHEN
臺大學術典藏	2018-09-10T07:08:51Z	Design and modeling of a novel high-gain peak current control scheme to achieve adaptive voltage positioning for DC power converters	C.-J. Chen;D. Chen;M. Lee;E. K.-L. Tseng; C.-J. Chen; D. Chen; M. Lee; E. K.-L. Tseng; DAN CHEN; CHING-JAN CHEN
臺大學術典藏	2018-09-10T07:08:51Z	Design and modeling of a novel high-gain peak current control scheme to achieve adaptive voltage positioning for DC power converters	C.-J. Chen;D. Chen;M. Lee;E. K.-L. Tseng; C.-J. Chen; D. Chen; M. Lee; E. K.-L. Tseng; DAN CHEN; CHING-JAN CHEN
臺大學術典藏	2018-09-10T07:08:51Z	Small-signal modeling of DC converters with digital peak-current-mode control	H.-S. Nien;D. Chen;W.-H. Chang; H.-S. Nien; D. Chen; W.-H. Chang; DAN CHEN
臺大學術典藏	2018-09-10T07:08:51Z	Small-signal modeling of DC converters with digital peak-current-mode control	H.-S. Nien;D. Chen;W.-H. Chang; H.-S. Nien; D. Chen; W.-H. Chang; DAN CHEN
臺大學術典藏	2018-09-10T07:08:49Z	Use of a Cz Common-Mode Capacitor in Two Wire and Three -Wire Off-Line Supplies	H.-I. Hsieh; L. Huang; T.-C. Lin; D. Chen; DAN CHEN
臺大學術典藏	2018-09-10T07:08:18Z	Breakdown Behavior of 40-nm PD-SOI NMOS Device Considering STI-Induced Mechanical Stress Effect	I. S. Lin;V. C. Su;J. B. Kuo;D. Chen;C. S. Yeh;C. T. Tsai;M. Ma; I. S. Lin; V. C. Su; J. B. Kuo; D. Chen; C. S. Yeh; C. T. Tsai; M. Ma; JAMES-B KUO
臺大學術典藏	2018-09-10T07:08:18Z	Breakdown Behavior of 40-nm PD-SOI NMOS Device Considering STI-Induced Mechanical Stress Effect	I. S. Lin;V. C. Su;J. B. Kuo;D. Chen;C. S. Yeh;C. T. Tsai;M. Ma; I. S. Lin; V. C. Su; J. B. Kuo; D. Chen; C. S. Yeh; C. T. Tsai; M. Ma; JAMES-B KUO
臺大學術典藏	2018-09-10T07:08:18Z	Shallow-trench-isolation (STI)-induced mechanical-stress-related kink-effect behaviors of 40-nm PD SOI NMOS device	I. S. Lin;V. C. Su;J. B. Kuo;R. Lee;G. S. Lin;D. Chen;C. S. Yeh;C. T. Tsai;M. Ma; I. S. Lin; V. C. Su; J. B. Kuo; R. Lee; G. S. Lin; D. Chen; C. S. Yeh; C. T. Tsai; M. Ma; JAMES-B KUO

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