臺灣學術機構典藏系統 (Taiwan Academic Institutional Repository, TAIR)

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机构	日期	题名	作者
國立成功大學	2020-12	Suppression of Edge Effect Induced by Positive Gate Bias Stress in Low-Temperature Polycrystalline Silicon TFTs With Channel Width Extension Over Source/Drain Regions	Wang;Yu-Xuan;Tai;Mao-Chou;Chang;Ting-Chang;Huang;Shin-Ping;Zheng;Yu-Zhe;Wu;Chia-Chuan;Shih;Yu-Shan;Chen;Yu-An;Sun;Pei-Jun;Lu;I-Nien;Huang;Hui-Chun;Sze;Simon, M.
國立成功大學	2020-03	Impact of Gate Size on Abnormal Current Rise Under an Electric Field in Organic Thin-Film Transistors	Chen;Hong-Chih;Chen;Guan-Fu;Chen;Jian-Jie;Kuo;Chuan-Wei;Zhou;Kuan-Ju;Tu;Yu-Fa;Lu;I-Nien;Shih;Yu-Shan;Sun;Li-Chuan;Huang;Hui-Chun;Wu;Wen-Chi;Lai;Wei-Chih;Chang;Ting-Chang

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