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机构	日期	题名	作者
臺大學術典藏	2020-06-29T01:20:10Z	Test Generation of Path Delay Faults Induced by Defects in Power TSV.	Shih, Chi-Jih;Hsieh, Shih-An;Lu, Yi-Chang;Li, James Chien-Mo;Wu, Tzong-Lin;Chakrabarty, Krishnendu; Shih, Chi-Jih; Hsieh, Shih-An; Lu, Yi-Chang; Li, James Chien-Mo; Wu, Tzong-Lin; Chakrabarty, Krishnendu; CHIEN-MO LI
國立臺灣大學	2014	DR-scan: 針對雙軌非同步電路的測試技術	謝詩安; Hsieh, Shih-An

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