|
|
Taiwan Academic Institutional Repository >
Browse by Author
|
"doležal z"
Showing items 26-35 of 86 (9 Page(s) Totally)
<< < 1 2 3 4 5 6 7 8 9 > >>
View [10|25|50] records per page
| 臺大學術典藏 |
2021-07-21T23:21:05Z |
Measurements of branching fractions and asymmetry parameters of Ξc0→ΛK¯∗0 , Ξc0→Σ0K¯∗0 , and Ξc0→Σ+K∗− decays at Belle
|
Jia, S.; Tang, S. S.; Shen, C. P.; Adachi, I.; Aihara, H.; Al Said, S.; Asner, D. M.; Aulchenko, V.; Aushev, T.; Ayad, R.; Babu, V.; Bahinipati, S.; Behera, P.; Bennett, J.; Bessner, M.; Bilka, T.; Biswal, J.; Bobrov, A.; Bonvicini, G.; Bozek, A.; Bračko, M.; Browder, T. E.; Campajola, M.; Červenkov, D.; Chang, M. C.; Chekelian, V.; Chen, A.; Cheon, B. G.; Chilikin, K.; Cho, H. E.; Cho, K.; Cho, S. J.; Choi, S. K.; Choi, Y.; Choudhury, S.; Cinabro, D.; Cunliffe, S.; Das, S.; De Nardo, G.; Dhamija, R.; Di Capua, F.; Doležal, Z.; Dong, T. V.; Eidelman, S.; Epifanov, D.; Ferber, T.; Flood, K.; Fulsom, B. G.; Garg, R.; Gaur, V.; Gabyshev, N.; Garmash, A.; Giri, A.; Goldenzweig, P.; Hartbrich, O.; Hayasaka, K.; Hayashii, H.; Hou, W. S.; Hsu, C. L.; Iijima, T.; Inami, K.; Ishikawa, A.; Itoh, R.; Iwasaki, M.; Iwasaki, Y.; Jacobs, W. W.; Jin, Y.; Joo, K. K.; Karyan, G.; Kato, Y.; Kichimi, H.; Kim, C. H.; Kim, D. Y.; Kim, K. H.; Kim, S. H.; Kim, Y. K.; Kinoshita, K.; Kodyš, P.; Konno, T.; Korobov, A.; Korpar, S.; Kovalenko, E.; Križan, P.; Kroeger, R.; Krokovny, P.; Kuhr, T.; Kumara, K.; Kuzmin, A.; Kwon, Y. J.; Lalwani, K.; Lange, J. S.; Lee, S. C.; Li, J.; Li, L. K.; Li, Y. B.; Gioi, L. Li; Libby, J.; Lieret, K.; Liventsev, D.; MacQueen, C. |
| 臺大學術典藏 |
2021-07-21T23:21:05Z |
Measurement of the branching fraction of the decay B+ →π+π-ℓ+νℓ in fully reconstructed events at Belle
|
Beleño, C.; Frey, A.; Adachi, I.; Aihara, H.; Asner, D. M.; Atmacan, H.; Aushev, T.; Ayad, R.; Behera, P.; Bennett, J.; Bernlochner, F.; Bhardwaj, V.; Bilka, T.; Biswal, J.; Bonvicini, G.; Bozek, A.; Bračko, M.; Browder, T. E.; Campajola, M.; Červenkov, D.; Chang, P.; Chen, A.; Chilikin, K.; Cho, K.; Choi, Y.; Cinabro, D.; Cunliffe, S.; Dash, N.; Di Capua, F.; Dingfelder, J.; DoleŽal, Z.; Dong, T. V.; Eidelman, S.; Epifanov, D.; Fast, J. E.; Ferber, T.; Fulsom, B. G.; Garg, R.; Gaur, V.; Gabyshev, N.; Garmash, A.; Giri, A.; Goldenzweig, P.; Guan, Y.; Hartbrich, O.; Hayasaka, K.; Hayashii, H.; Hou, W. S.; Inami, K.; Ishikawa, A.; Iwasaki, M.; Jacobs, W. W.; Jeon, H. B.; Jin, Y.; Joo, K. K.; Kiesling, C.; Kim, B. H.; Kim, D. Y.; Kim, K. H.; Kim, S. H.; Kim, Y. K.; Kimmel, T. D.; Kinoshita, K.; Kodyš, P.; Korpar, S.; Kotchetkov, D.; KriŽan, P.; Kroeger, R.; Krokovny, P.; Kuhr, T.; Kulasiri, R.; Kumar, R.; Kuzmin, A.; Kwon, Y. J.; Lalwani, K.; Lee, S. C.; Li, L. K.; Li, Y. B.; Li Gioi, L.; Libby, J.; Lieret, K.; Liventsev, D.; Luo, T.; Macnaughton, J.; Macqueen, C.; Masuda, M.; Matsuda, T.; Merola, M.; Miyabayashi, K.; Mohanty, G. B.; Moon, T. J.; Mori, T.; Mrvar, M.; Nakao, M.; Nisar, N. K.; Nishida, S.; Ogawa, S.; Ono, H.; Oskin, P.; Pakhlov, P. |
| 臺大學術典藏 |
2021-02-02T09:21:35Z |
Search for lepton-number- And baryon-number-violating tau decays at Belle
|
Sahoo, D.; Mohanty, G. B.; Trabelsi, K.; Adachi, I.; Adamczyk, K.; Aihara, H.; Al Said, S.; Asner, D. M.; Aushev, T.; Ayad, R.; Aziz, T.; Babu, V.; Bahinipati, S.; Behera, P.; Bennett, J.; Bessner, M.; Bhardwaj, V.; Bilka, T.; Biswal, J.; Bonvicini, G.; Bozek, A.; Bračko, M.; Browder, T. E.; Campajola, M.; Cao, L.; Červenkov, D.; Chang, M. C.; Chang, P.; Chekelian, V.; Chen, A.; Cheon, B. G.; Chilikin, K.; Cho, H. E.; Cho, K.; Choi, S. K.; Choi, Y.; Choudhury, S.; Cinabro, D.; Cunliffe, S.; Das, S.; Dash, N.; De Nardo, G.; Di Capua, F.; Dingfelder, J.; DoleŽal, Z.; Dong, T. V.; Dubey, S.; Eidelman, S.; Epifanov, D.; Ferber, T.; Ferlewicz, D.; Frey, A.; Fulsom, B. G.; Garg, R.; Gaur, V.; Garmash, A.; Giri, A.; Goldenzweig, P.; Golob, B.; Guan, Y.; Gudkova, K.; Hadjivasiliou, C.; Halder, S.; Hara, T.; Hartbrich, O.; Hayasaka, K.; Hayashii, H.; Hedges, M. T.; Hernandez Villanueva, M.; Hou, W. S.; Hsu, C. L.; Huang, K.; Iijima, T.; Inami, K.; Inguglia, G.; Ishikawa, A.; Itoh, R.; Iwasaki, M.; Iwasaki, Y.; Jacobs, W. W.; Jeon, H. B.; Jia, S.; Jin, Y.; Joo, C. W.; Joo, K. K.; Kaliyar, A. B.; Kang, K. H.; Karyan, G.; Kawasaki, T.; Kichimi, H.; Kiesling, C.; Kim, D. Y.; Kim, S. H.; Kim, Y. K.; Kinoshita, K.; Kodyš, P.; Konno, T.; Korpar, S.; Kotchetkov, D.; KriŽan, P. |
| 臺大學術典藏 |
2021-01-08T06:16:18Z |
Search for B+ -> mu(+)nu(mu) and B+ -> mu N+ with inclusive tagging
|
Prim, M. T.; Bernlochner, F. U.; Prim, F. U. M. T.; Goldenzweig, P.; Heck, M.; Adachi, I; Adamczyk, K.; Aihara, H.; Al Said, S.; Asner, D. M.; Atmacan, H.; Aulchenko, V; Aushev, T.; Ayad, R.; Babu, V; Bakich, A. M.; Bansal, V; Behera, P.; Beleno, C.; Bhardwaj, V; Bhuyan, B.; Bilka, T.; Biswal, J.; Bobrov, A.; Bozek, A.; Bracko, M.; Braun, N.; Browder, T. E.; Campajola, M.; Cao, L.; Cervenkov, D.; Chang, P.; Chekelian, V; Chen, A.; Cheon, B. G.; Chilikin, K.; Cho, H. E.; Cho, K.; Choi, Y.; Choudhury, S.; Cinabro, D.; Cunliffe, S.; Dolezal, Z.; Eidelman, S.; Epifanov, D.; Fast, J. E.; Ferber, T.; Fulsom, B. G.; Garg, R.; Gaur, V; Garmash, A.; Giri, A.; Grzymkowska, O.; Guan, Y.; Haba, J.; Hara, T.; Hayasaka, K.; Hayashii, H.; Hou, W-S; Iijima, T.; Inami, K.; Inguglia, G.; Ishikawa, A.; Iwasaki, M.; Iwasaki, Y.; Jia, S.; Jin, Y.; Joffe, D.; Joo, K. K.; Kaliyar, A. B.; Karyan, G.; Kawasaki, T.; Kichimi, H.; Kiesling, C.; Kim, C. H.; Kim, D. Y.; Kim, K. T.; Kim, S. H.; Kinoshita, K.; Kody, P.; Korpar, S.; Kotchetkov, D.; Krizan, P.; Kroeger, R.; Krokovny, P.; Kuhr, T.; Kulasiri, R.; Kumar, R.; Kumita, T.; Kuzmin, A.; Kwon, Y-J; Lalwani, K.; Lange, J. S.; Lee, I. S.; Lee, J. K.; Lee, J. Y.; Lee, S. C.; Lewis, P.; Li, C. H.; Li Gioi, L.; Libby, J.; Lieret, K.; Liventsev, D.; Lu, P-C; Luo, T.; MacNaughton, J.; Masuda, M.; Matsuda, T.; Matvienko, D.; Merola, M.; Metzner, F.; Miyabayashi, K.; Mizuk, R.; Mohanty, G. B.; Mussa, R.; Nakao, M.; De Nardo, G.; Nath, K. J.; Natkaniec, Z.; Nayak, M.; Niiyama, M.; Nisar, N. K.; Nishida, S.; Nishimura, K.; Ogawa, S.; Ono, H.; Onuki, Y.; Pakhlov, P.; Pakhlova, G.; Pal, B.; Pardi, S.; Park, H.; Park, S-H; Patra, S.; Paul, S.; Pedlar, T. K.; Pestotnik, R.; Piilonen, L. E.; Popov, V; Prencipe, E.; Ritter, M.; Rostomyan, A.; Rozanska, M.; Russo, G.; Sahoo, D.; Sakai, Y.; Santelj, L.; Savinov, V; Schneider, O.; Schnell, G.; Schueler, J.; Schwanda, C.; Seino, Y.; Senyo, K.; Sevior, M. E.; Shebalin, V; Shiu, J-G; Shwartz, B.; Simon, F.; Sokolov, A.; Solovieva, E.; Staric, M.; Strube, J. F.; Sumihama, M.; Sumiyoshi, T.; Sutcliffe, W.; Takizawa, M.; Tamponi, U.; Tao, Y.; Tenchini, F.; Trabelsi, K.; Uchida, M.; Uglov, T.; Unno, Y.; Uno, S.; Ushiroda, Y.; Usov, Y.; Vahsen, S. E.; Van Tonder, R.; Varner, G.; Varvell, K. E.; Vinokurova, A.; Wang, B.; Wang, C. H.; Wang, M-Z; Wang, P.; Watanuki, S.; Won, E.; Yang, S. B.; Ye, H.; Yin, J. H.; Yusa, Y.; Zhang, Z. P.; Zhilich, V; Zhukova, V; Zhulanov, V; WEI-SHU HOU; PAO-TI CHANG; Prim, M. T. et al. |
| 臺大學術典藏 |
2019-12-27T01:16:38Z |
Development of n-on-p silicon sensors for very high radiation environments
|
Jakobs, K.; Kamada, S.; Kierstead, J.; Kodys, P.; Kohler, M.; Kohriki, T.; Kramberger, G.; Lacasta, C.; Li, Z.; Lindgren, S.; Lynn, D.; Mikestikova, M.; Maddock, P.; Mandic, I.; Marti I Garcia, S.; Martinez-Mckinney, F.; Maunu, R.; McCarthy, R.; Metcalfe, J.; Mikuz, M.; Minano, M.; Mitsui, S.; O'Shea, V.; Paganis, S.; Parzefall, U.; Puldon, D.; Robinson, D.; Sadrozinski, H.F.-W.; Sattari, S.; Schamberger, D.; Seidel, S.; Seiden, A.; Terada, S.; Toms, K.; Tsionou, D.; Von Wilpert, J.; Wormald, M.; Wright, J.; Yamada, M.; Yamamura, K.; Stathes Paganis; Unno, Y.; Affolder, A.A.; Allport, P.P.; Bates, R.; Betancourt, C.; Bohm, J.; Brown, H.; Buttar, C.; Carter, J.R.; Casse, G.; Chen, H.; Chilingarov, A.; Cindro, V.; Clark, A.; Dawson, N.; Dewilde, B.; Dolezal, Z.; Eklund, L.; Fadeyev, V.; Ferrere, D.; Fox, H.; French, R.; Garcia, C.; Gerling, M.; Gonzalez Sevilla, S.; Gorelov, I.; Greenall, A.; Grillo, A.A.; Hamasaki, N.; Hara, K.; Hatano, H.; Hoeferkamp, M.; Hommels, L.B.A.; Ikegami, Y. |
| 臺大學術典藏 |
2019-12-27T01:16:38Z |
Testing of surface properties pre-rad and post-rad of n-in-p silicon sensors for very high radiation environment
|
Seidel, S.; Toms, K.; Tsionou, D.; Unno, Y.; Von Wilpert, J.; Wormald, M.; Wright, J.; Yamada, M.; Stathes Paganis; Bohm, J.; Brown, H.; Buttar, C.; Carter, J.R.; Casse, G.; Chen, H.; Chilingarov, A.; Cindro, V.; Clark, A.; Dawson, N.; Dewilde, B.; Doherty, F.; Dolezal, Z.; Eklund, L.; Fadeyev, V.; Ferr?rre, D.; Fox, H.; French, R.; Garc?a, C.; Gerling, M.; Gonzalez Sevilla, S.; Gorelov, I.; Greenall, A.; Grillo, A.A.; Hamasaki, N.; Hara, K.; Hatano, H.; Hoeferkamp, M.; Hommels, L.B.A.; Ikegami, Y.; Jakobs, K.; Kierstead, J.; Kodys, P.; K?hler, M.; Kohriki, T.; Kramberger, G.; Lacasta, C.; Li, Z.; Lynn, D.; Maddock, P.; Mandi?, I.; Martinez-Mckinney, F.; Garcia, S.M.; Maunu, R.; McCarthy, R.; Metcalfe, J.; Mikestikova, M.; Miku?, M.; Mi?ano, M.; Mitsui, S.; O'Shea, V.; Parzefall, U.; Sadrozinski, H.F.-W.; Schamberger, D.; Seiden, A.; Terada, S.; Paganis, S.; Robinson, D.; Puldon, D.; Sattari, S.; Betancourt, C.; Lindgren, S.; Affolder, A.A.; Allport, P.P.; Bates, R. |
| 臺大學術典藏 |
2019-12-27T01:16:37Z |
Testing of bulk radiation damage of n-in-p silicon sensors for very high radiation environments
|
Hara, K.;Affolder, A.A.;Allport, P.P.;Bates, R.;Betancourt, C.;Bohm, J.;Brown, H.;Buttar, C.;Carter, J.R.;Casse, G.;Chen, H.;Chilingarov, A.;Cindro, V.;Clark, A.;Dawson, N.;Dewilde, B.;Doherty, F.;Dolezal, Z.;Eklund, L.;Fadeyev, V.;Ferrere, D.;Fox, H.;French, R.;Garc?a, C.;Gerling, M.;Gonzalez Sevilla, S.;Gorelov, I.;Greenall, A.;Grillo, A.A.;Hamasaki, N.;Hatano, H.;Hoeferkamp, M.;Hommels, L.B.A.;Ikegami, Y.;Jakobs, K.;Kierstead, J.;Kodys, P.;K?hler, M.;Kohriki, T.;Kramberger, G.;Lacasta, C.;Li, Z.;Lindgren, S.;Lynn, D.;Maddock, P.;Mandi?, I.;Martinez-Mckinney, F.;Mart? I Garcia, S.;Maunu, R.;McCarthy, R.;Metcalfe, J.;Mikestikova, M.;Miku?, M.;Mi?ano, M.;Mitsui, S.;O'Shea, V.;Parzefall, U.;Sadrozinski, H.F.-W.;Schamberger, D.;Seiden, A.;Terada, S.;Paganis, S.;Robinson, D.;Puldon, D.;Sattari, S.;Seidel, S.;Takahashi, Y.;Toms, K.;Tsionou, D.;Unno, Y.;Von Wilpert, J.;Wormald, M.;Wright, J.;Yamada, M.; Hara, K.; Affolder, A.A.; Allport, P.P.; Bates, R.; Betancourt, C.; Bohm, J.; Brown, H.; Buttar, C.; Carter, J.R.; Casse, G.; Chen, H.; Chilingarov, A.; Cindro, V.; Clark, A.; Dawson, N.; Dewilde, B.; Doherty, F.; Dolezal, Z.; Eklund, L.; Fadeyev, V.; Ferrere, D.; Fox, H.; French, R.; Garc?a, C.; Gerling, M.; Gonzalez Sevilla, S.; Gorelov, I.; Greenall, A.; Grillo, A.A.; Hamasaki, N.; Hatano, H.; Hoeferkamp, M.; Hommels, L.B.A.; Ikegami, Y.; Jakobs, K.; Kierstead, J.; Kodys, P.; K?hler, M.; Kohriki, T.; Kramberger, G.; Lacasta, C.; Li, Z.; Lindgren, S.; Lynn, D.; Maddock, P.; Mandi?, I.; Martinez-Mckinney, F.; Mart? I Garcia, S.; Maunu, R.; McCarthy, R.; Metcalfe, J.; Mikestikova, M.; Miku?, M.; Mi?ano, M.; Mitsui, S.; O'Shea, V.; Parzefall, U.; Sadrozinski, H.F.-W.; Schamberger, D.; Seiden, A.; Terada, S.; Paganis, S.; Robinson, D.; Puldon, D.; Sattari, S.; Seidel, S.; Takahashi, Y.; Toms, K.; Tsionou, D.; Unno, Y.; Von Wilpert, J.; Wormald, M.; Wright, J.; Yamada, M.; Stathes Paganis |
| 臺大學術典藏 |
2019-12-27T01:16:37Z |
Evaluation of the bulk and strip characteristics of large area n-in-p silicon sensors intended for a very high radiation environment
|
Lacasta, C.; Li, Z.; Lindgren, S.; Lynn, D.; Maddock, P.; Mandic, I.; Marti I Garcia, S.; Martinez-Mckinney, F.; Maunu, R.; McCarthy, R.; Metcalfe, J.; Mikuz, M.; Minano, M.; Mitsui, S.; O'Shea, V.; Paganis, S.; Parzefall, U.; Puldon, D.; Robinson, D.; Sadrozinski, H.F.-W.; Sattari, S.; Schamberger, D.; Seidel, S.; Seiden, A.; Soldevila, U.; Terada, S.; Toms, K.; Tsionou, D.; Unno, Y.; Von Wilpert, J.; Wormald, M.; Wright, J.; Yamada, M.; Stathes Paganis; Bohm, J.; Mikestikova, M.; Affolder, A.A.; Allport, P.P.; Bates, R.; Betancourt, C.; Brown, H.; Buttar, C.; Carter, J.R.; Casse, G.; Chen, H.; Chilingarov, A.; Cindro, V.; Clark, A.; Dawson, N.; Dewilde, B.; Doherty, F.; Dolezal, Z.; Eklund, L.; Fadeyev, V.; Ferrere, D.; Fox, H.; French, R.; Garcia, C.; Gerling, M.; Gonzalez Sevilla, S.; Gorelov, I.; Greenall, A.; Grillo, A.A.; Hara, K.; Hatano, H.; Hoeferkamp, M.; Hommels, L.B.A.; Ikegami, Y.; Jakobs, K.; Kierstead, J.; Kodys, P.; K?hler, M.; Kohriki, T.; Krambergen, G. |
| 臺大學術典藏 |
2019-09-09T00:45:34Z |
Observation of I (2S) →γηb (1S) Decay
|
Goldenzweig, P.; Joffe, D.; Lee, I. S.; Fulsom, B. G.; Epifanov, D.; Kim, H. J.; Jin, Y.; Bonvicini, G.; Haba, J.; Dash, N.; Aulchenko, V.; Biswal, J.; Iwasaki, M.; Korpar, S.; Kim, K. T.; Joo, K. K.; Hayashii, H.; Gaur, V.; Kody?, P.; Badhrees, I.; Eidelman, S.; Dong, T. V.; Guido, E.; Fast, J. E.; Cunliffe, S.; Cao, L.; Kim, D. Y.; Dingfelder, J.; Choi, S. K.; Kawasaki, T.; Berger, M.; Bakich, A. M.; Lee, S. C.; Kwon, Y. J.;Itoh, R.;DoleŽal, Z.;Kiesling, C.;Kuhr, T.;Inguglia, G.;Browder, T. E.;Bračko, M.;Garg, R.;Cho, K.;Bhuyan, B.;Hayasaka, K.;Ayad, R.;KriŽan, P.;Chilikin, K.;Li Gioi, L.;Kinoshita, K.;Giri, A.;Jia, S.;Aihara, H.;Babu, V.;Kim, S. H.;Ishikawa, A.;Kichimi, H.;Krokovny, P.;Kuzmin, A.;Bhardwaj, V.;Aushev, T.;Atmacan, H.;Kotchetkov, D.;Jeon, H. B.;Kim, J. B.;Gelb, M.;Chen, A.;Iijima, T.;Bozek, A.;Pedlar, T. K.;Garmash, A.;Inami, K.;Hirose, S.;Kulasiri, R.;Cinabro, D.;Gabyshev, N.;Choi, Y.;Di Carlo, S.;Al Said, S.;Drásal, Z.;Lange, J. S.;Li, Y. B.;Bondar, A.;Behera, P.;Adachi, I.;Julius, T.;Choudhury, S.;Bilka, T.;Chekelian, V.;Červenkov, D.;Kroeger, R.;Beleño, C.;Bansal, V.;Iwasaki, Y.;Cheon, B. G.;Hou, W. S.;Ferber, T.;Asner, D. M.;Jacobs, W. W.;Li, L. K.;Lee, S. C.;Bakich, A. M.;Berger, M.;Kawasaki, T.;Choi, S. K.;Dingfelder, J.;Kim, D. Y.;Cao, L.;Cunliffe, S.;Fast, J. E.;Guido, E.;Dong, T. V.;Eidelman, S.;Badhrees, I.;Kodyš, P.;Gaur, V.;Hayashii, H.;Joo, K. K.;Kim, K. T.;Korpar, S.;Iwasaki, M.;Biswal, J.;Aulchenko, V.;Dash, N.;Haba, J.;Bonvicini, G.;Jin, Y.;Kim, H. J.;Epifanov, D.;Fulsom, B. G.;Lee, I. S.;Joffe, D.;Goldenzweig, P.; Li, L. K.; Jacobs, W. W.; Asner, D. M.; Ferber, T.; Hou, W. S.; Cheon, B. G.; Iwasaki, Y.; Bansal, V.; Beleno, C.; Kroeger, R.; ?ervenkov, D.; Chekelian, V.; Bilka, T.; Choudhury, S.; Julius, T.; Adachi, I.; Behera, P.; Bondar, A.; Li, Y. B.; Lange, J. S.; Drasal, Z.; Al Said, S.; Di Carlo, S.; Choi, Y.; Gabyshev, N.; Cinabro, D.; Kulasiri, R.; Hirose, S.; Inami, K.; Garmash, A.; Pedlar, T. K.; Bozek, A.; Iijima, T.; Chen, A.; Gelb, M.; Kim, J. B.; Jeon, H. B.; Kotchetkov, D.; Atmacan, H.; Aushev, T.; Bhardwaj, V.; Kuzmin, A.; Krokovny, P.; Kichimi, H.; Ishikawa, A.; Kim, S. H.; Babu, V.; Aihara, H.; Jia, S.; Giri, A.; Kinoshita, K.; Li Gioi, L.; Chilikin, K.; Kri?an, P.; Ayad, R.; Hayasaka, K.; Bhuyan, B.; Cho, K.; Garg, R.; Bra?ko, M.; Browder, T. E.; Inguglia, G.; Kuhr, T.; Kiesling, C.; Dole?al, Z.; Itoh, R.; Kwon, Y. J. |
| 臺大學術典藏 |
2019-09-09T00:41:25Z |
Measurement of the decay B →dℓνℓ in fully reconstructed events and determination of the Cabibbo-Kobayashi-Maskawa matrix element |Vcb |
|
Macnaughton, J.;Liu, Y.;Julius, T.;Goh, Y. M.;Kuzmin, A.;Cheon, B. G.;Browder, T. E.;Masuda, M.;Badhrees, I.;Frey, A.;Kim, J. B.;Chistov, R.;Bozek, A.;Ayad, R.;Ferber, T.;Dash, N.;Gabyshev, N.;Bhuyan, B.;Choi, Y.;Li, Y.;Drutskoy, A.;Li, L.;Joo, K. K.;Kinoshita, K.;Greenwald, D.;Cho, K.;Eidelman, S.;Lukin, P.;Inguglia, G.;Danilov, M.;Chobanova, V.;CHIA-LIN HSU;Asner, D. M.;Iijima, T.;Korpar, S.;Ishikawa, A.;Gillard, R.;Liventsev, D.;Goldenzweig, P.;Kang, K. H.;Bakich, A. M.;Al Said, S.;Adamczyk, K.;Jeon, H. B.;Červenkov, D.;Bansal, V.;Kim, S. H.;Kim, K. T.;Haba, J.;Aziz, T.;Bonvicini, G.;Chekelian, V.;Garmash, A.;Dalseno, J.;Hou, W. S.;Farhat, H.;Miyabayashi, K.;Abdesselam, A.;Kiesling, C.;Kim, M. J.;Kawasaki, T.;Kato, E.;Dutta, D.;Hara, T.;Chen, A.;Chilikin, K.;Glattauer, R.;Hasenbusch, J.;DoleŽal, Z.;Fast, J. E.;Matvienko, D.;Kuhr, T.;Kim, D. Y.;Golob, B.;Hayashii, H.;Inami, K.;Miyata, H.;Krokovny, P.;Hayasaka, K.;Kodyš, P.;Aihara, H.;Cinabro, D.;Libby, J.;Lee, I. S.;KriŽan, P.;Kwon, Y. J.;Gaur, V.;Biswal, J.;Dingfelder, J.;Bračko, M.;Kim, Y. J.;Barberio, E.;Schwanda, C.;Joffe, D.;Kim, J. H.;Fulsom, B. G.;Breibeck, F.;Adachi, I.;Hamer, P.;Aushev, T.; Aushev, T.; Hamer, P.; Adachi, I.; Breibeck, F.; Fulsom, B. G.; Kim, J. H.; Joffe, D.; Schwanda, C.; Barberio, E.; Kim, Y. J.; Bra?ko, M.; Dingfelder, J.; Biswal, J.; Gaur, V.; Kwon, Y. J.; Kri?an, P.; Lee, I. S.; Libby, J.; Cinabro, D.; Aihara, H.; Kody?, P.; Hayasaka, K.; Krokovny, P.; Miyata, H.; Inami, K.; Hayashii, H.; Golob, B.; Kim, D. Y.; Kuhr, T.; Matvienko, D.; Fast, J. E.; Dole?al, Z.; Hasenbusch, J.; Glattauer, R.; Chilikin, K.; Chen, A.; Chobanova, V.; Danilov, M.; Inguglia, G.; Lukin, P.; Eidelman, S.; Cho, K.; Greenwald, D.; Kinoshita, K.; Joo, K. K.; Li, L.; Drutskoy, A.; Li, Y.; Choi, Y.; Bhuyan, B.; Gabyshev, N.; Dash, N.; Ferber, T.; Ayad, R.; Bozek, A.; Chistov, R.; Kim, J. B.; Frey, A.; Badhrees, I.; Masuda, M.; Browder, T. E.; Cheon, B. G.; Kuzmin, A.; Goh, Y. M.; Julius, T.; Liu, Y.; Macnaughton, J. |
Showing items 26-35 of 86 (9 Page(s) Totally)
<< < 1 2 3 4 5 6 7 8 9 > >>
View [10|25|50] records per page
|
