臺灣學術機構典藏系統 (Taiwan Academic Institutional Repository, TAIR)

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機構	日期	題名	作者
臺大學術典藏	2018-09-10T07:09:34Z	A Dual-rail Asynchronous Scan Chain Design and Its Implementation in TFT Technology	C. H. Cheng; J. C.M. Li; CHIEN-MO LI
臺大學術典藏	2018-09-10T07:09:34Z	Transition Fault Diagnosis Using At-speed Scan Patterns with Multiple Capture Clocks	Shang-Feng Chao;J. C.-M. Li; Shang-Feng Chao; J. C.-M. Li; CHIEN-MO LI
臺大學術典藏	2018-09-10T07:09:34Z	Transition Fault Diagnosis Using At-speed Scan Patterns with Multiple Capture Clocks	Shang-Feng Chao;J. C.-M. Li; Shang-Feng Chao; J. C.-M. Li; CHIEN-MO LI
臺大學術典藏	2018-09-10T07:09:33Z	Simultaneous capture and shift power reduction test pattern generator for scan testing	CHIEN-MO LI; J. C.M. Li; H.T. Lin
臺大學術典藏	2018-09-10T07:09:32Z	Effective and Economic Phase Noise Testing for Single-Chip TV Tuners	J. C.-M. Li; P.-C. Lin; P.-C. Chiang; C.-M. Pan; C.W. Tseng; CHIEN-MO LI
臺大學術典藏	2018-09-10T07:09:32Z	Survey of Scan Chain Diagnosis	Y. Huang;R Guo;W.T. Cheng;J. C.-M. Li; Y. Huang; R Guo; W.T. Cheng; J. C.-M. Li; CHIEN-MO LI
臺大學術典藏	2018-09-10T07:09:32Z	Survey of Scan Chain Diagnosis	Y. Huang;R Guo;W.T. Cheng;J. C.-M. Li; Y. Huang; R Guo; W.T. Cheng; J. C.-M. Li; CHIEN-MO LI
臺大學術典藏	2018-09-10T06:37:54Z	Column Parity Row Selection (CPRS) BIST Diagnosis Technique: Modeling and Analysis	J. C.-M. Li; Hung-Mao Lin; Fang Min Wang; CHIEN-MO LI
臺大學術典藏	2018-09-10T06:37:54Z	Cyclic-CPRS : A Diagnosis Technique for BISTed Circuits for Nano-meter Technologies	C.Y. Lee; H.M. Lin; F.M. Wang; J. C. M. Li; CHIEN-MO LI
臺大學術典藏	2018-09-10T06:03:19Z	Jump Simulation: A Fast and Precise Scan Chain Diagnosis Technique	Y. L Kao; W. S. Chuang; J. C. M Li; CHIEN-MO LI

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