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机构	日期	题名	作者
朝陽科技大學	2017-07	Reclaim wafer defect classification using Large-scale BPNs with TensorFlow	Fang-Chih Tien; Mei-Ling Liu; Chun-Yuan Cheng; Chun-Chin Hsu
朝陽科技大學	1997-06	平面圖中機械特性之截取	田方治;鄭純媛; Fang-Chih Tien;Chun-Yuan Cheng
朝陽科技大學	1997-06	雙鏡頭之測量與校正方法	田方治;馬心怡; Fang-Chih Tien;Shin-Yi Ma
朝陽科技大學	1997-06	平面圖中機械特性之截取	田方治;鄭純媛; Fang-Chih Tien;Chun-Yuan Cheng
朝陽科技大學	1997-06	雙鏡頭之測量與校正方法	田方治;馬心怡; Fang-Chih Tien;Shin-Yi Ma

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