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臺大學術典藏 2019-12-27T07:49:48Z Depth profiling the electronic structures at HfO2/Si interface grown by molecular beam epitaxy Lay, T.S.; Chang, S.C.; Din, G.J.; Yeh, C.C.; Hung, W.H.; Lee, W.G.; Kwo, J.; Hong, M.; Lay, T.S.; Chang, S.C.; Din, G.J.; Yeh, C.C.; Hung, W.H.; Lee, W.G.; Kwo, J.; Hong, M.; MINGHWEI HONG
臺大學術典藏 2019-12-27T07:49:48Z Depth profiling the electronic structures at HfO2/Si interface grown by molecular beam epitaxy Lay, T.S.; Chang, S.C.; Din, G.J.; Yeh, C.C.; Hung, W.H.; Lee, W.G.; Kwo, J.; Hong, M.; Lay, T.S.; Chang, S.C.; Din, G.J.; Yeh, C.C.; Hung, W.H.; Lee, W.G.; Kwo, J.; Hong, M.; MINGHWEI HONG

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