臺灣學術機構典藏系統 (Taiwan Academic Institutional Repository, TAIR)

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機構	日期	題名	作者
臺大學術典藏	2018-09-10T07:08:18Z	Shallow-trench-isolation (STI)-induced mechanical-stress-related kink-effect behaviors of 40-nm PD SOI NMOS device	I. S. Lin;V. C. Su;J. B. Kuo;R. Lee;G. S. Lin;D. Chen;C. S. Yeh;C. T. Tsai;M. Ma; I. S. Lin; V. C. Su; J. B. Kuo; R. Lee; G. S. Lin; D. Chen; C. S. Yeh; C. T. Tsai; M. Ma; JAMES-B KUO
臺大學術典藏	2018-09-10T07:08:18Z	STI-Induced Mechanical-Stress-Related Kink Effect of 40nm PD SOI NMOS Devices	I. S. Lin; V. C. Su; J. B. Kuo; D. Chen; C. S. Yeh; C. T. Tsai; M. Ma; JAMES-B KUO
臺大學術典藏	2018-09-10T07:08:18Z	STI-Induced Mechanical Stress-Related Breakdown Behavior of 40nm PD SOI NMOS Devices	J. B. Kuo; D. Chen; C. S. Yeh; C. T. Tsai; M. Ma; JAMES-B KUO
臺大學術典藏	2018-09-10T06:37:18Z	A novel soft-switching bridgeless power factor correction circuit	H.-Y. Tsai; T.-H. Hsia; D. Chen; DAN CHEN
臺大學術典藏	2018-09-10T06:37:17Z	Native AVP Control Method for Constant Output Impedance of DC Power Converters	J. R. Huang; S. C. H. Wang; C. J. Lee; E. K. L. Tseng; D. Chen; DAN CHEN
臺大學術典藏	2018-09-10T06:35:00Z	STI Mechanical Stress Induced Subthreshold Kink Effect of 40nm PD SOI NMOS Devices	J. B. kuo; M. Ma; C. T. Tsai; C. S. Yeh; D. Chen; JAMES-B KUO; I. Lin; V. Su
臺大學術典藏	2018-09-10T06:35:00Z	Influence of STI-induced mechnical stress in kink effect of 65nm PD SOI CMOS devices	I. Lin; V. Su; J. Kuo; R. Lee; G. Lin; D. Chen; C. Yeh; C. Tsai; M. Ma; JAMES-B KUO
臺大學術典藏	2018-09-10T06:02:51Z	Driver chip design considerations for VRM applications	K. B. Chen; D. Chen; J. Liu; S. Juang; DAN CHEN
臺大學術典藏	2018-09-10T06:02:50Z	A novel output voltage dip preventing circuit for synchronous buck converters	P.-Y. Chen; D. Chen; C.-W. Liu; F. Y. Shi; DAN CHEN
臺大學術典藏	2018-09-10T05:27:22Z	Hybrid Power Semiconductor Switch	D. Chen; D. Chen; DAN CHEN

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