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机构	日期	题名	作者
臺大學術典藏	2018-09-10T04:59:51Z	ELF-Murphy Data on Defects and Test Sets	E. J. McCluskey; A. Alyamani; J. C. M. Li; C. W. Tseng; E. Volkerink; F. F. Feriani; E. Li; S. Mitra; CHIEN-MO LI

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