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| 國立臺灣大學 |
1998-01 |
Electronic and Atomic Structures of SiCN Thin Film by X-ray Absorption Spectroscopy
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Pong, W. F.; Chang, Y. K.; Hsieh, H. H.; Tsai, M.-H.; Lee, K. H.; Dann, T. E.; Chien, F. Z.; Tseng, P. K.; Tsang, K. L.; Su, W. K.; Chen, L. C.; Wei, S. L.; Chen, K. H.; Bhusari, D. M.; Chen, Y. F. |
| 國立臺灣大學 |
1998 |
Electronic and atomic structures of Si–C–N thin film by X-ray-absorption spectroscopy
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Pong, W. F.; Chang, Y. K.; Hsieh, H. H.; Tsai, M. -H.; Lee, K. H.; Dann, T. E.; Chien, F. Z.; Tseng, P. K.; Tsang, K. L.; Su, W. K.; Chen, L. C.; Wei, S. L.; Chen, K. H.; Bhusari, D. M.; Chen, Y. F. |
| 國立臺灣大學 |
1998 |
Electronic and atomic structures of the Si-C-N thin film by x-ray-absorption spectroscopy and theoretical calculations
|
Chang, Y. K.; Hsieh, H. H.; Pong, W. F.; Tsai, M.-H.; Lee, K. H.; Dann, T. E.; Chien, F. Z.; Tseng, P. K.; Tsang, K. L.; Su, W. K.; Chen, L. C.; Wei, S. L.; Chen, K. H.; Bhusari, D. M.; Chen, Y. F. |
| 臺大學術典藏 |
1998 |
Electronic and atomic structures of the Si-C-N thin film by x-ray-absorption spectroscopy and theoretical calculations
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Hsieh, H.H.; Pong, W.F.; Tsai, M.-H.; Lee, K.H.; Dann, T.E.; Chien, F.Z.; Tseng, P.K.; Tsang, K.L.; Su, W.K.; Chen, L.C.; Wei, S.L.; Chen, K.H.; Bhusari, D.M.; Chen, Y.F.; YANG-FANG CHEN |
| 淡江大學 |
1990 |
Complete first-order raman spectra of RuSe2
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Huang, C. R.; Lee, M. C.; Huang, Y. S.; Lin, S. S.; Dann, T. E.; 錢凡之; Chien, F. Z. |
| 淡江大學 |
1989-05 |
Raman spectrum of IrO2
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Huang, Y. S.; Lin, S. S.; Huang, C. R.; Lee, M. C.; Dann, T. E.; 錢凡之; Chien, F. Z. |
| 淡江大學 |
1988-08 |
An X-ray of Measurement Debye Waller factors of single crystal MoSe2 and WSe2
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錢凡之; Chien, F. Z.; 陳愈生; Chen, Y. S.; 朱永健; Chu, Y. C.; 游文鈺; You, W. Y.; 李俊邦; Lee, J. B.; 但唐諤; Dann, T. E.; 杜昭宏; Tu, C. H.; 黃鶯聲; Huang, Y. S. |
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