English  |  正體中文  |  简体中文  |  總筆數 :0  
造訪人次 :  52745138    線上人數 :  698
教育部委託研究計畫      計畫執行:國立臺灣大學圖書館
 
臺灣學術機構典藏系統 (Taiwan Academic Institutional Repository, TAIR)
關於TAIR

瀏覽

消息

著作權

相關連結

"huang tsung yi"的相關文件

回到依作者瀏覽
依題名排序 依日期排序

顯示項目 1-8 / 8 (共1頁)
1 
每頁顯示[10|25|50]項目

機構 日期 題名 作者
高雄醫學大學 2014 Inguinoscrotal herniation of bladder: case series and literature review  李宗熹;黃俊農;黃書彬;黃琮懿;張美玉;沈榮宗;吳文正;阮雍順; Lee, Tsung-Hsi;Huang, Chun-Nung;Huang, Shu-Pin;Huang, Tsung-Yi;Jang, Mei-Yu;Shen, Jung-Tsung;Wu, Wen-Jeng;Juan, Yung-Shun
高雄醫學大學 2011 Giant condyloma acuminatum of penis with cancer transformation 阮序承;沈茂昌;黃琮懿;吳俊杰;黃書彬;李永進;吳文正;王起杰;黃俊雄;劉家駒; Juan, Hsu-Cheng;Sheen, Maw-Chang;Huang, Tsung-Yi;Wu, Chun-Chieh;Huang, Shu-Pin;Lee, Yung-Chin;Wu, Wen-Jeng;Wang, Chii-Jye;Huang, Chun-Hsiung;Liu, Chia-Chu
國立成功大學 2008-08 Mechanism and improvement of on-resistance degradation induced by avalanche breakdown in lateral DMOS transistors Chen, Jone F.; Lee, J. R.; Wu, Kuo-Ming; Huang, Tsung-Yi; Liu, C. A.
國立成功大學 2008-07 Effect of drift-region concentration on hot-carrier-induced R-on degradation in nLDMOS transistors Chen, Jone F.; Lee, J. R.; Wu, Kuo-Ming; Huang, Tsung-Yi; Liu, C. M.
國立成功大學 2008-04 An investigation on hot-carrier reliability and degradation index in lateral diffused metal-oxide-semiconductor field-effect transistors Tian, Kuen-Shiuan; Chen, Jone F.; Chen, Shiang-Yu; Wu, Kuo-Ming; Lee, J. R.; Huang, Tsung-Yi; Liu, C. A.; Hsu, S. L.
國立成功大學 2008-03-17 Anomalous increase in hot-carrier-induced threshold voltage shift in n-type drain extended metal-oxide-semiconductor transistors Chen, Jone F.; Chen, Shiang-Yu; Lee, J. R.; Wu, Kuo-Ming; Huang, Tsung-Yi; Liu, C. M.
國立成功大學 2007-11 OFF-state avalanche-breakdown-induced ON-resistance degradation in lateral DMOS transistors Chen, Jone-Fang; Lee, J. R.; Wu, Kuo-Ming; Huang, Tsung-Yi; Liu, C. M.; Hsu, S. L.
國立臺灣大學 1986 瓦解性別差異:女性主義論述中扮裝、雌雄同體與女同性戀主義之重新嵌入 黃宗儀; Huang, Tsung-Yi

顯示項目 1-8 / 8 (共1頁)
1 
每頁顯示[10|25|50]項目