臺灣學術機構典藏系統 (Taiwan Academic Institutional Repository, TAIR)

關於TAIR
	計畫說明

"huang lu shiang"的相關文件

回到依作者瀏覽
依題名排序	依日期排序

顯示項目 1-1 / 1 (共1頁)
1
每頁顯示[10|25|50]項目

機構	日期	題名	作者
國立成功大學	2008-11-21	Effect of hot carrier stress on RF reliability of 40 nm PMOSFETs with and without SiGe source/drain	Tang, Mao-Chyuan; Fang, Yean-Kuen; Wei, Sun-Chin; Chen, David C.; Yeh, Chune-Sin; Huang-Lu, Shiang

顯示項目 1-1 / 1 (共1頁)
1
每頁顯示[10|25|50]項目

	English \| 正體中文 \| 简体中文 \| Total items :2856704
	Visitors : 53634274 Online Users : 1566 Project Commissioned by the Ministry of Education Project Executed by National Taiwan University Library