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机构 日期 题名 作者
國立交通大學 2017-04-21T06:49:16Z Testing Methods for Quaternary Content Addressable Memory Using Charge-Sharing Sensing Scheme Yang, Hao-Yu; Huang, Rei-Fu; Su, Chin-Lung; Lin, Kuan-Hong; Shu, Hang-Kaung; Peng, Chi-Wei; Chao, Mango C. -T.
國立交通大學 2017-04-21T06:48:33Z Alternate Hammering Test for Application-Specific DRAMs and an Industrial Case Study Huang, Rei-Fu; Yang, Hao-Yu; Chao, Mango C. -T.; Lin, Shih-Chin
國立交通大學 2014-12-08T15:36:45Z Testing Methods for a Write-Assist Disturbance-Free Dual-Port SRAM Yang, Hao-Yu; Lin, Chen-Wei; Huang, Chao-Ying; Lu, Ching-Ho; Lai, Chen-An; Chao, Mango C. -T.; Huang, Rei-Fu
國立交通大學 2014-12-08T15:32:45Z Fault Models and Test Methods for Subthreshold SRAMs Lin, Chen-Wei; Chen, Hung-Hsin; Yang, Hao-Yu; Chao, Mango C-T; Huang, Rei-Fu
國立交通大學 2014-12-08T15:29:08Z Fault Models and Test Methods for Subthreshold SRAMs Lin, Chen-Wei; Chen, Hung-Hsin; Yang, Hao-Yu; Huang, Chin-Yuan; Chao, Mango C. -T.; Huang, Rei-Fu
國立交通大學 2014-12-08T15:23:46Z Testing Methodology of Embedded DRAMs Yang, Hao-Yu; Chang, Chi-Min; Chao, Mango C. -T.; Huang, Rei-Fu; Lin, Shih-Chin
國立交通大學 2014-12-08T15:19:21Z Fault Models for Embedded-DRAM Macros Chao, Mango C. -T.; Yang, Hao-Yu; Huang, Rei-Fu; Lin, Shih-Chin; Chin, Ching-Yu
國立交通大學 2014-12-08T15:04:25Z Testing Methodology of Embedded DRAMs Chang, Chi-Min; Chao, Mango C. -T.; Huang, Rei-Fu; Chen, Ding-Yuan

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