臺灣學術機構典藏系統 (Taiwan Academic Institutional Repository, TAIR)

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機構	日期	題名	作者
臺大學術典藏	2020-03-06T03:42:44Z	The D-Day, V-Day, and bleak days of a disruptive technology: A new model for ex-ante evaluation of the timing of technology disruption	Chen C.;Zhang J.;Guo R.-S.; Chen C.; Zhang J.; Guo R.-S.; RUEY-SHAN GUO
臺大學術典藏	2020-03-06T03:42:44Z	Virtual fab: An enabling framework and dynamic manufacturing service provision mechanism	Su Y.-H.; Guo R.-S.; Chang S.-C.; RUEY-SHAN GUO
臺大學術典藏	2020-03-06T03:42:43Z	Run-to-run control schemes for CMP process subject to deterministic drifts	Guo R.-S.; Chen A.; Chen J.-J.; RUEY-SHAN GUO
臺大學術典藏	2020-03-06T03:42:43Z	SHEWMA: an end-of-line SPC scheme using wafer acceptance test data	Fan C.-M.; Guo R.-S.; Chang S.-C.; Wei C.-S.; RUEY-SHAN GUO
臺大學術典藏	2020-03-06T03:42:43Z	SHEWMAC: An end-of-line SPC scheme for joint monitoring of process mean and variance	Fan C.-M.; Chang S.-C.; Guo R.-S.; Kung H.-H.; You J.-C.; Chen H.-P.; Lin S.; Wei J.; RUEY-SHAN GUO
臺大學術典藏	2020-03-06T03:42:43Z	SHEWMAC: An end-of-line SPC scheme via exponentially weighted moving statistics	Fan C.-M.; Chang S.-C.; Guo R.-S.; Kung H.-H.; You J.-C.; Chen H.-P.; Lin S.; Wei C.-S.; RUEY-SHAN GUO
臺大學術典藏	2020-03-06T03:42:43Z	Supply chain inventory control in semiconductor manufacturing	Guo R.-S.;Chiang D.;Yang P.-C.; Guo R.-S.; Chiang D.; Yang P.-C.; RUEY-SHAN GUO
臺大學術典藏	2020-03-06T03:42:42Z	Partner selection model for design chain collaboration	Chen J.-Y.;Chiang D.M.-H.;Guo R.-S.; Chen J.-Y.; Chiang D.M.-H.; Guo R.-S.; RUEY-SHAN GUO
臺大學術典藏	2020-03-06T03:42:42Z	Process Control System for VLSI Fabrication	Sachs E.; Guo R.-S.; Ha S.; Hu A.; RUEY-SHAN GUO
臺大學術典藏	2020-03-06T03:42:42Z	Results of An Implant Masking Integrated Workcall in A Development Facility	Griffin R.;Guo R.-S.;Slama M.; Griffin R.; Guo R.-S.; Slama M.; RUEY-SHAN GUO

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