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机构 日期 题名 作者
中原大學 2009-07 Contact Behavier of Focused Ion Beam-Deposited Pt on p-type Si Nanowier C. Y. Ho; S. S. Chiu; T. C. Kei; K. T. Tsai; Y. A. Dai; J. H. Hsu; M. L. Chang; J. H. He
中原大學 2009 Characterization of Focused Ion Beam-Deposited Pt and p-type Si Nanowire Contact S. S. Chiu; C. Y. Ho; T. C. Kei; K. T. Tsai; Y. A. Dai; J. H. Hsu; M. L. Chang; J. H. He
國立中山大學 1999 The Development and Application of Imaging EXAFS Spectromicroscopy Y. Hwu;W.L. Tsai;L. Chang;C.H. Chen;C.C. Wu;D.T. Noh;J.H. He;G.H. Fecher;M. Mertolo;H. Berger;G. Margaritondo

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