|
English
|
正體中文
|
简体中文
|
總筆數 :2853537
|
|
造訪人次 :
45262292
線上人數 :
878
教育部委託研究計畫 計畫執行:國立臺灣大學圖書館
|
|
|
"feng amp z c"的相關文件
顯示項目 1-7 / 7 (共1頁)
1
每頁顯示[10|25|50]項目
| 國立臺灣大學 |
1998-01 |
Spatial characterization of doped SiC wafers by Raman spectroscopy
|
Burton, J.C.; Sun, L.; Pophristic, M.; Long, F.H.; Feng &, Z.C.; Ferguson, I. |
| 國立臺灣大學 |
1996-01 |
The wavequide study and the refractive indices of GaN:Mg epitaxial film
|
Zhang, H.Y.; He, X.H.; Shih, Y.H.; Schurman, M.; Feng &, Z.C.; Stall, R.A. |
| 國立臺灣大學 |
1996-01 |
The study of nonlinear optical effects in GaN:Mg epitaxial film
|
Zhang, H.Y.; He, X.H.; Shih, Y.H.; Schurman, M.; Feng &, Z.C.; Stall, R.A. |
| 國立臺灣大學 |
1994-01 |
Raman, FTIR and surface analyses of porous silicon membranes
|
Feng &, Z.C.; Wee, A.T.S. |
| 國立臺灣大學 |
1988-01 |
Low temperature photoluminescence studies of CVD grown cubic SiC on Si
|
Choyke, W.J.; Feng &, Z.C.; Powell, J.A. |
| 國立臺灣大學 |
1984-01 |
The stresses and photoelastic effects in GaAs-GaAlAs multilayer wafers with masked and selective thermal oxidation structure
|
Liu, H.D.; Feng &, Z.C .; Guo, Z.Z. |
| 國立臺灣大學 |
1983-01 |
Curvature Radius and layer stresses for thermal strain in semiconductor multilayer structures
|
Feng &, Z.C.; Liu, H.D. |
顯示項目 1-7 / 7 (共1頁)
1
每頁顯示[10|25|50]項目
|
