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機構	日期	題名	作者
國立臺灣大學	1998-01	Photoluminescence and Raman Scattering characterization of GaN, InGaN and AlGaN films using a UV Excitation Raman-Photoluminescence microscope	Feng, Z.C.; Schurman, M.; Tran, C.; Salagaj, T.; Karlicek, B.; Ferguson, I.; Stall, R.A.; Dyer, C.D.; Williams, K.P.J.; Pitt, G.D.

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