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机构	日期	题名	作者
國立成功大學	2017-07-3	Effect of microwave annealing on electrical characteristics of TiN/Al/TiN/HfO2/Si MOS capacitors	Shih;Tzu-Lang;Su;Yin-Hsien;Kuo;Tai-Chen;Lee;Wen-Hsi;Current;Ira, Michael

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