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机构 日期 题名 作者
國立成功大學 2014-12 Efficient LFSR Reseeding Based on Internal-Response Feedback Lien, Wei-Cheng; Lee, Kuen-Jong; Hsieh, Tong-Yu; Chakrabarty, Krishnendu
國立成功大學 2013-08 An Efficient On-Chip Test Generation Scheme Based on Programmable and Multiple Twisted-Ring Counters Lien, Wei-Cheng; Lee, Kuen-Jong; Hsieh, Tong-Yu; Ang, Wee-Lung
國立成功大學 2013-01 Counter-Based Output Selection for Test Response Compaction Lien, Wei-Cheng; Lee, Kuen-Jong; Hsieh, Tong-Yu; Chakrabarty, Krishnendu; Wu, Yu-Hua
國立成功大學 2012-11-22 A Test-Per-Clock LFSR Reseeding Algorithm for Concurrent Reduction on Test Sequence Length and Test Data Volume Lien, Wei-Cheng; Lee, Kuen-Jong; Hsieh, Tong-Yu
國立成功大學 2012-05 Efficient Overdetection Elimination of Acceptable Faults for Yield Improvement Lee, Kuen-Jong; Hsieh, Tong-Yu; Breuer, Melvin A.
國立成功大學 2011-10 Test Response Compaction via Output Bit Selection Lee, Kuen-Jong; Lien, Wei-Cheng; Hsieh, Tong-Yu
國立成功大學 2011-06 An Error-Tolerance-Based Test Methodology to Support Product Grading for Yield Enhancement Hsieh, Tong-Yu; Lee, Kuen-Jong; Breuer, Melvin A.
國立成功大學 2009-07-20 可有效提升良率之容誤技術理論與應用 謝東佑; Hsieh, Tong-Yu
國立成功大學 2008-03 An error rate based test methodology to support error-tolerance Hsieh, Tong-Yu; Lee, Kuen-Jong; Breuer, Melvin A.

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