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机构 日期 题名 作者
元智大學 2018-05-20 Key Parameter Identification for Faulty Wafer Detection Using Image Processing Shu-Kai S. Fan; Du-Ming Tsai; Chih-Hung Jen; Rui-Yu Huang; Kuan-Lung Chen
元智大學 2018-05-20 Defect Inspection of Liquid-Crystal-Display (LCD) Panels in Repetitive Pattern Images Using 2D Fourier Image Reconstruction Du-Ming Tsai; Yan-Hsin Tseng; S. K. Morris Fan
元智大學 2017-12-03 Automated Visual Inspection Of Multicrystalline Solar Wafers Using Wavelet Discrimination Measure Du-Ming Tsai; Ching-Hau Peng
元智大學 2017-07-22 Object detection and positioning using fast spiral search Wei-Yao Chiu; Du-Ming Tsai; Morris Fan; Ching-Hau Peng
元智大學 2016-05-10 Optical-flow-based template matching for surface defect detection Du-Ming Tsai; I-Yung Chiang; Wei-Yao Chiu
元智大學 2015-12-08 Automatic crack detection in textured metal surfaces using machine vision Du-Ming Tsai; Yi-Jun Xie; Wei-Yao Chiu
元智大學 2015-05-18 Surface defect detection in low-contrast images using basis image representation Du-Ming Tsai; Tzu-Hsun Tseng ; Wei-Yao Chiu
元智大學 2015-05-18 Surface defect detection in low-contrast images using basis image representation Du-Ming Tsai; Yan-Hsin Tseng; Wei-Yao Chiu
元智大學 2015-02-08 Moving object detection from a mobile robot using basis image matching Du-Ming Tsai; Wei-Yao Chiu; Tzu-Hsun Tseng
元智大學 2015-02-08 Moving object detection from a mobile robot using basis image matching Du-Ming Tsai; Wei-Yao Chiu; Tzu-Hsun Tseng

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