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机构	日期	题名	作者
國立中山大學	2009-12	A 1.8 V to 3.3 V Level-Converting Flip-Flop Design for Multiple Power Supply Systems	C.C. Wang;K.S.M. Li;S.J. Wang
國立中山大學	2009-11	Multiple Scan Trees Synthesis for Test Time/Data and Routing Length Reduction under Output Constraint	K.S.M. Li;Y.C. Hung;J.Y. Huang
國立中山大學	2009-11	IEEE 1500 Compatible Multilevel Maximal Concurrent Interconnect Test	K.S.M. Li;Y.Y. Liao;Y.W. Liu;J.Y. Huang
國立中山大學	2009-05	Scan-Chain Partition for High Test-Data Compressibility and Low Shift Power Under Routing Constraint	S.J. Wang;K.S.M. Li;S.C. Chen;H.Y. Shiu;Y.L. Chu
國立中山大學	2009-05	Low Peak Power ATPG and Test Compaction for n-Detection Test	K.S.M. Li;M.H. Hsieh;S.J. Wang
國立中山大學	2009-05	Scan-Chain Partition for High Test-Data Compressibility and Low Shift Power Under Routing Constraint	S.J. Wang;K.S.M. Li;S.C. Chen;H.Y. Shiu;Y.L. Chu
國立中山大學	2009-02	A Unified Detection Scheme for Crosstalk Effects in Interconnection Bus	K.S.M. Li;C.L. Lee;C. Su;J.E. Chen
國立中山大學	2009-02	A Unified Detection Scheme for Crosstalk Effects in Interconnection Bus	K.S.M. Li;C.L. Lee;C. Su;J.E. Chen
國立中山大學	2009-01	Temperature-Aware Dynamic Frequency and Voltage Scaling for Reliability and Yield Enhancement	Y.W. Yang;K.S.M. Li
國立中山大學	2009	Static and Dynamic Test Power Reduction in Scan-Based Testing	S.J. Wang;S.J. Huang;K.S.M. Li
國立中山大學	2008-08	Low Peak Power ATPG and Test Compaction for n-Detection Test	K.L. Fu;S.J. Wang;K.S.M. Li
國立中山大學	2008-08	Static and Dynamic Test Power Reduction in Scan-Based Testing by Input Vector Control	S.J. Wang;S.J. Huang;K.S.M. Li
國立中山大學	2008-07	EEE 1500 Compatible Interconnect Oscillation Parallel Test	Y.W. Liu;J.Y. Huang;K.S.M. Li
國立中山大學	2008-05	Design and Analysis of Efficient Scan Chain Architecture for Improved Test Data Compression Rate	S.J. Wang;S.C. Chen;K.S.M. Li
國立中山大學	2007-09	Multilevel full-chip routing with testability and yield enhancement	K.S.M. Li;C. Su;Y.M. Chang;C.L. Lee;J.E. Chen
國立中山大學	2007-08	IEEE Standard 1500 Compatible Oscillation Ring Test Methodology for Interconnect Delay and Crosstalk Detection	K.S.M. Li;C. Su;Y.M. Chang;C.L. Lee;J.E. Chen
國立中山大學	2007-08	Enhancing Compression Efficiency with Skewed-Probability Scan Chains	S.J. Wang;S.C. Chen;K.S.M. Li
國立中山大學	2007-08	Test Data and Test Time Reduction for LOS Transition Test in Multi-Mode Segmented Scan Architecture	S.J. Wang;P.C. Tsai;H.M. Weng;K.S.M. Li
國立中山大學	2007-07	Interconnect-Driven Multiple Scan Tree Synthesis for Both Test Compression and Test Application Time	J.Y. Huang;K.S.M. Li
國立中山大學	2006-08	Layout-Aware Scan Chain Reorder for Skewed-Load Transition Test Coverage	K.L. Peng;S.J. Wang;K.S.M. Li
國立中山大學	2006-08	Layout-Aware Multi-Layer Multi-Level Scan Tree Synthesis	X.L. Li;S.J. Wang;K.S.M. Li
國立中山大學	2005-8	IEEE Standard 1500 Compatible Interconnect Diagnosis for Delay and Crosstalk Faults	K.S.M. Li;C.L. Lee;Y.W. Chang;C. Su;J.E. Chen
國立中山大學	2004-08	Oscillation ring based interconnect test scheme for SOC	K.S.M. Li;C.L. Lee;C. Su;J.E. Chen
國立中山大學	2004-08	A unified approach to detecting crosstalk faults of interconnects in deep sub-micron VLSI	K.S.M. Li;C.L. Lee;C. Su;J.E. Chen
國立中山大學	2002-08	Noise-aware buffer planning for interconnect-driven floorplanning	K.S.M. Li;Y.H. Cherng;Y.W. Chang

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