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機構	日期	題名	作者
國立交通大學	2014-12-08T15:44:13Z	Characterization of hot-hole injection induced SILC and related disturbs in flash memories	Yih, CM; Ho, ZH; Liang, MS; Chung, SS
國立交通大學	2014-12-08T15:26:55Z	N-channel versus P-channel flash EEPROM - Which one has better reliabilities	Chung, SS; Liaw, ST; Yih, CM; Ho, ZH; Lin, CJ; Kuo, DS; Liang, MS

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