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機構	日期	題名	作者
國立交通大學	2018-08-21T05:53:28Z	The Influence of Annealing Temperature on Amorphous Indium-Zinc-Tungsten Oxide Thin-Film Transistors	Fu, Ruofan; Yang, Jianwen; Chang, Wei-Chiao; Chang, Wei-Cheng; Chang, Chien-Min; Lin, Dong; Zhang, Qun; Liu, Po-Tsun; Shieh, Han-Ping D.

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