|
|
???tair.name??? >
???browser.page.title.author???
|
"ikegami y"???jsp.browse.items-by-author.description???
Showing items 1-9 of 9 (1 Page(s) Totally)
1
View [10|25|50] records per page
| 臺大學術典藏 |
2019-12-27T01:16:38Z |
Development of n-on-p silicon sensors for very high radiation environments
|
Jakobs, K.; Kamada, S.; Kierstead, J.; Kodys, P.; Kohler, M.; Kohriki, T.; Kramberger, G.; Lacasta, C.; Li, Z.; Lindgren, S.; Lynn, D.; Mikestikova, M.; Maddock, P.; Mandic, I.; Marti I Garcia, S.; Martinez-Mckinney, F.; Maunu, R.; McCarthy, R.; Metcalfe, J.; Mikuz, M.; Minano, M.; Mitsui, S.; O'Shea, V.; Paganis, S.; Parzefall, U.; Puldon, D.; Robinson, D.; Sadrozinski, H.F.-W.; Sattari, S.; Schamberger, D.; Seidel, S.; Seiden, A.; Terada, S.; Toms, K.; Tsionou, D.; Von Wilpert, J.; Wormald, M.; Wright, J.; Yamada, M.; Yamamura, K.; Stathes Paganis; Unno, Y.; Affolder, A.A.; Allport, P.P.; Bates, R.; Betancourt, C.; Bohm, J.; Brown, H.; Buttar, C.; Carter, J.R.; Casse, G.; Chen, H.; Chilingarov, A.; Cindro, V.; Clark, A.; Dawson, N.; Dewilde, B.; Dolezal, Z.; Eklund, L.; Fadeyev, V.; Ferrere, D.; Fox, H.; French, R.; Garcia, C.; Gerling, M.; Gonzalez Sevilla, S.; Gorelov, I.; Greenall, A.; Grillo, A.A.; Hamasaki, N.; Hara, K.; Hatano, H.; Hoeferkamp, M.; Hommels, L.B.A.; Ikegami, Y. |
| 臺大學術典藏 |
2019-12-27T01:16:38Z |
Testing of surface properties pre-rad and post-rad of n-in-p silicon sensors for very high radiation environment
|
Seidel, S.; Toms, K.; Tsionou, D.; Unno, Y.; Von Wilpert, J.; Wormald, M.; Wright, J.; Yamada, M.; Stathes Paganis; Bohm, J.; Brown, H.; Buttar, C.; Carter, J.R.; Casse, G.; Chen, H.; Chilingarov, A.; Cindro, V.; Clark, A.; Dawson, N.; Dewilde, B.; Doherty, F.; Dolezal, Z.; Eklund, L.; Fadeyev, V.; Ferr?rre, D.; Fox, H.; French, R.; Garc?a, C.; Gerling, M.; Gonzalez Sevilla, S.; Gorelov, I.; Greenall, A.; Grillo, A.A.; Hamasaki, N.; Hara, K.; Hatano, H.; Hoeferkamp, M.; Hommels, L.B.A.; Ikegami, Y.; Jakobs, K.; Kierstead, J.; Kodys, P.; K?hler, M.; Kohriki, T.; Kramberger, G.; Lacasta, C.; Li, Z.; Lynn, D.; Maddock, P.; Mandi?, I.; Martinez-Mckinney, F.; Garcia, S.M.; Maunu, R.; McCarthy, R.; Metcalfe, J.; Mikestikova, M.; Miku?, M.; Mi?ano, M.; Mitsui, S.; O'Shea, V.; Parzefall, U.; Sadrozinski, H.F.-W.; Schamberger, D.; Seiden, A.; Terada, S.; Paganis, S.; Robinson, D.; Puldon, D.; Sattari, S.; Betancourt, C.; Lindgren, S.; Affolder, A.A.; Allport, P.P.; Bates, R. |
| 臺大學術典藏 |
2019-12-27T01:16:37Z |
Testing of bulk radiation damage of n-in-p silicon sensors for very high radiation environments
|
Hara, K.;Affolder, A.A.;Allport, P.P.;Bates, R.;Betancourt, C.;Bohm, J.;Brown, H.;Buttar, C.;Carter, J.R.;Casse, G.;Chen, H.;Chilingarov, A.;Cindro, V.;Clark, A.;Dawson, N.;Dewilde, B.;Doherty, F.;Dolezal, Z.;Eklund, L.;Fadeyev, V.;Ferrere, D.;Fox, H.;French, R.;Garc?a, C.;Gerling, M.;Gonzalez Sevilla, S.;Gorelov, I.;Greenall, A.;Grillo, A.A.;Hamasaki, N.;Hatano, H.;Hoeferkamp, M.;Hommels, L.B.A.;Ikegami, Y.;Jakobs, K.;Kierstead, J.;Kodys, P.;K?hler, M.;Kohriki, T.;Kramberger, G.;Lacasta, C.;Li, Z.;Lindgren, S.;Lynn, D.;Maddock, P.;Mandi?, I.;Martinez-Mckinney, F.;Mart? I Garcia, S.;Maunu, R.;McCarthy, R.;Metcalfe, J.;Mikestikova, M.;Miku?, M.;Mi?ano, M.;Mitsui, S.;O'Shea, V.;Parzefall, U.;Sadrozinski, H.F.-W.;Schamberger, D.;Seiden, A.;Terada, S.;Paganis, S.;Robinson, D.;Puldon, D.;Sattari, S.;Seidel, S.;Takahashi, Y.;Toms, K.;Tsionou, D.;Unno, Y.;Von Wilpert, J.;Wormald, M.;Wright, J.;Yamada, M.; Hara, K.; Affolder, A.A.; Allport, P.P.; Bates, R.; Betancourt, C.; Bohm, J.; Brown, H.; Buttar, C.; Carter, J.R.; Casse, G.; Chen, H.; Chilingarov, A.; Cindro, V.; Clark, A.; Dawson, N.; Dewilde, B.; Doherty, F.; Dolezal, Z.; Eklund, L.; Fadeyev, V.; Ferrere, D.; Fox, H.; French, R.; Garc?a, C.; Gerling, M.; Gonzalez Sevilla, S.; Gorelov, I.; Greenall, A.; Grillo, A.A.; Hamasaki, N.; Hatano, H.; Hoeferkamp, M.; Hommels, L.B.A.; Ikegami, Y.; Jakobs, K.; Kierstead, J.; Kodys, P.; K?hler, M.; Kohriki, T.; Kramberger, G.; Lacasta, C.; Li, Z.; Lindgren, S.; Lynn, D.; Maddock, P.; Mandi?, I.; Martinez-Mckinney, F.; Mart? I Garcia, S.; Maunu, R.; McCarthy, R.; Metcalfe, J.; Mikestikova, M.; Miku?, M.; Mi?ano, M.; Mitsui, S.; O'Shea, V.; Parzefall, U.; Sadrozinski, H.F.-W.; Schamberger, D.; Seiden, A.; Terada, S.; Paganis, S.; Robinson, D.; Puldon, D.; Sattari, S.; Seidel, S.; Takahashi, Y.; Toms, K.; Tsionou, D.; Unno, Y.; Von Wilpert, J.; Wormald, M.; Wright, J.; Yamada, M.; Stathes Paganis |
| 臺大學術典藏 |
2019-12-27T01:16:37Z |
Testing of bulk radiation damage of n-in-p silicon sensors for very high radiation environments
|
Hara, K.;Affolder, A.A.;Allport, P.P.;Bates, R.;Betancourt, C.;Bohm, J.;Brown, H.;Buttar, C.;Carter, J.R.;Casse, G.;Chen, H.;Chilingarov, A.;Cindro, V.;Clark, A.;Dawson, N.;Dewilde, B.;Doherty, F.;Dolezal, Z.;Eklund, L.;Fadeyev, V.;Ferrere, D.;Fox, H.;French, R.;Garc?a, C.;Gerling, M.;Gonzalez Sevilla, S.;Gorelov, I.;Greenall, A.;Grillo, A.A.;Hamasaki, N.;Hatano, H.;Hoeferkamp, M.;Hommels, L.B.A.;Ikegami, Y.;Jakobs, K.;Kierstead, J.;Kodys, P.;K?hler, M.;Kohriki, T.;Kramberger, G.;Lacasta, C.;Li, Z.;Lindgren, S.;Lynn, D.;Maddock, P.;Mandi?, I.;Martinez-Mckinney, F.;Mart? I Garcia, S.;Maunu, R.;McCarthy, R.;Metcalfe, J.;Mikestikova, M.;Miku?, M.;Mi?ano, M.;Mitsui, S.;O'Shea, V.;Parzefall, U.;Sadrozinski, H.F.-W.;Schamberger, D.;Seiden, A.;Terada, S.;Paganis, S.;Robinson, D.;Puldon, D.;Sattari, S.;Seidel, S.;Takahashi, Y.;Toms, K.;Tsionou, D.;Unno, Y.;Von Wilpert, J.;Wormald, M.;Wright, J.;Yamada, M.; Hara, K.; Affolder, A.A.; Allport, P.P.; Bates, R.; Betancourt, C.; Bohm, J.; Brown, H.; Buttar, C.; Carter, J.R.; Casse, G.; Chen, H.; Chilingarov, A.; Cindro, V.; Clark, A.; Dawson, N.; Dewilde, B.; Doherty, F.; Dolezal, Z.; Eklund, L.; Fadeyev, V.; Ferrere, D.; Fox, H.; French, R.; Garc?a, C.; Gerling, M.; Gonzalez Sevilla, S.; Gorelov, I.; Greenall, A.; Grillo, A.A.; Hamasaki, N.; Hatano, H.; Hoeferkamp, M.; Hommels, L.B.A.; Ikegami, Y.; Jakobs, K.; Kierstead, J.; Kodys, P.; K?hler, M.; Kohriki, T.; Kramberger, G.; Lacasta, C.; Li, Z.; Lindgren, S.; Lynn, D.; Maddock, P.; Mandi?, I.; Martinez-Mckinney, F.; Mart? I Garcia, S.; Maunu, R.; McCarthy, R.; Metcalfe, J.; Mikestikova, M.; Miku?, M.; Mi?ano, M.; Mitsui, S.; O'Shea, V.; Parzefall, U.; Sadrozinski, H.F.-W.; Schamberger, D.; Seiden, A.; Terada, S.; Paganis, S.; Robinson, D.; Puldon, D.; Sattari, S.; Seidel, S.; Takahashi, Y.; Toms, K.; Tsionou, D.; Unno, Y.; Von Wilpert, J.; Wormald, M.; Wright, J.; Yamada, M.; Stathes Paganis |
| 臺大學術典藏 |
2019-12-27T01:16:37Z |
Evaluation of the bulk and strip characteristics of large area n-in-p silicon sensors intended for a very high radiation environment
|
Lacasta, C.; Li, Z.; Lindgren, S.; Lynn, D.; Maddock, P.; Mandic, I.; Marti I Garcia, S.; Martinez-Mckinney, F.; Maunu, R.; McCarthy, R.; Metcalfe, J.; Mikuz, M.; Minano, M.; Mitsui, S.; O'Shea, V.; Paganis, S.; Parzefall, U.; Puldon, D.; Robinson, D.; Sadrozinski, H.F.-W.; Sattari, S.; Schamberger, D.; Seidel, S.; Seiden, A.; Soldevila, U.; Terada, S.; Toms, K.; Tsionou, D.; Unno, Y.; Von Wilpert, J.; Wormald, M.; Wright, J.; Yamada, M.; Stathes Paganis; Bohm, J.; Mikestikova, M.; Affolder, A.A.; Allport, P.P.; Bates, R.; Betancourt, C.; Brown, H.; Buttar, C.; Carter, J.R.; Casse, G.; Chen, H.; Chilingarov, A.; Cindro, V.; Clark, A.; Dawson, N.; Dewilde, B.; Doherty, F.; Dolezal, Z.; Eklund, L.; Fadeyev, V.; Ferrere, D.; Fox, H.; French, R.; Garcia, C.; Gerling, M.; Gonzalez Sevilla, S.; Gorelov, I.; Greenall, A.; Grillo, A.A.; Hara, K.; Hatano, H.; Hoeferkamp, M.; Hommels, L.B.A.; Ikegami, Y.; Jakobs, K.; Kierstead, J.; Kodys, P.; K?hler, M.; Kohriki, T.; Krambergen, G. |
| 臺大學術典藏 |
2018-09-10T08:45:42Z |
Testing of bulk radiation damage of n-in-p silicon sensors for very high radiation environments
|
Affolder, A.A.; Allport, P.P.; Bates, R.; Betancourt, C.; Bohm, J.; Brown, H.; Buttar, C.; Carter, J.R.; Casse, G.; Chen, H.; Chilingarov, A.; Cindro, V.; Clark, A.; Dawson, N.; Dewilde, B.; Doherty, F.; Dolezal, Z.; Eklund, L.; Fadeyev, V.; Ferrere, D.; Fox, H.; French, R.; Garc\\'ia, C.; Gerling, M.; Gonzalez Sevilla, S.; Gorelov, I.; Greenall, A.; Grillo, A.A.; Hamasaki, N.; Hatano, H.; Hoeferkamp, M.; Hommels, L.B.A.; Ikegami, Y.; Jakobs, K.; Kierstead, J.; Kodys, P.; K\\ohler, M.; Kohriki, T.; Kramberger, G.; Lacasta, C.; Li, Z.; Lindgren, S.; Lynn, D.; Maddock, P.; M; i?, I.; Martinez-Mckinney, F.; Mart\\'i I Garcia, S.; Maunu, R.; McCarthy, R.; Metcalfe, J.; Mikestikova, M.; Miku?, M.; Mi\\~nano, M.; Mitsui, S.; O'Shea, V.; Parzefall, U.; Sadrozinski, H.F.-W.; Schamberger, D.; Seiden, A.; Terada, S.; Paganis, S.; Robinson, D.; Puldon, D.; Sattari, S.; Seidel, S.; Takahashi, Y.; Toms, K.; Tsionou, D.; Unno, Y.; Von Wilpert, J.; Wormald, M.; Wright, J.; Yamada, M.; Hara, K.; Stathes Paganis et al. |
| 臺大學術典藏 |
2018-09-10T08:45:42Z |
Testing of surface properties pre-rad and post-rad of n-in-p silicon sensors for very high radiation environment
|
Affolder, A.A.; Allport, P.P.; Bates, R.; Betancourt, C.; Bohm, J.; Brown, H.; Buttar, C.; Carter, J.R.; Casse, G.; Chen, H.; Chilingarov, A.; Cindro, V.; Clark, A.; Dawson, N.; Dewilde, B.; Doherty, F.; Dolezal, Z.; Eklund, L.; Fadeyev, V.; Ferr\\`erre, D.; Fox, H.; French, R.; Garc\\'ia, C.; Gerling, M.; Gonzalez Sevilla, S.; Gorelov, I.; Greenall, A.; Grillo, A.A.; Hamasaki, N.; Hara, K.; Hatano, H.; Hoeferkamp, M.; Hommels, L.B.A.; Ikegami, Y.; Jakobs, K.; Kierstead, J.; Kodys, P.; K\\ohler, M.; Kohriki, T.; Kramberger, G.; Lacasta, C.; Li, Z.; Lynn, D.; Maddock, P.; M; i?, I.; Martinez-Mckinney, F.; Garcia, S.M.; Maunu, R.; McCarthy, R.; Metcalfe, J.; Mikestikova, M.; Miku?, M.; Mi\\~nano, M.; Mitsui, S.; O'Shea, V.; Parzefall, U.; Sadrozinski, H.F.-W.; Schamberger, D.; Seiden, A.; Terada, S.; Paganis, S.; Robinson, D.; Puldon, D.; Sattari, S.; Seidel, S.; Toms, K.; Tsionou, D.; Unno, Y.; Von Wilpert, J.; Wormald, M.; Wright, J.; Yamada, M.; Lindgren, S.; Stathes Paganis et al. |
| 臺大學術典藏 |
2018-09-10T08:45:41Z |
Evaluation of the bulk and strip characteristics of large area n-in-p silicon sensors intended for a very high radiation environment
|
Stathes Paganis; Mikestikova, M.; Affolder, A.A.; Allport, P.P.; Bates, R.; Betancourt, C.; Brown, H.; Buttar, C.; Carter, J.R.; Casse, G.; Chen, H.; Chilingarov, A.; Cindro, V.; Clark, A.; Dawson, N.; Dewilde, B.; Doherty, F.; Dolezal, Z.; Eklund, L.; Fadeyev, V.; Ferrere, D.; Fox, H.; French, R.; Garcia, C.; Gerling, M.; Gonzalez Sevilla, S.; Gorelov, I.; Greenall, A.; Grillo, A.A.; Hara, K.; Hatano, H.; Hoeferkamp, M.; Hommels, L.B.A.; Ikegami, Y.; Jakobs, K.; Kierstead, J.; Kodys, P.; K\\ohler, M.; Kohriki, T.; Krambergen, G.; Lacasta, C.; Li, Z.; Lindgren, S.; Lynn, D.; Maddock, P.; M; ic, I.; Marti I Garcia, S.; Martinez-Mckinney, F.; Maunu, R.; McCarthy, R.; Metcalfe, J.; Mikuz, M.; Minano, M.; Mitsui, S.; O'Shea, V.; Paganis, S.; Parzefall, U.; Puldon, D.; Robinson, D.; Sadrozinski, H.F.-W.; Sattari, S.; Schamberger, D.; Seidel, S.; Seiden, A.; Soldevila, U.; Terada, S.; Toms, K.; Tsionou, D.; Unno, Y.; Von Wilpert, J.; Wormald, M.; Wright, J.; Yamada, M. |
| 臺大學術典藏 |
2018-09-10T07:07:36Z |
Engineering for the ATLAS SemiConductor Tracker (SCT) End-cap
|
Stathes Paganis; Allport, P.P.; ; erson, B.; ; ricek, L.; Anghinolfi, F.; Apsimon, R.J.; Atkinson, T.; Austin, A.; B; , H.; Barclay, P.; Barr, A.; Batchelor, L.E.; Bates, R.L.; Batley, J.R.; Beck, G.; Becker, H.; Bell, P.; Bell, W.H.; Belymam, A.; Bene?, J.; Bene?, P.; Berbee, E.; Bernabeu, J.; Bethke, S.; Bingefors, N.; Bizzell, J.P.; Blaszczak, Z.J.; Blocki, J.; Bro?, J.; Bohm, J.; Brenner, R.; Brodbeck, T.J.; De Renstrom, P.B.; Buis, R.; Burton, G.; Buskop, J.; Buttar, C.M.; Butterworth, J.M.; Butterworth, S.; Capocci, E.; Carpentieri, C.; Carter, A.A.; Carter, J.R.; Chamizo, M.; Charlton, D.G.; Cheplakov, A.; Chilingarov, A.; Chouridou, S.; Chren, D.; Chu, M.L.; Cindro, V.; Ciocio, A.; Civera, J.V.; Clark, A.; Coe, P.; Colijn, A.P.; Cooke, P.A.; Costa, M.J.; Costanzo, D.; Curtis-Rous, M.; Dabinett, C.; Dabrowski, W.; Dalmau, J.; Danielsen, K.M.; D'Auria, S.; Dawson, I.; De Jong, P.; Dervan, P.; Dobson, E.; Doherty, F.; Dole?al, Z.; Donega, M.; D'Onofrio, M.; Dorholt, O.; Doubrava, M.; Duerdoth, I.P.; Duisters, C.; Duxfield, R.; Dwuznik, M.; Eckert, S.; Eklund, L.; Escobar, C.; Evans, D.L.; Fadeyev, V.; Fasching, D.; Feld, L.; Ferguson, D.P.S.; Ferrari, P.; Ferrere, D.; Fopma, J.; Ford, P.; Fortin, R.; Foster, J.M.; Fox, H.; Fraser, T.J.; Freestone, J.; French, R.S.; Fuster, J.; Gallop, B.J.; Galuska, M.; Gannaway, F.; Garc\\'ia, C.; Garc\\'ia-Navarro, J.E.; Gibson, M.; Gibson, S.; Gnanvo, K.; Godlewski, J.; Gonzalez, F.; Gonzalez-Sevilla, S.; Goodrick, M.J.; Gorfine, G.; Gorisek, A.; Gornicki, E.; Greenall, A.; Greenfield, D.; Gregory, S.; Grillo, A.A.; Grosse-Knetter, J.; Gryska, C.; Haddad, L.; Hara, K.; Harris, M.; Hartjes, F.G.; Hauff, D.; Hawes, B.; Hayler, T.; Haywood, S.J.; Heinemann, F.; Heinzinger, K.; Hessey, N.P.; Heusch, C.; Hicheur, A.; Hill, J.C.; Hodgkinson, M.; Hodgson, P.; Hollins, T.I.; Holt, R.; Homna, J.; Hora?iovsk?, T.; Howell, D.; Hughes, G.; Huse, T.; Ibbotson, M.; Ikegami, Y.; Ilyashenko, I.; Issever, C.; Jak\\'ubek, J.; Jackson, J.N.; Jakobs, K.; Jared, R.C.; Jarron, P.; Johansson, P.; John, D.; Jones, A.; Jones, M.; Jones, T.J.; Joos, D.; Joseph, J.; Jovanovic, P.; Jusko, J.; Jusko, O.; Kaplon, J.; Karagoz-Unel, M.; Ketterer, Ch.; Kody?, P.; Koffeman, E.; Kohout, Z.; Kohriki, T.; Kok, H.; Kondo, T.; Koperny, S.; Korporaal, A.; Koukol, V.; Kr\\'al, V.; Kramberger, G.; Kub\\'ik, P.; Kudlaty, J.; Kuilman, W.; Kundu, N.; Lacasta, C.; Lacuesta, V.; Lau, W.; Lee, S.C.; Leguyt, R.; Leney, K.; Lenz, S.; Lester, C.G.; Liang, Z.; Liebicher, K.; Limper, M.; Lindquist, L.E.; Lindsay, S.; Linhart, V.; Lintern, A.; Locket, C.; Lockwood, M.; Loebinger, F.K.; Lozano, M.; Ludwig, I.; Ludwig, J.; Lutz, G.; Maassen, M.; MacIna, D.; MacPherson, A.; MacWaters, C.; Magrath, C.A.; Malecki, P.; M; i?, I.; Mangin-Brinet, M.; Marshall, G.; Mart\\'i-Garc\\'ia, S.; Martinez-Mckinney, G.F.M.; Matheson, J.P.; McEwan, F.; McMahon, S.J.; McPhail, D.; Meinhardt, J.; Mellado, B.; Mercer, I.J.; Messmer, I.; Mikulec, B.; Miku?, M.; Mima, S.; Mistry, K.; Mitra, A.; Mitsou, V.A.; Modesto, P.; Moed, S.; Mohn, B.; Moles, R.; Moorhead, G.F.; Moreno, B.; Morin, J.; Morris, J.; Moser, H.G.; Moszczynski, A.; Muijs, A.J.M.; Munneke, B.; Murray, W.J.; Muskett, D.; Nacher, J.; Nagai, K.; Naito, D.; Nakano, I.; Nelson, C.; Nichols, A.; Nickerson, R.B.; Nisius, R.; Noviss, J.; Olcese, M.; O'Shea, V.; Oye, O.K.; Paganis, S.; Palmer, M.J.; Parker, M.A.; Parzefall, U.; Pater, J.R.; Pernegger, H.; Perrin, E.; Phillips, A.; Phillips, P.W.; Pieron, J.P.; Poltorak, K.; Posp\\'i?il, S.; Postranecky, M.; Pritchard, T.; Prokofiev, K.; Raine, C.; Ratoff, P.N.; Reitmeijer, A.; ?ezn\\'i?ek, P.; Richter, R.H.; Robichaud-V\\'eronneau, A.; Robinson, D.; Robson, A.; Rodriguez-Oliete, R.; Roe, S.; Rolfe, G.; R\\ovenkamp, J.; Runge, K.; Saavedra, A.; Sadrozinski, H.F.W.; Sanchez, F.J.; S; aker, H.; Schieck, J.; Schuijlenburg, H.; Siegrist, J.; Seiden, A.; Sfyrla, A.; Simm, G.; Slatter, J.; Slav\\'i\\'eek, T.; Smith, B.; Smith, K.M.; Smith, N.A.; Snippe, C.; Snow, S.W.; Solar, M.; Solberg, A.O.; Sopko, B.; Sopko, V.; Sospedra, L.; Southern, G.D.; Sowinski, M.; Spencer, E.; Spieler, H.; Stanecka, E.; Stapnes, S.; Stastny, J.; ?teckl, I.; Stodulski, M.; Strachko, V.; Stradling, A.; Stugu, B.; Sutcliffe, P.; Szczygiel, R.; Takashima, R.; Tanaka, R.; Tappern, G.; Tarrant, J.; Taylor, G.N.; Temple, S.; Teng, P.K.; Terada, S.; Thompson, R.J.; Thresher, N.E.; Titov, M.; Tovey, D.R.; Tratzl, G.; Tricoli, A.; Turala, M.; Turner, P.R.; Tyndel, M.; Ull\\'an, M.; Unno, Y.; Vickey, T.; Vacek, V.; Van Der Kraaij, E.; Van Ovenbeek, M.; Viehhauser, G.; Vu, C.; Villani, E.G.; Vu Anh, T.; Vossebeld, J.H.; Wachler, M.; Wallny, R.; Ward, C.P.; Warren, M.R.M.; Wastie, R.; Weber, M.; Weidberg, A.R.; Weilhammer, P.; Wells, P.S.; Werneke, P.; Wetzel, P.; White, M.J.; Wiesmann, M.; Wilmut, I.; Wilson, J.A.; Wolter, M.; Wormald, M.P.; Wu, S.L.; Wu, X.; Zimmer, J.; Zsenei, A.; Zhu, H. |
Showing items 1-9 of 9 (1 Page(s) Totally)
1
View [10|25|50] records per page
|
