English  |  正體中文  |  简体中文  |  总笔数 :2875232  
造访人次 :  54177351    在线人数 :  1129
教育部委托研究计画      计画执行:国立台湾大学图书馆
 		 
搜寻范围 进阶搜寻
臺灣學術機構典藏系統 (Taiwan Academic Institutional Repository, TAIR)
关于TAIR
计画说明

浏览
典藏机构
作者
题名
日期
统计图表
机构即时统计
学术趋势

消息
2019臺灣學術機構典藏
研討會
機構典藏系統RC7版本已
發佈

著作权
出版社及期刊政策查询
TAIR著作权会议记录

相关连结
機構典藏計畫網站
ROAR
OpenDOAR
SHERPA
OAIster
JAIRO
Ira
DSPACE
RWWR
臺大學術典藏NTU Scholars
台湾机构典藏 TAIR >  依作者浏览

"j j lin"的相关文件

回到依作者浏览
依题名排序 依日期排序

显示项目 1-10 / 25 (共3页)
1 2 3 > >>
每页显示[10|25|50]项目

机构 日期 题名 作者
元智大學 Jan-16 A Takagi–Sugeno fuzzy model combined with a support vector regression for stock trading forecasting Chang P.C.; Jheng-Long Wu; J. J. Lin
元智大學 Jan-16 A Takagi–Sugeno fuzzy model combined with a support vector regression for stock trading forecasting Chang P.C.; Jheng-Long Wu; J. J. Lin
臺大學術典藏 2018-09-10T08:17:59Z Corner Modes and Edge Modes on Surface Plasmon Polariton Waveguides Having Right-Angle Metallic Corners J. J. Lin; W. J. Tseng; H. C. Chang; HUNG-CHUN CHANG
臺大學術典藏 2018-09-10T07:41:31Z Modes on the Metal Stripe Plasmonic Waveguide J. J. Lin; H. C. Chang; HUNG-CHUN CHANG
臺大學術典藏 2018-09-10T07:41:29Z Study of Plasmonic Waveguides Based on Finite Element Method Analysis H. C. Chang,; C. C. Chung,; H. C. Yeh,; J. J. Lin,; HUNG-CHUN CHANG
臺大學術典藏 2018-09-10T03:50:39Z The effect of test system impedance on measurements of ground bounce in printed circuit boards T.-L. Wu; Y.-H. Lin; J.-N. Huang; J.-J. Lin; TZONG-LIN WU
元智大學 2016-07-07 How social enterprises facilitate identification under hybrid identities Hsieh, Y. C; Jingjing Weng; J.J., Lin; Liu, Y.W
國立交通大學 2014-12-12T02:57:53Z 硒化鎘奈米顆粒尺寸及摻雜Mn效應之磁性研究 葉佳唯; Jia-Wei Yeh; 林志忠; 簡紋濱; J. J. Lin; Wen-Bin Jian
國立交通大學 2014-12-12T02:20:11Z 鈦鋁合金與鎳薄膜中低溫量子傳輸性質之研究 盛寶徵; Pao-Jeng Sheng; 林志忠 老師; 許世英 老師; J.J.Lin; S.Y.Hsu
國立臺灣師範大學 2014-12-02T06:41:29Z Controlled Growth of Cubic Cadmium Sulfide Nanoparticles Using Patterned Self-Assembled Monolayers as a Template Chia-Chun Chen; J.-J. Lin

显示项目 1-10 / 25 (共3页)
1 2 3 > >>
每页显示[10|25|50]项目

DSpace Software Copyright © 2002-2004  MIT   &  Hewlett-Packard   /   Enhanced by   NTU Library IR team