臺灣學術機構典藏系統 (Taiwan Academic Institutional Repository, TAIR)

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機構	日期	題名	作者
臺大學術典藏	2018-09-10T08:18:05Z	Shallow trench isolation-related narrow channel effect on the kink behaviour of 40 nm PD SOI NMOS device	H. J. Hung;J. B. kuo;D. Chen;C. T. Tsai;C. S. Yeh; H. J. Hung; J. B. kuo; D. Chen; C. T. Tsai; C. S. Yeh; JAMES-B KUO
臺大學術典藏	2018-09-10T07:42:21Z	Nondestructive RBSOA Tester for High Power Bipolar Power Transistors	F. C. Lee; D. Chen; DAN CHEN; G. Carpenter; G. Carpenter;F. C. Lee;D. Chen
臺大學術典藏	2018-09-10T07:42:21Z	Nondestructive RBSOA Tester for High Power Bipolar Power Transistors	F. C. Lee; D. Chen; DAN CHEN; G. Carpenter; G. Carpenter;F. C. Lee;D. Chen
臺大學術典藏	2018-09-10T07:42:20Z	Optical laser Analog-to-Digital Converter	S. Reid;D. Chen; S. Reid; D. Chen; DAN CHEN
臺大學術典藏	2018-09-10T07:42:20Z	Optical laser Analog-to-Digital Converter	S. Reid;D. Chen; S. Reid; D. Chen; DAN CHEN
臺大學術典藏	2018-09-10T07:41:38Z	Floating-Body-Effect-Related Gate Tunneling Leakage Current Phenomenon of 40nm PD SOI NMOS Device	H. J. Hung;J. B. Kuo;C. T. Tsai;D. Chen; H. J. Hung; J. B. Kuo; C. T. Tsai; D. Chen; JAMES-B KUO
臺大學術典藏	2018-09-10T07:41:38Z	Floating-Body-Effect-Related Gate Tunneling Leakage Current Phenomenon of 40nm PD SOI NMOS Device	H. J. Hung;J. B. Kuo;C. T. Tsai;D. Chen; H. J. Hung; J. B. Kuo; C. T. Tsai; D. Chen; JAMES-B KUO
臺大學術典藏	2018-09-10T07:41:37Z	Shallow Trench Isolated-Related Narrow Channel Effect on Kink Effect and Breakdown Behavior of 40nm PD SOI NMOS Device	J. I. Lu;H. J. Hung;J. B. Kuo;D. Chen;C. S. Yeh;C. T. Tsai; J. I. Lu; H. J. Hung; J. B. Kuo; D. Chen; C. S. Yeh; C. T. Tsai; JAMES-B KUO
臺大學術典藏	2018-09-10T07:41:37Z	Shallow Trench Isolated-Related Narrow Channel Effect on Kink Effect and Breakdown Behavior of 40nm PD SOI NMOS Device	J. I. Lu;H. J. Hung;J. B. Kuo;D. Chen;C. S. Yeh;C. T. Tsai; J. I. Lu; H. J. Hung; J. B. Kuo; D. Chen; C. S. Yeh; C. T. Tsai; JAMES-B KUO
臺大學術典藏	2018-09-10T07:41:37Z	Floating-body-effect-related gate tunneling leakage current phenomenon of 40nm PD SOI NMOS device	H. J. Hung;J. I. Lu;J. B. Kuo;D. Chen;C. S. Yeh; H. J. Hung; J. I. Lu; J. B. Kuo; D. Chen; C. S. Yeh; JAMES-B KUO

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