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机构 日期 题名 作者
國立交通大學 2018-08-21T05:54:14Z A study of electromigration behaviors of Ge2Sb2Te5 chalcogenide nano-strips subjected to pulse bias Huang, Yin-Hsien; Hsieh, Tsung-Eong
國立交通大學 2018-08-21T05:53:49Z Evaluation of the thermal conductance of flip-chip bonding structure utilizing the measurement based on Fourier's law of heat conduction at steady-state Wu, Chia-Yu; Huang, Yin-Hsien; Wu, Hsin-Han; Hsieh, Tsung-Eong
國立交通大學 2015-11-26T01:06:55Z 以3ω法量測相變化薄膜熱傳導性質與其交流阻抗特性之研究 黃胤諴; Huang, Yin-Hsien; 謝宗雍; Hsieh, Tsung-Eong
國立交通大學 2015-11-26T00:55:36Z 硫族合金薄膜之電遷移行為及其熱性質對相變化記憶體操作性質之研究 黃胤諴; Huang, Yin-Hsien; 謝宗雍; Hsieh, Tsung-Eong
國立交通大學 2015-07-21T08:29:44Z Effective thermal parameters of chalcogenide thin films and simulation of phase-change memory Huang, Yin-Hsien; Hsieh, Tsung-Eong
國立交通大學 2015-07-21T08:28:58Z Forming-free, bi-directional polarity conductive-bridge memory devices with Ge2Sb2Te5 solid-state electrolyte and Ag active electrode Huang, Yin-Hsien; Chen, Hsuan-An; Wu, Hsin-Han; Hsieh, Tsung-Eong
國立交通大學 2014-12-08T15:32:14Z Electromigration behaviors of Ge2Sb2Te5 chalcogenide thin films under DC bias Huang, Yin-Hsien; Hang, Chi-Hang; Huang, Yu-Jen; Hsieh, Tsung-Eong
國立交通大學 2014-12-08T15:23:34Z A study of phase transition behaviors of chalcogenide layers using in situ alternative-current impedance spectroscopy Huang, Yin-Hsien; Huang, Yu-Jen; Hsieh, Tsung-Eong

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