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| 國立臺灣大學 |
1992-07 |
Performance prediction and function recovery of CMOS circuits damaged by Co-60 irradiation
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Chang-Liao, K.-S.; Hwu, J.-G. |
| 國立臺灣大學 |
1990-10 |
Electrical characterisation of the insulating property of Ta2O5 in Al-Ta2O5-SiO2-Si capacitors by a low-frequency
|
Hwu, J.-G.; Lin, S.-T. |
| 臺大學術典藏 |
1990-10 |
Electrical characterisation of the insulating property of Ta2O5 in Al-Ta2O5-SiO2-Si capacitors by a low-frequency
|
Hwu, J.-G.; Lin, S.-T.; Hwu, J.-G.; Lin, S.-T.; HwuJG |
| 國立臺灣大學 |
1986 |
Effect of interface traps related to mobile charges on silicon n-channel metal/oxide/semiconductor field effect transistors determined by a charge-temperature technique
|
Hwu, J.G.; Lin, C.M.; Wang, W.S. |
| 國立臺灣大學 |
1985 |
Impurity-related interface trap in an Al/SiO2/Si(P) capacitor
|
Hwu, J.G.; Hwang, J.Z.; Chiou, Y.L. |
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