English  |  正體中文  |  简体中文  |  Total items :2809329  
Visitors :  26856176    Online Users :  225
Project Commissioned by the Ministry of Education
Project Executed by National Taiwan University Library
 
臺灣學術機構典藏系統 (Taiwan Academic Institutional Repository, TAIR)
About TAIR

Browse By

News

Copyright

Related Links

"doherty f"

Return to Browse by Author
Sorting by Title Sort by Date

Showing items 1-8 of 8  (1 Page(s) Totally)
1 
View [10|25|50] records per page

Institution Date Title Author
臺大學術典藏 2019-12-27T01:16:38Z Testing of surface properties pre-rad and post-rad of n-in-p silicon sensors for very high radiation environment Seidel, S.; Toms, K.; Tsionou, D.; Unno, Y.; Von Wilpert, J.; Wormald, M.; Wright, J.; Yamada, M.; Stathes Paganis; Bohm, J.; Brown, H.; Buttar, C.; Carter, J.R.; Casse, G.; Chen, H.; Chilingarov, A.; Cindro, V.; Clark, A.; Dawson, N.; Dewilde, B.; Doherty, F.; Dolezal, Z.; Eklund, L.; Fadeyev, V.; Ferr?rre, D.; Fox, H.; French, R.; Garc?a, C.; Gerling, M.; Gonzalez Sevilla, S.; Gorelov, I.; Greenall, A.; Grillo, A.A.; Hamasaki, N.; Hara, K.; Hatano, H.; Hoeferkamp, M.; Hommels, L.B.A.; Ikegami, Y.; Jakobs, K.; Kierstead, J.; Kodys, P.; K?hler, M.; Kohriki, T.; Kramberger, G.; Lacasta, C.; Li, Z.; Lynn, D.; Maddock, P.; Mandi?, I.; Martinez-Mckinney, F.; Garcia, S.M.; Maunu, R.; McCarthy, R.; Metcalfe, J.; Mikestikova, M.; Miku?, M.; Mi?ano, M.; Mitsui, S.; O'Shea, V.; Parzefall, U.; Sadrozinski, H.F.-W.; Schamberger, D.; Seiden, A.; Terada, S.; Paganis, S.; Robinson, D.; Puldon, D.; Sattari, S.; Betancourt, C.; Lindgren, S.; Affolder, A.A.; Allport, P.P.; Bates, R.
臺大學術典藏 2019-12-27T01:16:37Z Testing of bulk radiation damage of n-in-p silicon sensors for very high radiation environments Hara, K.;Affolder, A.A.;Allport, P.P.;Bates, R.;Betancourt, C.;Bohm, J.;Brown, H.;Buttar, C.;Carter, J.R.;Casse, G.;Chen, H.;Chilingarov, A.;Cindro, V.;Clark, A.;Dawson, N.;Dewilde, B.;Doherty, F.;Dolezal, Z.;Eklund, L.;Fadeyev, V.;Ferrere, D.;Fox, H.;French, R.;Garc?a, C.;Gerling, M.;Gonzalez Sevilla, S.;Gorelov, I.;Greenall, A.;Grillo, A.A.;Hamasaki, N.;Hatano, H.;Hoeferkamp, M.;Hommels, L.B.A.;Ikegami, Y.;Jakobs, K.;Kierstead, J.;Kodys, P.;K?hler, M.;Kohriki, T.;Kramberger, G.;Lacasta, C.;Li, Z.;Lindgren, S.;Lynn, D.;Maddock, P.;Mandi?, I.;Martinez-Mckinney, F.;Mart? I Garcia, S.;Maunu, R.;McCarthy, R.;Metcalfe, J.;Mikestikova, M.;Miku?, M.;Mi?ano, M.;Mitsui, S.;O'Shea, V.;Parzefall, U.;Sadrozinski, H.F.-W.;Schamberger, D.;Seiden, A.;Terada, S.;Paganis, S.;Robinson, D.;Puldon, D.;Sattari, S.;Seidel, S.;Takahashi, Y.;Toms, K.;Tsionou, D.;Unno, Y.;Von Wilpert, J.;Wormald, M.;Wright, J.;Yamada, M.; Hara, K.; Affolder, A.A.; Allport, P.P.; Bates, R.; Betancourt, C.; Bohm, J.; Brown, H.; Buttar, C.; Carter, J.R.; Casse, G.; Chen, H.; Chilingarov, A.; Cindro, V.; Clark, A.; Dawson, N.; Dewilde, B.; Doherty, F.; Dolezal, Z.; Eklund, L.; Fadeyev, V.; Ferrere, D.; Fox, H.; French, R.; Garc?a, C.; Gerling, M.; Gonzalez Sevilla, S.; Gorelov, I.; Greenall, A.; Grillo, A.A.; Hamasaki, N.; Hatano, H.; Hoeferkamp, M.; Hommels, L.B.A.; Ikegami, Y.; Jakobs, K.; Kierstead, J.; Kodys, P.; K?hler, M.; Kohriki, T.; Kramberger, G.; Lacasta, C.; Li, Z.; Lindgren, S.; Lynn, D.; Maddock, P.; Mandi?, I.; Martinez-Mckinney, F.; Mart? I Garcia, S.; Maunu, R.; McCarthy, R.; Metcalfe, J.; Mikestikova, M.; Miku?, M.; Mi?ano, M.; Mitsui, S.; O'Shea, V.; Parzefall, U.; Sadrozinski, H.F.-W.; Schamberger, D.; Seiden, A.; Terada, S.; Paganis, S.; Robinson, D.; Puldon, D.; Sattari, S.; Seidel, S.; Takahashi, Y.; Toms, K.; Tsionou, D.; Unno, Y.; Von Wilpert, J.; Wormald, M.; Wright, J.; Yamada, M.; Stathes Paganis
臺大學術典藏 2019-12-27T01:16:37Z Testing of bulk radiation damage of n-in-p silicon sensors for very high radiation environments Hara, K.;Affolder, A.A.;Allport, P.P.;Bates, R.;Betancourt, C.;Bohm, J.;Brown, H.;Buttar, C.;Carter, J.R.;Casse, G.;Chen, H.;Chilingarov, A.;Cindro, V.;Clark, A.;Dawson, N.;Dewilde, B.;Doherty, F.;Dolezal, Z.;Eklund, L.;Fadeyev, V.;Ferrere, D.;Fox, H.;French, R.;Garc?a, C.;Gerling, M.;Gonzalez Sevilla, S.;Gorelov, I.;Greenall, A.;Grillo, A.A.;Hamasaki, N.;Hatano, H.;Hoeferkamp, M.;Hommels, L.B.A.;Ikegami, Y.;Jakobs, K.;Kierstead, J.;Kodys, P.;K?hler, M.;Kohriki, T.;Kramberger, G.;Lacasta, C.;Li, Z.;Lindgren, S.;Lynn, D.;Maddock, P.;Mandi?, I.;Martinez-Mckinney, F.;Mart? I Garcia, S.;Maunu, R.;McCarthy, R.;Metcalfe, J.;Mikestikova, M.;Miku?, M.;Mi?ano, M.;Mitsui, S.;O'Shea, V.;Parzefall, U.;Sadrozinski, H.F.-W.;Schamberger, D.;Seiden, A.;Terada, S.;Paganis, S.;Robinson, D.;Puldon, D.;Sattari, S.;Seidel, S.;Takahashi, Y.;Toms, K.;Tsionou, D.;Unno, Y.;Von Wilpert, J.;Wormald, M.;Wright, J.;Yamada, M.; Hara, K.; Affolder, A.A.; Allport, P.P.; Bates, R.; Betancourt, C.; Bohm, J.; Brown, H.; Buttar, C.; Carter, J.R.; Casse, G.; Chen, H.; Chilingarov, A.; Cindro, V.; Clark, A.; Dawson, N.; Dewilde, B.; Doherty, F.; Dolezal, Z.; Eklund, L.; Fadeyev, V.; Ferrere, D.; Fox, H.; French, R.; Garc?a, C.; Gerling, M.; Gonzalez Sevilla, S.; Gorelov, I.; Greenall, A.; Grillo, A.A.; Hamasaki, N.; Hatano, H.; Hoeferkamp, M.; Hommels, L.B.A.; Ikegami, Y.; Jakobs, K.; Kierstead, J.; Kodys, P.; K?hler, M.; Kohriki, T.; Kramberger, G.; Lacasta, C.; Li, Z.; Lindgren, S.; Lynn, D.; Maddock, P.; Mandi?, I.; Martinez-Mckinney, F.; Mart? I Garcia, S.; Maunu, R.; McCarthy, R.; Metcalfe, J.; Mikestikova, M.; Miku?, M.; Mi?ano, M.; Mitsui, S.; O'Shea, V.; Parzefall, U.; Sadrozinski, H.F.-W.; Schamberger, D.; Seiden, A.; Terada, S.; Paganis, S.; Robinson, D.; Puldon, D.; Sattari, S.; Seidel, S.; Takahashi, Y.; Toms, K.; Tsionou, D.; Unno, Y.; Von Wilpert, J.; Wormald, M.; Wright, J.; Yamada, M.; Stathes Paganis
臺大學術典藏 2019-12-27T01:16:37Z Evaluation of the bulk and strip characteristics of large area n-in-p silicon sensors intended for a very high radiation environment Lacasta, C.; Li, Z.; Lindgren, S.; Lynn, D.; Maddock, P.; Mandic, I.; Marti I Garcia, S.; Martinez-Mckinney, F.; Maunu, R.; McCarthy, R.; Metcalfe, J.; Mikuz, M.; Minano, M.; Mitsui, S.; O'Shea, V.; Paganis, S.; Parzefall, U.; Puldon, D.; Robinson, D.; Sadrozinski, H.F.-W.; Sattari, S.; Schamberger, D.; Seidel, S.; Seiden, A.; Soldevila, U.; Terada, S.; Toms, K.; Tsionou, D.; Unno, Y.; Von Wilpert, J.; Wormald, M.; Wright, J.; Yamada, M.; Stathes Paganis; Bohm, J.; Mikestikova, M.; Affolder, A.A.; Allport, P.P.; Bates, R.; Betancourt, C.; Brown, H.; Buttar, C.; Carter, J.R.; Casse, G.; Chen, H.; Chilingarov, A.; Cindro, V.; Clark, A.; Dawson, N.; Dewilde, B.; Doherty, F.; Dolezal, Z.; Eklund, L.; Fadeyev, V.; Ferrere, D.; Fox, H.; French, R.; Garcia, C.; Gerling, M.; Gonzalez Sevilla, S.; Gorelov, I.; Greenall, A.; Grillo, A.A.; Hara, K.; Hatano, H.; Hoeferkamp, M.; Hommels, L.B.A.; Ikegami, Y.; Jakobs, K.; Kierstead, J.; Kodys, P.; K?hler, M.; Kohriki, T.; Krambergen, G.
臺大學術典藏 2018-09-10T08:45:42Z Testing of bulk radiation damage of n-in-p silicon sensors for very high radiation environments Affolder, A.A.; Allport, P.P.; Bates, R.; Betancourt, C.; Bohm, J.; Brown, H.; Buttar, C.; Carter, J.R.; Casse, G.; Chen, H.; Chilingarov, A.; Cindro, V.; Clark, A.; Dawson, N.; Dewilde, B.; Doherty, F.; Dolezal, Z.; Eklund, L.; Fadeyev, V.; Ferrere, D.; Fox, H.; French, R.; Garc\\'ia, C.; Gerling, M.; Gonzalez Sevilla, S.; Gorelov, I.; Greenall, A.; Grillo, A.A.; Hamasaki, N.; Hatano, H.; Hoeferkamp, M.; Hommels, L.B.A.; Ikegami, Y.; Jakobs, K.; Kierstead, J.; Kodys, P.; K\\ohler, M.; Kohriki, T.; Kramberger, G.; Lacasta, C.; Li, Z.; Lindgren, S.; Lynn, D.; Maddock, P.; M; i?, I.; Martinez-Mckinney, F.; Mart\\'i I Garcia, S.; Maunu, R.; McCarthy, R.; Metcalfe, J.; Mikestikova, M.; Miku?, M.; Mi\\~nano, M.; Mitsui, S.; O'Shea, V.; Parzefall, U.; Sadrozinski, H.F.-W.; Schamberger, D.; Seiden, A.; Terada, S.; Paganis, S.; Robinson, D.; Puldon, D.; Sattari, S.; Seidel, S.; Takahashi, Y.; Toms, K.; Tsionou, D.; Unno, Y.; Von Wilpert, J.; Wormald, M.; Wright, J.; Yamada, M.; Hara, K.; Stathes Paganis et al.
臺大學術典藏 2018-09-10T08:45:42Z Testing of surface properties pre-rad and post-rad of n-in-p silicon sensors for very high radiation environment Affolder, A.A.; Allport, P.P.; Bates, R.; Betancourt, C.; Bohm, J.; Brown, H.; Buttar, C.; Carter, J.R.; Casse, G.; Chen, H.; Chilingarov, A.; Cindro, V.; Clark, A.; Dawson, N.; Dewilde, B.; Doherty, F.; Dolezal, Z.; Eklund, L.; Fadeyev, V.; Ferr\\`erre, D.; Fox, H.; French, R.; Garc\\'ia, C.; Gerling, M.; Gonzalez Sevilla, S.; Gorelov, I.; Greenall, A.; Grillo, A.A.; Hamasaki, N.; Hara, K.; Hatano, H.; Hoeferkamp, M.; Hommels, L.B.A.; Ikegami, Y.; Jakobs, K.; Kierstead, J.; Kodys, P.; K\\ohler, M.; Kohriki, T.; Kramberger, G.; Lacasta, C.; Li, Z.; Lynn, D.; Maddock, P.; M; i?, I.; Martinez-Mckinney, F.; Garcia, S.M.; Maunu, R.; McCarthy, R.; Metcalfe, J.; Mikestikova, M.; Miku?, M.; Mi\\~nano, M.; Mitsui, S.; O'Shea, V.; Parzefall, U.; Sadrozinski, H.F.-W.; Schamberger, D.; Seiden, A.; Terada, S.; Paganis, S.; Robinson, D.; Puldon, D.; Sattari, S.; Seidel, S.; Toms, K.; Tsionou, D.; Unno, Y.; Von Wilpert, J.; Wormald, M.; Wright, J.; Yamada, M.; Lindgren, S.; Stathes Paganis et al.
臺大學術典藏 2018-09-10T08:45:41Z Evaluation of the bulk and strip characteristics of large area n-in-p silicon sensors intended for a very high radiation environment Stathes Paganis; Mikestikova, M.; Affolder, A.A.; Allport, P.P.; Bates, R.; Betancourt, C.; Brown, H.; Buttar, C.; Carter, J.R.; Casse, G.; Chen, H.; Chilingarov, A.; Cindro, V.; Clark, A.; Dawson, N.; Dewilde, B.; Doherty, F.; Dolezal, Z.; Eklund, L.; Fadeyev, V.; Ferrere, D.; Fox, H.; French, R.; Garcia, C.; Gerling, M.; Gonzalez Sevilla, S.; Gorelov, I.; Greenall, A.; Grillo, A.A.; Hara, K.; Hatano, H.; Hoeferkamp, M.; Hommels, L.B.A.; Ikegami, Y.; Jakobs, K.; Kierstead, J.; Kodys, P.; K\\ohler, M.; Kohriki, T.; Krambergen, G.; Lacasta, C.; Li, Z.; Lindgren, S.; Lynn, D.; Maddock, P.; M; ic, I.; Marti I Garcia, S.; Martinez-Mckinney, F.; Maunu, R.; McCarthy, R.; Metcalfe, J.; Mikuz, M.; Minano, M.; Mitsui, S.; O'Shea, V.; Paganis, S.; Parzefall, U.; Puldon, D.; Robinson, D.; Sadrozinski, H.F.-W.; Sattari, S.; Schamberger, D.; Seidel, S.; Seiden, A.; Soldevila, U.; Terada, S.; Toms, K.; Tsionou, D.; Unno, Y.; Von Wilpert, J.; Wormald, M.; Wright, J.; Yamada, M.
臺大學術典藏 2018-09-10T07:07:36Z Engineering for the ATLAS SemiConductor Tracker (SCT) End-cap Stathes Paganis; Allport, P.P.; ; erson, B.; ; ricek, L.; Anghinolfi, F.; Apsimon, R.J.; Atkinson, T.; Austin, A.; B; , H.; Barclay, P.; Barr, A.; Batchelor, L.E.; Bates, R.L.; Batley, J.R.; Beck, G.; Becker, H.; Bell, P.; Bell, W.H.; Belymam, A.; Bene?, J.; Bene?, P.; Berbee, E.; Bernabeu, J.; Bethke, S.; Bingefors, N.; Bizzell, J.P.; Blaszczak, Z.J.; Blocki, J.; Bro?, J.; Bohm, J.; Brenner, R.; Brodbeck, T.J.; De Renstrom, P.B.; Buis, R.; Burton, G.; Buskop, J.; Buttar, C.M.; Butterworth, J.M.; Butterworth, S.; Capocci, E.; Carpentieri, C.; Carter, A.A.; Carter, J.R.; Chamizo, M.; Charlton, D.G.; Cheplakov, A.; Chilingarov, A.; Chouridou, S.; Chren, D.; Chu, M.L.; Cindro, V.; Ciocio, A.; Civera, J.V.; Clark, A.; Coe, P.; Colijn, A.P.; Cooke, P.A.; Costa, M.J.; Costanzo, D.; Curtis-Rous, M.; Dabinett, C.; Dabrowski, W.; Dalmau, J.; Danielsen, K.M.; D'Auria, S.; Dawson, I.; De Jong, P.; Dervan, P.; Dobson, E.; Doherty, F.; Dole?al, Z.; Donega, M.; D'Onofrio, M.; Dorholt, O.; Doubrava, M.; Duerdoth, I.P.; Duisters, C.; Duxfield, R.; Dwuznik, M.; Eckert, S.; Eklund, L.; Escobar, C.; Evans, D.L.; Fadeyev, V.; Fasching, D.; Feld, L.; Ferguson, D.P.S.; Ferrari, P.; Ferrere, D.; Fopma, J.; Ford, P.; Fortin, R.; Foster, J.M.; Fox, H.; Fraser, T.J.; Freestone, J.; French, R.S.; Fuster, J.; Gallop, B.J.; Galuska, M.; Gannaway, F.; Garc\\'ia, C.; Garc\\'ia-Navarro, J.E.; Gibson, M.; Gibson, S.; Gnanvo, K.; Godlewski, J.; Gonzalez, F.; Gonzalez-Sevilla, S.; Goodrick, M.J.; Gorfine, G.; Gorisek, A.; Gornicki, E.; Greenall, A.; Greenfield, D.; Gregory, S.; Grillo, A.A.; Grosse-Knetter, J.; Gryska, C.; Haddad, L.; Hara, K.; Harris, M.; Hartjes, F.G.; Hauff, D.; Hawes, B.; Hayler, T.; Haywood, S.J.; Heinemann, F.; Heinzinger, K.; Hessey, N.P.; Heusch, C.; Hicheur, A.; Hill, J.C.; Hodgkinson, M.; Hodgson, P.; Hollins, T.I.; Holt, R.; Homna, J.; Hora?iovsk?, T.; Howell, D.; Hughes, G.; Huse, T.; Ibbotson, M.; Ikegami, Y.; Ilyashenko, I.; Issever, C.; Jak\\'ubek, J.; Jackson, J.N.; Jakobs, K.; Jared, R.C.; Jarron, P.; Johansson, P.; John, D.; Jones, A.; Jones, M.; Jones, T.J.; Joos, D.; Joseph, J.; Jovanovic, P.; Jusko, J.; Jusko, O.; Kaplon, J.; Karagoz-Unel, M.; Ketterer, Ch.; Kody?, P.; Koffeman, E.; Kohout, Z.; Kohriki, T.; Kok, H.; Kondo, T.; Koperny, S.; Korporaal, A.; Koukol, V.; Kr\\'al, V.; Kramberger, G.; Kub\\'ik, P.; Kudlaty, J.; Kuilman, W.; Kundu, N.; Lacasta, C.; Lacuesta, V.; Lau, W.; Lee, S.C.; Leguyt, R.; Leney, K.; Lenz, S.; Lester, C.G.; Liang, Z.; Liebicher, K.; Limper, M.; Lindquist, L.E.; Lindsay, S.; Linhart, V.; Lintern, A.; Locket, C.; Lockwood, M.; Loebinger, F.K.; Lozano, M.; Ludwig, I.; Ludwig, J.; Lutz, G.; Maassen, M.; MacIna, D.; MacPherson, A.; MacWaters, C.; Magrath, C.A.; Malecki, P.; M; i?, I.; Mangin-Brinet, M.; Marshall, G.; Mart\\'i-Garc\\'ia, S.; Martinez-Mckinney, G.F.M.; Matheson, J.P.; McEwan, F.; McMahon, S.J.; McPhail, D.; Meinhardt, J.; Mellado, B.; Mercer, I.J.; Messmer, I.; Mikulec, B.; Miku?, M.; Mima, S.; Mistry, K.; Mitra, A.; Mitsou, V.A.; Modesto, P.; Moed, S.; Mohn, B.; Moles, R.; Moorhead, G.F.; Moreno, B.; Morin, J.; Morris, J.; Moser, H.G.; Moszczynski, A.; Muijs, A.J.M.; Munneke, B.; Murray, W.J.; Muskett, D.; Nacher, J.; Nagai, K.; Naito, D.; Nakano, I.; Nelson, C.; Nichols, A.; Nickerson, R.B.; Nisius, R.; Noviss, J.; Olcese, M.; O'Shea, V.; Oye, O.K.; Paganis, S.; Palmer, M.J.; Parker, M.A.; Parzefall, U.; Pater, J.R.; Pernegger, H.; Perrin, E.; Phillips, A.; Phillips, P.W.; Pieron, J.P.; Poltorak, K.; Posp\\'i?il, S.; Postranecky, M.; Pritchard, T.; Prokofiev, K.; Raine, C.; Ratoff, P.N.; Reitmeijer, A.; ?ezn\\'i?ek, P.; Richter, R.H.; Robichaud-V\\'eronneau, A.; Robinson, D.; Robson, A.; Rodriguez-Oliete, R.; Roe, S.; Rolfe, G.; R\\ovenkamp, J.; Runge, K.; Saavedra, A.; Sadrozinski, H.F.W.; Sanchez, F.J.; S; aker, H.; Schieck, J.; Schuijlenburg, H.; Siegrist, J.; Seiden, A.; Sfyrla, A.; Simm, G.; Slatter, J.; Slav\\'i\\'eek, T.; Smith, B.; Smith, K.M.; Smith, N.A.; Snippe, C.; Snow, S.W.; Solar, M.; Solberg, A.O.; Sopko, B.; Sopko, V.; Sospedra, L.; Southern, G.D.; Sowinski, M.; Spencer, E.; Spieler, H.; Stanecka, E.; Stapnes, S.; Stastny, J.; ?teckl, I.; Stodulski, M.; Strachko, V.; Stradling, A.; Stugu, B.; Sutcliffe, P.; Szczygiel, R.; Takashima, R.; Tanaka, R.; Tappern, G.; Tarrant, J.; Taylor, G.N.; Temple, S.; Teng, P.K.; Terada, S.; Thompson, R.J.; Thresher, N.E.; Titov, M.; Tovey, D.R.; Tratzl, G.; Tricoli, A.; Turala, M.; Turner, P.R.; Tyndel, M.; Ull\\'an, M.; Unno, Y.; Vickey, T.; Vacek, V.; Van Der Kraaij, E.; Van Ovenbeek, M.; Viehhauser, G.; Vu, C.; Villani, E.G.; Vu Anh, T.; Vossebeld, J.H.; Wachler, M.; Wallny, R.; Ward, C.P.; Warren, M.R.M.; Wastie, R.; Weber, M.; Weidberg, A.R.; Weilhammer, P.; Wells, P.S.; Werneke, P.; Wetzel, P.; White, M.J.; Wiesmann, M.; Wilmut, I.; Wilson, J.A.; Wolter, M.; Wormald, M.P.; Wu, S.L.; Wu, X.; Zimmer, J.; Zsenei, A.; Zhu, H.

Showing items 1-8 of 8  (1 Page(s) Totally)
1 
View [10|25|50] records per page