|
"kramberger g"的相关文件
显示项目 1-10 / 13 (共2页)
1 2 > >>
每页显示[10|25|50]项目
| 臺大學術典藏 |
2019-12-27T01:16:39Z |
Erratum: Bottom photoproduction measured using decays into muons in dijet events in ep collisions at s=318GeV (Physical Review D - Particles, Fields, Gravitation and Cosmology (2004) 70, (012008))
|
Dannheim, D.; Drews, G.; Fourletova, J.; Fricke, U.; Geiser, A.; G?ttlicher, P.; Gutsche, O.; Haas, T.; Hain, W.; Hillert, S.; Kahle, B.; K?tz, U.; Kowalski, H.; Kramberger, G.; Labes, H.; Lelas, D.; Lim, H.; L?hr, B.; Mankel, R.; Melzer-Pellmann, I.-A.; Nguyen, C.N.; Notz, D.; Nucio-Quiroz, A.E.; Polini, A.; Raval, A.; Rurua, L.; Schneekloth, U.; St?sslein, U.; Wolf, G.; Youngman, C.; Zeuner, W.; Schlenstedt, S.; Barbagli, G.; Gallo, E.; Genta, C.; Pelfer, P.G.; Bamberger, A.; Benen, A.; Karstens, F.; Dobur, D.; Vlasov, N.N.; Bell, M.; Bussey, P.J.; Doyle, A.T.; Ferrando, J.; Hamilton, J.; Hanlon, S.; Saxon, D.H.; Skillicorn, I.O.; Gialas, I.; Carli, T.; Gosau, T.; Holm, U.; Krumnack, N.; Lohrmann, E.; Milite, M.; Salehi, H.; Schleper, P.; Stonjek, S.; Wichmann, K.; Wick, K.; Ziegler, A.; Ziegler, A.; Collins-Tooth, C.; Foudas, C.; Gon?alo, R.; Long, K.R.; Tapper, A.D.; Cloth, P.; Filges, D.; Kataoka, M.; Nagano, K.; Tokushuku, K.; Yamada, S.; Yamazaki, Y.; Barakbaev, A.N.; Boos, E.G.; Pokrovskiy, N.S.; Zhautykov, B.O.; Son, D.; Piotrzkowski, K.; Barreiro, F.; Glasman, C.; Gonz?lez, O.; Labarga, L.; Del Peso, J.; Tassi, E.; Terr?n, J.; V?zquez, M.; Zambrana, M.; Barbi, M.; Corriveau, F.; Gliga, S.; Lainesse, J.; Padhi, S.; Stairs, D.G.; Walsh, R.; Tsurugai, T.; Antonov, A.; Danilov, P.; Dolgoshein, B.A.; Gladkov, D.; Sosnovtsev, V.; Suchkov, S.; Dementiev, R.K.; Ermolov, P.F.; Golubkov, Yu.A.; Katkov, I.I.; Khein, L.A.; Korzhavina, I.A.; Kuzmin, V.A.; Levchenko, B.B.; Lukina, O.Y.; Proskuryakov, A.S.; Shcheglova, L.M.; Zotkin, S.A.; Coppola, N.; Grijpink, S.; Koffeman, E.; Kooijman, P.; Maddox, E.; Pellegrino, A.; Schagen, S.; Tiecke, H.; Velthuis, J.J.; Wiggers, L.; De Wolf, E.; Br?mmer, N.; Bylsma, B.; Durkin, L.S.; Ling, T.Y.; Cooper-Sarkar, A.M.; Cottrell, A.; Devenish, R.C.E.; Foster, B.; Grzelak, G.; Gwenlan, C.; Patel, S.; Straub, P.B.; Walczak, R.; Bertolin, A.; Brugnera, R.; Carlin, R.; Dal Corso, F.; Dusini, S.; Garfagnini, A.; Limentani, S.; Longhin, A.; Parenti, A.; Posocco, M.; Stanco, L.; Turcato, M.; Heaphy, E.A.; Metlica, F.; Oh, B.Y.; Whitmore, J.J.; Iga, Y.; D'Agostini, G.; Marini, G.; Nigro, A.; Cormack, C.; Hart, J.C.; McCubbin, N.A.; Heusch, C.; Park, I.H.; Pavel, N.; Abramowicz, H.; Gabareen, A.; Kananov, S.; Kreisel, A.; Levy, A.; Kuze, M.; Fusayasu, T.; Kagawa, S.; Kohno, T.; Tawara, T.; Yamashita, T.; Hamatsu, R.; Hirose, T.; Inuzuka, M.; Kaji, H.; Kitamura, S.; Matsuzawa, K.; Ferrero, M.I.; Monaco, V.; Sacchi, R.; Solano, A.; Arneodo, M.; Ruspa, M.; Koop, T.; Martin, J.F.; Mirea, A.; Butterworth, J.M.; Hall-Wilton, R.; Jones, T.W.; Lightwood, M.S.; Sutton, M.R.; Targett-Adams, C.; Ciborowski, J.; Ciesielski, R.; ?uzniak, P.; Nowak, R.J.; Pawlak, J.M.; Sztuk, J.; Tymieniecka, T.; Ukleja, A.; Ukleja, J.; Zarnecki, A.F.; Adamus, M.; Plucinski, P.; Eisenberg, Y.; Gladilin, L.K.; Hochman, D.; Karshon, U.; Riveline, M.; K?ira, D.; Lammers, S.; Li, L.; Reeder, D.D.; Rosin, M.; Savin, A.A.; Smith, W.H.; Deshpande, A.; Dhawan, S.; Bhadra, S.; Catterall, C.D.; Fourletov, S.; Hartner, G.; Menary, S.; Soares, M.; Standage, J.; Stathes Paganis; Stifutkin, A.; Tandler, J.; Voss, K.C.; Wang, M.; Weber, A.; Bailey, D.S.; Brook, N.H.; Cole, J.E.; Heath, G.P.; Namsoo, T.; Robins, S.; Wing, M.; Capua, M.; Mastroberardino, A.; Schioppa, M.; Susinno, G.; Kim, J.Y.; Kim, Y.K.; Lee, J.H.; Lim, I.T.; Pac, M.Y.; Caldwell, A.; Helbich, M.; Liu, X.; Mellado, B.; Ning, Y.; Paganis, S.; Ren, Z.; Schmidke, W.B.; Sciulli, F.; Chwastowski, J.; Eskreys, A.; Figiel, J.; Galas, A.; Olkiewicz, K.; Stopa, P.; Zawiejski, L.; Adamczyk, L.; Bo?d, T.; Grabowska-Bo?d, I.; Kisielewska, D.; Kowal, A.M.; Kowal, M.; Kowalski, T.; Przybycie?, M.; Suszycki, L.; Szuba, D.; Szuba, J.; Kota?ski, A.; S?omi?ski, W.; Adler, V.; Behrens, U.; Bloch, I.; Borras, K.; Chiochia, V.; Bruni, A.; Bruni, G.; Cara Romeo, G.; Cifarelli, L.; Cindolo, F.; Contin, A.; Corradi, M.; De Pasquale, S.; Giusti, P.; Iacobucci, G.; Margiotti, A.; Montanari, A.; Nania, R.; Palmonari, F.; Pesci, A.; Sartorelli, G.; Zichichi, A.; Aghuzumtsyan, G.; Bartsch, D.; Brock, I.; Goers, S.; Hartmann, H.; Hilger, E.; Irrgang, P.; Jakob, H.-P.; Kind, O.; Meyer, U.; Paul, E.; Rautenberg, J.; Renner, R.; Chekanov, S.;Derrick, M.;Krakauer, D.;Loizides, J.H.;Magill, S.;Miglioranzi, S.;Musgrave, B.;Repond, J.;Yoshida, R.;Mattingly, M.C.K.;Antonioli, P.;Bari, G.;Basile, M.;Bellagamba, L.;Boscherini, D.;Bruni, A.;Bruni, G.;Cara Romeo, G.;Cifarelli, L.;Cindolo, F.;Contin, A.;Corradi, M.;De Pasquale, S.;Giusti, P.;Iacobucci, G.;Margiotti, A.;Montanari, A.;Nania, R.;Palmonari, F.;Pesci, A.;Sartorelli, G.;Zichichi, A.;Aghuzumtsyan, G.;Bartsch, D.;Brock, I.;Goers, S.;Hartmann, H.;Hilger, E.;Irrgang, P.;Jakob, H.-P.;Kind, O.;Meyer, U.;Paul, E.;Rautenberg, J.;Renner, R.;Stifutkin, A.;Tandler, J.;Voss, K.C.;Wang, M.;Weber, A.;Bailey, D.S.;Brook, N.H.;Cole, J.E.;Heath, G.P.;Namsoo, T.;Robins, S.;Wing, M.;Capua, M.;Mastroberardino, A.;Schioppa, M.;Susinno, G.;Kim, J.Y.;Kim, Y.K.;Lee, J.H.;Lim, I.T.;Pac, M.Y.;Caldwell, A.;Helbich, M.;Liu, X.;Mellado, B.;Ning, Y.;Paganis, S.;Ren, Z.;Schmidke, W.B.;Sciulli, F.;Chwastowski, J.;Eskreys, A.;Figiel, J.;Galas, A.;Olkiewicz, K.;Stopa, P.;Zawiejski, L.;Adamczyk, L.;Bo?d, T.;Grabowska-Bo?d, I.;Kisielewska, D.;Kowal, A.M.;Kowal, M.;Kowalski, T.;Przybycie?, M.;Suszycki, L.;Szuba, D.;Szuba, J.;Kota?ski, A.;S?omi?ski, W.;Adler, V.;Behrens, U.;Bloch, I.;Borras, K.;Chiochia, V.;Dannheim, D.;Drews, G.;Fourletova, J.;Fricke, U.;Geiser, A.;G?ttlicher, P.;Gutsche, O.;Haas, T.;Hain, W.;Hillert, S.;Kahle, B.;K?tz, U.;Kowalski, H.;Kramberger, G.;Labes, H.;Lelas, D.;Lim, H.;L?hr, B.;Mankel, R.;Melzer-Pellmann, I.-A.;Nguyen, C.N.;Notz, D.;Nucio-Quiroz, A.E.;Polini, A.;Raval, A.;Rurua, L.;Schneekloth, U.;St?sslein, U.;Wolf, G.;Youngman, C.;Zeuner, W.;Schlenstedt, S.;Barbagli, G.;Gallo, E.;Genta, C.;Pelfer, P.G.;Bamberger, A.;Benen, A.;Karstens, F.;Dobur, D.;Vlasov, N.N.;Bell, M.;Bussey, P.J.;Doyle, A.T.;Ferrando, J.;Hamilton, J.;Hanlon, S.;Saxon, D.H.;Skillicorn, I.O.;Gialas, I.;Carli, T.;Gosau, T.;Holm, U.;Krumnack, N.;Lohrmann, E.;Milite, M.;Salehi, H.;Schleper, P.;Stonjek, S.;Wichmann, K.;Wick, K.;Ziegler, A.;Ziegler, A.;Collins-Tooth, C.;Foudas, C.;Gon?alo, R.;Long, K.R.;Tapper, A.D.;Cloth, P.;Filges, D.;Kataoka, M.;Nagano, K.;Tokushuku, K.;Yamada, S.;Yamazaki, Y.;Barakbaev, A.N.;Boos, E.G.;Pokrovskiy, N.S.;Zhautykov, B.O.;Son, D.;Piotrzkowski, K.;Barreiro, F.;Glasman, C.;Gonz?lez, O.;Labarga, L.;Del Peso, J.;Tassi, E.;Terr?n, J.;V?zquez, M.;Zambrana, M.;Barbi, M.;Corriveau, F.;Gliga, S.;Lainesse, J.;Padhi, S.;Stairs, D.G.;Walsh, R.;Tsurugai, T.;Antonov, A.;Danilov, P.;Dolgoshein, B.A.;Gladkov, D.;Sosnovtsev, V.;Suchkov, S.;Dementiev, R.K.;Ermolov, P.F.;Golubkov, Yu.A.;Katkov, I.I.;Khein, L.A.;Korzhavina, I.A.;Kuzmin, V.A.;Levchenko, B.B.;Lukina, O.Y.;Proskuryakov, A.S.;Shcheglova, L.M.;Zotkin, S.A.;Coppola, N.;Grijpink, S.;Koffeman, E.;Kooijman, P.;Maddox, E.;Pellegrino, A.;Schagen, S.;Tiecke, H.;Velthuis, J.J.;Wiggers, L.;De Wolf, E.;Br?mmer, N.;Bylsma, B.;Durkin, L.S.;Ling, T.Y.;Cooper-Sarkar, A.M.;Cottrell, A.;Devenish, R.C.E.;Foster, B.;Grzelak, G.;Gwenlan, C.;Patel, S.;Straub, P.B.;Walczak, R.;Bertolin, A.;Brugnera, R.;Carlin, R.;Dal Corso, F.;Dusini, S.;Garfagnini, A.;Limentani, S.;Longhin, A.;Parenti, A.;Posocco, M.;Stanco, L.;Turcato, M.;Heaphy, E.A.;Metlica, F.;Oh, B.Y.;Whitmore, J.J.;Iga, Y.;D'Agostini, G.;Marini, G.;Nigro, A.;Cormack, C.;Hart, J.C.;McCubbin, N.A.;Heusch, C.;Park, I.H.;Pavel, N.;Abramowicz, H.;Gabareen, A.;Kananov, S.;Kreisel, A.;Levy, A.;Kuze, M.;Fusayasu, T.;Kagawa, S.;Kohno, T.;Tawara, T.;Yamashita, T.;Hamatsu, R.;Hirose, T.;Inuzuka, M.;Kaji, H.;Kitamura, S.;Matsuzawa, K.;Ferrero, M.I.;Monaco, V.;Sacchi, R.;Solano, A.;Arneodo, M.;Ruspa, M.;Koop, T.;Martin, J.F.;Mirea, A.;Butterworth, J.M.;Hall-Wilton, R.;Jones, T.W.;Lightwood, M.S.;Sutton, M.R.;Targett-Adams, C.;Ciborowski, J.;Ciesielski, R.;?uzniak, P.;Nowak, R.J.;Pawlak, J.M.;Sztuk, J.;Tymieniecka, T.;Ukleja, A.;Ukleja, J.;Zarnecki, A.F.;Adamus, M.;Plucinski, P.;Eisenberg, Y.;Gladilin, L.K.;Hochman, D.;Karshon, U.;Riveline, M.;K?ira, D.;Lammers, S.;Li, L.;Reeder, D.D.;Rosin, M.;Savin, A.A.;Smith, W.H.;Deshpande, A.;Dhawan, S.;Bhadra, S.;Catterall, C.D.;Fourletov, S.;Hartner, G.;Menary, S.;Soares, M.;Standage, J.; Boscherini, D.; Chekanov, S.; Derrick, M.; Krakauer, D.; Loizides, J.H.; Magill, S.; Miglioranzi, S.; Musgrave, B.; Repond, J.; Yoshida, R.; Mattingly, M.C.K.; Antonioli, P.; Bari, G.; Basile, M.; Bellagamba, L. |
| 臺大學術典藏 |
2019-12-27T01:16:39Z |
Erratum: Bottom photoproduction measured using decays into muons in dijet events in ep collisions at s=318GeV (Physical Review D - Particles, Fields, Gravitation and Cosmology (2004) 70, (012008))
|
Dannheim, D.; Drews, G.; Fourletova, J.; Fricke, U.; Geiser, A.; G?ttlicher, P.; Gutsche, O.; Haas, T.; Hain, W.; Hillert, S.; Kahle, B.; K?tz, U.; Kowalski, H.; Kramberger, G.; Labes, H.; Lelas, D.; Lim, H.; L?hr, B.; Mankel, R.; Melzer-Pellmann, I.-A.; Nguyen, C.N.; Notz, D.; Nucio-Quiroz, A.E.; Polini, A.; Raval, A.; Rurua, L.; Schneekloth, U.; St?sslein, U.; Wolf, G.; Youngman, C.; Zeuner, W.; Schlenstedt, S.; Barbagli, G.; Gallo, E.; Genta, C.; Pelfer, P.G.; Bamberger, A.; Benen, A.; Karstens, F.; Dobur, D.; Vlasov, N.N.; Bell, M.; Bussey, P.J.; Doyle, A.T.; Ferrando, J.; Hamilton, J.; Hanlon, S.; Saxon, D.H.; Skillicorn, I.O.; Gialas, I.; Carli, T.; Gosau, T.; Holm, U.; Krumnack, N.; Lohrmann, E.; Milite, M.; Salehi, H.; Schleper, P.; Stonjek, S.; Wichmann, K.; Wick, K.; Ziegler, A.; Ziegler, A.; Collins-Tooth, C.; Foudas, C.; Gon?alo, R.; Long, K.R.; Tapper, A.D.; Cloth, P.; Filges, D.; Kataoka, M.; Nagano, K.; Tokushuku, K.; Yamada, S.; Yamazaki, Y.; Barakbaev, A.N.; Boos, E.G.; Pokrovskiy, N.S.; Zhautykov, B.O.; Son, D.; Piotrzkowski, K.; Barreiro, F.; Glasman, C.; Gonz?lez, O.; Labarga, L.; Del Peso, J.; Tassi, E.; Terr?n, J.; V?zquez, M.; Zambrana, M.; Barbi, M.; Corriveau, F.; Gliga, S.; Lainesse, J.; Padhi, S.; Stairs, D.G.; Walsh, R.; Tsurugai, T.; Antonov, A.; Danilov, P.; Dolgoshein, B.A.; Gladkov, D.; Sosnovtsev, V.; Suchkov, S.; Dementiev, R.K.; Ermolov, P.F.; Golubkov, Yu.A.; Katkov, I.I.; Khein, L.A.; Korzhavina, I.A.; Kuzmin, V.A.; Levchenko, B.B.; Lukina, O.Y.; Proskuryakov, A.S.; Shcheglova, L.M.; Zotkin, S.A.; Coppola, N.; Grijpink, S.; Koffeman, E.; Kooijman, P.; Maddox, E.; Pellegrino, A.; Schagen, S.; Tiecke, H.; Velthuis, J.J.; Wiggers, L.; De Wolf, E.; Br?mmer, N.; Bylsma, B.; Durkin, L.S.; Ling, T.Y.; Cooper-Sarkar, A.M.; Cottrell, A.; Devenish, R.C.E.; Foster, B.; Grzelak, G.; Gwenlan, C.; Patel, S.; Straub, P.B.; Walczak, R.; Bertolin, A.; Brugnera, R.; Carlin, R.; Dal Corso, F.; Dusini, S.; Garfagnini, A.; Limentani, S.; Longhin, A.; Parenti, A.; Posocco, M.; Stanco, L.; Turcato, M.; Heaphy, E.A.; Metlica, F.; Oh, B.Y.; Whitmore, J.J.; Iga, Y.; D'Agostini, G.; Marini, G.; Nigro, A.; Cormack, C.; Hart, J.C.; McCubbin, N.A.; Heusch, C.; Park, I.H.; Pavel, N.; Abramowicz, H.; Gabareen, A.; Kananov, S.; Kreisel, A.; Levy, A.; Kuze, M.; Fusayasu, T.; Kagawa, S.; Kohno, T.; Tawara, T.; Yamashita, T.; Hamatsu, R.; Hirose, T.; Inuzuka, M.; Kaji, H.; Kitamura, S.; Matsuzawa, K.; Ferrero, M.I.; Monaco, V.; Sacchi, R.; Solano, A.; Arneodo, M.; Ruspa, M.; Koop, T.; Martin, J.F.; Mirea, A.; Butterworth, J.M.; Hall-Wilton, R.; Jones, T.W.; Lightwood, M.S.; Sutton, M.R.; Targett-Adams, C.; Ciborowski, J.; Ciesielski, R.; ?uzniak, P.; Nowak, R.J.; Pawlak, J.M.; Sztuk, J.; Tymieniecka, T.; Ukleja, A.; Ukleja, J.; Zarnecki, A.F.; Adamus, M.; Plucinski, P.; Eisenberg, Y.; Gladilin, L.K.; Hochman, D.; Karshon, U.; Riveline, M.; K?ira, D.; Lammers, S.; Li, L.; Reeder, D.D.; Rosin, M.; Savin, A.A.; Smith, W.H.; Deshpande, A.; Dhawan, S.; Bhadra, S.; Catterall, C.D.; Fourletov, S.; Hartner, G.; Menary, S.; Soares, M.; Standage, J.; Stathes Paganis; Stifutkin, A.; Tandler, J.; Voss, K.C.; Wang, M.; Weber, A.; Bailey, D.S.; Brook, N.H.; Cole, J.E.; Heath, G.P.; Namsoo, T.; Robins, S.; Wing, M.; Capua, M.; Mastroberardino, A.; Schioppa, M.; Susinno, G.; Kim, J.Y.; Kim, Y.K.; Lee, J.H.; Lim, I.T.; Pac, M.Y.; Caldwell, A.; Helbich, M.; Liu, X.; Mellado, B.; Ning, Y.; Paganis, S.; Ren, Z.; Schmidke, W.B.; Sciulli, F.; Chwastowski, J.; Eskreys, A.; Figiel, J.; Galas, A.; Olkiewicz, K.; Stopa, P.; Zawiejski, L.; Adamczyk, L.; Bo?d, T.; Grabowska-Bo?d, I.; Kisielewska, D.; Kowal, A.M.; Kowal, M.; Kowalski, T.; Przybycie?, M.; Suszycki, L.; Szuba, D.; Szuba, J.; Kota?ski, A.; S?omi?ski, W.; Adler, V.; Behrens, U.; Bloch, I.; Borras, K.; Chiochia, V.; Bruni, A.; Bruni, G.; Cara Romeo, G.; Cifarelli, L.; Cindolo, F.; Contin, A.; Corradi, M.; De Pasquale, S.; Giusti, P.; Iacobucci, G.; Margiotti, A.; Montanari, A.; Nania, R.; Palmonari, F.; Pesci, A.; Sartorelli, G.; Zichichi, A.; Aghuzumtsyan, G.; Bartsch, D.; Brock, I.; Goers, S.; Hartmann, H.; Hilger, E.; Irrgang, P.; Jakob, H.-P.; Kind, O.; Meyer, U.; Paul, E.; Rautenberg, J.; Renner, R.; Chekanov, S.;Derrick, M.;Krakauer, D.;Loizides, J.H.;Magill, S.;Miglioranzi, S.;Musgrave, B.;Repond, J.;Yoshida, R.;Mattingly, M.C.K.;Antonioli, P.;Bari, G.;Basile, M.;Bellagamba, L.;Boscherini, D.;Bruni, A.;Bruni, G.;Cara Romeo, G.;Cifarelli, L.;Cindolo, F.;Contin, A.;Corradi, M.;De Pasquale, S.;Giusti, P.;Iacobucci, G.;Margiotti, A.;Montanari, A.;Nania, R.;Palmonari, F.;Pesci, A.;Sartorelli, G.;Zichichi, A.;Aghuzumtsyan, G.;Bartsch, D.;Brock, I.;Goers, S.;Hartmann, H.;Hilger, E.;Irrgang, P.;Jakob, H.-P.;Kind, O.;Meyer, U.;Paul, E.;Rautenberg, J.;Renner, R.;Stifutkin, A.;Tandler, J.;Voss, K.C.;Wang, M.;Weber, A.;Bailey, D.S.;Brook, N.H.;Cole, J.E.;Heath, G.P.;Namsoo, T.;Robins, S.;Wing, M.;Capua, M.;Mastroberardino, A.;Schioppa, M.;Susinno, G.;Kim, J.Y.;Kim, Y.K.;Lee, J.H.;Lim, I.T.;Pac, M.Y.;Caldwell, A.;Helbich, M.;Liu, X.;Mellado, B.;Ning, Y.;Paganis, S.;Ren, Z.;Schmidke, W.B.;Sciulli, F.;Chwastowski, J.;Eskreys, A.;Figiel, J.;Galas, A.;Olkiewicz, K.;Stopa, P.;Zawiejski, L.;Adamczyk, L.;Bo?d, T.;Grabowska-Bo?d, I.;Kisielewska, D.;Kowal, A.M.;Kowal, M.;Kowalski, T.;Przybycie?, M.;Suszycki, L.;Szuba, D.;Szuba, J.;Kota?ski, A.;S?omi?ski, W.;Adler, V.;Behrens, U.;Bloch, I.;Borras, K.;Chiochia, V.;Dannheim, D.;Drews, G.;Fourletova, J.;Fricke, U.;Geiser, A.;G?ttlicher, P.;Gutsche, O.;Haas, T.;Hain, W.;Hillert, S.;Kahle, B.;K?tz, U.;Kowalski, H.;Kramberger, G.;Labes, H.;Lelas, D.;Lim, H.;L?hr, B.;Mankel, R.;Melzer-Pellmann, I.-A.;Nguyen, C.N.;Notz, D.;Nucio-Quiroz, A.E.;Polini, A.;Raval, A.;Rurua, L.;Schneekloth, U.;St?sslein, U.;Wolf, G.;Youngman, C.;Zeuner, W.;Schlenstedt, S.;Barbagli, G.;Gallo, E.;Genta, C.;Pelfer, P.G.;Bamberger, A.;Benen, A.;Karstens, F.;Dobur, D.;Vlasov, N.N.;Bell, M.;Bussey, P.J.;Doyle, A.T.;Ferrando, J.;Hamilton, J.;Hanlon, S.;Saxon, D.H.;Skillicorn, I.O.;Gialas, I.;Carli, T.;Gosau, T.;Holm, U.;Krumnack, N.;Lohrmann, E.;Milite, M.;Salehi, H.;Schleper, P.;Stonjek, S.;Wichmann, K.;Wick, K.;Ziegler, A.;Ziegler, A.;Collins-Tooth, C.;Foudas, C.;Gon?alo, R.;Long, K.R.;Tapper, A.D.;Cloth, P.;Filges, D.;Kataoka, M.;Nagano, K.;Tokushuku, K.;Yamada, S.;Yamazaki, Y.;Barakbaev, A.N.;Boos, E.G.;Pokrovskiy, N.S.;Zhautykov, B.O.;Son, D.;Piotrzkowski, K.;Barreiro, F.;Glasman, C.;Gonz?lez, O.;Labarga, L.;Del Peso, J.;Tassi, E.;Terr?n, J.;V?zquez, M.;Zambrana, M.;Barbi, M.;Corriveau, F.;Gliga, S.;Lainesse, J.;Padhi, S.;Stairs, D.G.;Walsh, R.;Tsurugai, T.;Antonov, A.;Danilov, P.;Dolgoshein, B.A.;Gladkov, D.;Sosnovtsev, V.;Suchkov, S.;Dementiev, R.K.;Ermolov, P.F.;Golubkov, Yu.A.;Katkov, I.I.;Khein, L.A.;Korzhavina, I.A.;Kuzmin, V.A.;Levchenko, B.B.;Lukina, O.Y.;Proskuryakov, A.S.;Shcheglova, L.M.;Zotkin, S.A.;Coppola, N.;Grijpink, S.;Koffeman, E.;Kooijman, P.;Maddox, E.;Pellegrino, A.;Schagen, S.;Tiecke, H.;Velthuis, J.J.;Wiggers, L.;De Wolf, E.;Br?mmer, N.;Bylsma, B.;Durkin, L.S.;Ling, T.Y.;Cooper-Sarkar, A.M.;Cottrell, A.;Devenish, R.C.E.;Foster, B.;Grzelak, G.;Gwenlan, C.;Patel, S.;Straub, P.B.;Walczak, R.;Bertolin, A.;Brugnera, R.;Carlin, R.;Dal Corso, F.;Dusini, S.;Garfagnini, A.;Limentani, S.;Longhin, A.;Parenti, A.;Posocco, M.;Stanco, L.;Turcato, M.;Heaphy, E.A.;Metlica, F.;Oh, B.Y.;Whitmore, J.J.;Iga, Y.;D'Agostini, G.;Marini, G.;Nigro, A.;Cormack, C.;Hart, J.C.;McCubbin, N.A.;Heusch, C.;Park, I.H.;Pavel, N.;Abramowicz, H.;Gabareen, A.;Kananov, S.;Kreisel, A.;Levy, A.;Kuze, M.;Fusayasu, T.;Kagawa, S.;Kohno, T.;Tawara, T.;Yamashita, T.;Hamatsu, R.;Hirose, T.;Inuzuka, M.;Kaji, H.;Kitamura, S.;Matsuzawa, K.;Ferrero, M.I.;Monaco, V.;Sacchi, R.;Solano, A.;Arneodo, M.;Ruspa, M.;Koop, T.;Martin, J.F.;Mirea, A.;Butterworth, J.M.;Hall-Wilton, R.;Jones, T.W.;Lightwood, M.S.;Sutton, M.R.;Targett-Adams, C.;Ciborowski, J.;Ciesielski, R.;?uzniak, P.;Nowak, R.J.;Pawlak, J.M.;Sztuk, J.;Tymieniecka, T.;Ukleja, A.;Ukleja, J.;Zarnecki, A.F.;Adamus, M.;Plucinski, P.;Eisenberg, Y.;Gladilin, L.K.;Hochman, D.;Karshon, U.;Riveline, M.;K?ira, D.;Lammers, S.;Li, L.;Reeder, D.D.;Rosin, M.;Savin, A.A.;Smith, W.H.;Deshpande, A.;Dhawan, S.;Bhadra, S.;Catterall, C.D.;Fourletov, S.;Hartner, G.;Menary, S.;Soares, M.;Standage, J.; Boscherini, D.; Chekanov, S.; Derrick, M.; Krakauer, D.; Loizides, J.H.; Magill, S.; Miglioranzi, S.; Musgrave, B.; Repond, J.; Yoshida, R.; Mattingly, M.C.K.; Antonioli, P.; Bari, G.; Basile, M.; Bellagamba, L. |
| 臺大學術典藏 |
2019-12-27T01:16:38Z |
Development of n-on-p silicon sensors for very high radiation environments
|
Jakobs, K.; Kamada, S.; Kierstead, J.; Kodys, P.; Kohler, M.; Kohriki, T.; Kramberger, G.; Lacasta, C.; Li, Z.; Lindgren, S.; Lynn, D.; Mikestikova, M.; Maddock, P.; Mandic, I.; Marti I Garcia, S.; Martinez-Mckinney, F.; Maunu, R.; McCarthy, R.; Metcalfe, J.; Mikuz, M.; Minano, M.; Mitsui, S.; O'Shea, V.; Paganis, S.; Parzefall, U.; Puldon, D.; Robinson, D.; Sadrozinski, H.F.-W.; Sattari, S.; Schamberger, D.; Seidel, S.; Seiden, A.; Terada, S.; Toms, K.; Tsionou, D.; Von Wilpert, J.; Wormald, M.; Wright, J.; Yamada, M.; Yamamura, K.; Stathes Paganis; Unno, Y.; Affolder, A.A.; Allport, P.P.; Bates, R.; Betancourt, C.; Bohm, J.; Brown, H.; Buttar, C.; Carter, J.R.; Casse, G.; Chen, H.; Chilingarov, A.; Cindro, V.; Clark, A.; Dawson, N.; Dewilde, B.; Dolezal, Z.; Eklund, L.; Fadeyev, V.; Ferrere, D.; Fox, H.; French, R.; Garcia, C.; Gerling, M.; Gonzalez Sevilla, S.; Gorelov, I.; Greenall, A.; Grillo, A.A.; Hamasaki, N.; Hara, K.; Hatano, H.; Hoeferkamp, M.; Hommels, L.B.A.; Ikegami, Y. |
| 臺大學術典藏 |
2019-12-27T01:16:38Z |
Testing of surface properties pre-rad and post-rad of n-in-p silicon sensors for very high radiation environment
|
Seidel, S.; Toms, K.; Tsionou, D.; Unno, Y.; Von Wilpert, J.; Wormald, M.; Wright, J.; Yamada, M.; Stathes Paganis; Bohm, J.; Brown, H.; Buttar, C.; Carter, J.R.; Casse, G.; Chen, H.; Chilingarov, A.; Cindro, V.; Clark, A.; Dawson, N.; Dewilde, B.; Doherty, F.; Dolezal, Z.; Eklund, L.; Fadeyev, V.; Ferr?rre, D.; Fox, H.; French, R.; Garc?a, C.; Gerling, M.; Gonzalez Sevilla, S.; Gorelov, I.; Greenall, A.; Grillo, A.A.; Hamasaki, N.; Hara, K.; Hatano, H.; Hoeferkamp, M.; Hommels, L.B.A.; Ikegami, Y.; Jakobs, K.; Kierstead, J.; Kodys, P.; K?hler, M.; Kohriki, T.; Kramberger, G.; Lacasta, C.; Li, Z.; Lynn, D.; Maddock, P.; Mandi?, I.; Martinez-Mckinney, F.; Garcia, S.M.; Maunu, R.; McCarthy, R.; Metcalfe, J.; Mikestikova, M.; Miku?, M.; Mi?ano, M.; Mitsui, S.; O'Shea, V.; Parzefall, U.; Sadrozinski, H.F.-W.; Schamberger, D.; Seiden, A.; Terada, S.; Paganis, S.; Robinson, D.; Puldon, D.; Sattari, S.; Betancourt, C.; Lindgren, S.; Affolder, A.A.; Allport, P.P.; Bates, R. |
| 臺大學術典藏 |
2019-12-27T01:16:37Z |
Testing of bulk radiation damage of n-in-p silicon sensors for very high radiation environments
|
Hara, K.;Affolder, A.A.;Allport, P.P.;Bates, R.;Betancourt, C.;Bohm, J.;Brown, H.;Buttar, C.;Carter, J.R.;Casse, G.;Chen, H.;Chilingarov, A.;Cindro, V.;Clark, A.;Dawson, N.;Dewilde, B.;Doherty, F.;Dolezal, Z.;Eklund, L.;Fadeyev, V.;Ferrere, D.;Fox, H.;French, R.;Garc?a, C.;Gerling, M.;Gonzalez Sevilla, S.;Gorelov, I.;Greenall, A.;Grillo, A.A.;Hamasaki, N.;Hatano, H.;Hoeferkamp, M.;Hommels, L.B.A.;Ikegami, Y.;Jakobs, K.;Kierstead, J.;Kodys, P.;K?hler, M.;Kohriki, T.;Kramberger, G.;Lacasta, C.;Li, Z.;Lindgren, S.;Lynn, D.;Maddock, P.;Mandi?, I.;Martinez-Mckinney, F.;Mart? I Garcia, S.;Maunu, R.;McCarthy, R.;Metcalfe, J.;Mikestikova, M.;Miku?, M.;Mi?ano, M.;Mitsui, S.;O'Shea, V.;Parzefall, U.;Sadrozinski, H.F.-W.;Schamberger, D.;Seiden, A.;Terada, S.;Paganis, S.;Robinson, D.;Puldon, D.;Sattari, S.;Seidel, S.;Takahashi, Y.;Toms, K.;Tsionou, D.;Unno, Y.;Von Wilpert, J.;Wormald, M.;Wright, J.;Yamada, M.; Hara, K.; Affolder, A.A.; Allport, P.P.; Bates, R.; Betancourt, C.; Bohm, J.; Brown, H.; Buttar, C.; Carter, J.R.; Casse, G.; Chen, H.; Chilingarov, A.; Cindro, V.; Clark, A.; Dawson, N.; Dewilde, B.; Doherty, F.; Dolezal, Z.; Eklund, L.; Fadeyev, V.; Ferrere, D.; Fox, H.; French, R.; Garc?a, C.; Gerling, M.; Gonzalez Sevilla, S.; Gorelov, I.; Greenall, A.; Grillo, A.A.; Hamasaki, N.; Hatano, H.; Hoeferkamp, M.; Hommels, L.B.A.; Ikegami, Y.; Jakobs, K.; Kierstead, J.; Kodys, P.; K?hler, M.; Kohriki, T.; Kramberger, G.; Lacasta, C.; Li, Z.; Lindgren, S.; Lynn, D.; Maddock, P.; Mandi?, I.; Martinez-Mckinney, F.; Mart? I Garcia, S.; Maunu, R.; McCarthy, R.; Metcalfe, J.; Mikestikova, M.; Miku?, M.; Mi?ano, M.; Mitsui, S.; O'Shea, V.; Parzefall, U.; Sadrozinski, H.F.-W.; Schamberger, D.; Seiden, A.; Terada, S.; Paganis, S.; Robinson, D.; Puldon, D.; Sattari, S.; Seidel, S.; Takahashi, Y.; Toms, K.; Tsionou, D.; Unno, Y.; Von Wilpert, J.; Wormald, M.; Wright, J.; Yamada, M.; Stathes Paganis |
| 臺大學術典藏 |
2019-12-27T01:16:37Z |
Testing of bulk radiation damage of n-in-p silicon sensors for very high radiation environments
|
Hara, K.;Affolder, A.A.;Allport, P.P.;Bates, R.;Betancourt, C.;Bohm, J.;Brown, H.;Buttar, C.;Carter, J.R.;Casse, G.;Chen, H.;Chilingarov, A.;Cindro, V.;Clark, A.;Dawson, N.;Dewilde, B.;Doherty, F.;Dolezal, Z.;Eklund, L.;Fadeyev, V.;Ferrere, D.;Fox, H.;French, R.;Garc?a, C.;Gerling, M.;Gonzalez Sevilla, S.;Gorelov, I.;Greenall, A.;Grillo, A.A.;Hamasaki, N.;Hatano, H.;Hoeferkamp, M.;Hommels, L.B.A.;Ikegami, Y.;Jakobs, K.;Kierstead, J.;Kodys, P.;K?hler, M.;Kohriki, T.;Kramberger, G.;Lacasta, C.;Li, Z.;Lindgren, S.;Lynn, D.;Maddock, P.;Mandi?, I.;Martinez-Mckinney, F.;Mart? I Garcia, S.;Maunu, R.;McCarthy, R.;Metcalfe, J.;Mikestikova, M.;Miku?, M.;Mi?ano, M.;Mitsui, S.;O'Shea, V.;Parzefall, U.;Sadrozinski, H.F.-W.;Schamberger, D.;Seiden, A.;Terada, S.;Paganis, S.;Robinson, D.;Puldon, D.;Sattari, S.;Seidel, S.;Takahashi, Y.;Toms, K.;Tsionou, D.;Unno, Y.;Von Wilpert, J.;Wormald, M.;Wright, J.;Yamada, M.; Hara, K.; Affolder, A.A.; Allport, P.P.; Bates, R.; Betancourt, C.; Bohm, J.; Brown, H.; Buttar, C.; Carter, J.R.; Casse, G.; Chen, H.; Chilingarov, A.; Cindro, V.; Clark, A.; Dawson, N.; Dewilde, B.; Doherty, F.; Dolezal, Z.; Eklund, L.; Fadeyev, V.; Ferrere, D.; Fox, H.; French, R.; Garc?a, C.; Gerling, M.; Gonzalez Sevilla, S.; Gorelov, I.; Greenall, A.; Grillo, A.A.; Hamasaki, N.; Hatano, H.; Hoeferkamp, M.; Hommels, L.B.A.; Ikegami, Y.; Jakobs, K.; Kierstead, J.; Kodys, P.; K?hler, M.; Kohriki, T.; Kramberger, G.; Lacasta, C.; Li, Z.; Lindgren, S.; Lynn, D.; Maddock, P.; Mandi?, I.; Martinez-Mckinney, F.; Mart? I Garcia, S.; Maunu, R.; McCarthy, R.; Metcalfe, J.; Mikestikova, M.; Miku?, M.; Mi?ano, M.; Mitsui, S.; O'Shea, V.; Parzefall, U.; Sadrozinski, H.F.-W.; Schamberger, D.; Seiden, A.; Terada, S.; Paganis, S.; Robinson, D.; Puldon, D.; Sattari, S.; Seidel, S.; Takahashi, Y.; Toms, K.; Tsionou, D.; Unno, Y.; Von Wilpert, J.; Wormald, M.; Wright, J.; Yamada, M.; Stathes Paganis |
| 臺大學術典藏 |
2018-09-10T08:45:42Z |
Testing of bulk radiation damage of n-in-p silicon sensors for very high radiation environments
|
Affolder, A.A.; Allport, P.P.; Bates, R.; Betancourt, C.; Bohm, J.; Brown, H.; Buttar, C.; Carter, J.R.; Casse, G.; Chen, H.; Chilingarov, A.; Cindro, V.; Clark, A.; Dawson, N.; Dewilde, B.; Doherty, F.; Dolezal, Z.; Eklund, L.; Fadeyev, V.; Ferrere, D.; Fox, H.; French, R.; Garc\\'ia, C.; Gerling, M.; Gonzalez Sevilla, S.; Gorelov, I.; Greenall, A.; Grillo, A.A.; Hamasaki, N.; Hatano, H.; Hoeferkamp, M.; Hommels, L.B.A.; Ikegami, Y.; Jakobs, K.; Kierstead, J.; Kodys, P.; K\\ohler, M.; Kohriki, T.; Kramberger, G.; Lacasta, C.; Li, Z.; Lindgren, S.; Lynn, D.; Maddock, P.; M; i?, I.; Martinez-Mckinney, F.; Mart\\'i I Garcia, S.; Maunu, R.; McCarthy, R.; Metcalfe, J.; Mikestikova, M.; Miku?, M.; Mi\\~nano, M.; Mitsui, S.; O'Shea, V.; Parzefall, U.; Sadrozinski, H.F.-W.; Schamberger, D.; Seiden, A.; Terada, S.; Paganis, S.; Robinson, D.; Puldon, D.; Sattari, S.; Seidel, S.; Takahashi, Y.; Toms, K.; Tsionou, D.; Unno, Y.; Von Wilpert, J.; Wormald, M.; Wright, J.; Yamada, M.; Hara, K.; Stathes Paganis et al. |
| 臺大學術典藏 |
2018-09-10T08:45:42Z |
Testing of surface properties pre-rad and post-rad of n-in-p silicon sensors for very high radiation environment
|
Affolder, A.A.; Allport, P.P.; Bates, R.; Betancourt, C.; Bohm, J.; Brown, H.; Buttar, C.; Carter, J.R.; Casse, G.; Chen, H.; Chilingarov, A.; Cindro, V.; Clark, A.; Dawson, N.; Dewilde, B.; Doherty, F.; Dolezal, Z.; Eklund, L.; Fadeyev, V.; Ferr\\`erre, D.; Fox, H.; French, R.; Garc\\'ia, C.; Gerling, M.; Gonzalez Sevilla, S.; Gorelov, I.; Greenall, A.; Grillo, A.A.; Hamasaki, N.; Hara, K.; Hatano, H.; Hoeferkamp, M.; Hommels, L.B.A.; Ikegami, Y.; Jakobs, K.; Kierstead, J.; Kodys, P.; K\\ohler, M.; Kohriki, T.; Kramberger, G.; Lacasta, C.; Li, Z.; Lynn, D.; Maddock, P.; M; i?, I.; Martinez-Mckinney, F.; Garcia, S.M.; Maunu, R.; McCarthy, R.; Metcalfe, J.; Mikestikova, M.; Miku?, M.; Mi\\~nano, M.; Mitsui, S.; O'Shea, V.; Parzefall, U.; Sadrozinski, H.F.-W.; Schamberger, D.; Seiden, A.; Terada, S.; Paganis, S.; Robinson, D.; Puldon, D.; Sattari, S.; Seidel, S.; Toms, K.; Tsionou, D.; Unno, Y.; Von Wilpert, J.; Wormald, M.; Wright, J.; Yamada, M.; Lindgren, S.; Stathes Paganis et al. |
| 臺大學術典藏 |
2018-09-10T07:07:36Z |
Engineering for the ATLAS SemiConductor Tracker (SCT) End-cap
|
Stathes Paganis; Allport, P.P.; ; erson, B.; ; ricek, L.; Anghinolfi, F.; Apsimon, R.J.; Atkinson, T.; Austin, A.; B; , H.; Barclay, P.; Barr, A.; Batchelor, L.E.; Bates, R.L.; Batley, J.R.; Beck, G.; Becker, H.; Bell, P.; Bell, W.H.; Belymam, A.; Bene?, J.; Bene?, P.; Berbee, E.; Bernabeu, J.; Bethke, S.; Bingefors, N.; Bizzell, J.P.; Blaszczak, Z.J.; Blocki, J.; Bro?, J.; Bohm, J.; Brenner, R.; Brodbeck, T.J.; De Renstrom, P.B.; Buis, R.; Burton, G.; Buskop, J.; Buttar, C.M.; Butterworth, J.M.; Butterworth, S.; Capocci, E.; Carpentieri, C.; Carter, A.A.; Carter, J.R.; Chamizo, M.; Charlton, D.G.; Cheplakov, A.; Chilingarov, A.; Chouridou, S.; Chren, D.; Chu, M.L.; Cindro, V.; Ciocio, A.; Civera, J.V.; Clark, A.; Coe, P.; Colijn, A.P.; Cooke, P.A.; Costa, M.J.; Costanzo, D.; Curtis-Rous, M.; Dabinett, C.; Dabrowski, W.; Dalmau, J.; Danielsen, K.M.; D'Auria, S.; Dawson, I.; De Jong, P.; Dervan, P.; Dobson, E.; Doherty, F.; Dole?al, Z.; Donega, M.; D'Onofrio, M.; Dorholt, O.; Doubrava, M.; Duerdoth, I.P.; Duisters, C.; Duxfield, R.; Dwuznik, M.; Eckert, S.; Eklund, L.; Escobar, C.; Evans, D.L.; Fadeyev, V.; Fasching, D.; Feld, L.; Ferguson, D.P.S.; Ferrari, P.; Ferrere, D.; Fopma, J.; Ford, P.; Fortin, R.; Foster, J.M.; Fox, H.; Fraser, T.J.; Freestone, J.; French, R.S.; Fuster, J.; Gallop, B.J.; Galuska, M.; Gannaway, F.; Garc\\'ia, C.; Garc\\'ia-Navarro, J.E.; Gibson, M.; Gibson, S.; Gnanvo, K.; Godlewski, J.; Gonzalez, F.; Gonzalez-Sevilla, S.; Goodrick, M.J.; Gorfine, G.; Gorisek, A.; Gornicki, E.; Greenall, A.; Greenfield, D.; Gregory, S.; Grillo, A.A.; Grosse-Knetter, J.; Gryska, C.; Haddad, L.; Hara, K.; Harris, M.; Hartjes, F.G.; Hauff, D.; Hawes, B.; Hayler, T.; Haywood, S.J.; Heinemann, F.; Heinzinger, K.; Hessey, N.P.; Heusch, C.; Hicheur, A.; Hill, J.C.; Hodgkinson, M.; Hodgson, P.; Hollins, T.I.; Holt, R.; Homna, J.; Hora?iovsk?, T.; Howell, D.; Hughes, G.; Huse, T.; Ibbotson, M.; Ikegami, Y.; Ilyashenko, I.; Issever, C.; Jak\\'ubek, J.; Jackson, J.N.; Jakobs, K.; Jared, R.C.; Jarron, P.; Johansson, P.; John, D.; Jones, A.; Jones, M.; Jones, T.J.; Joos, D.; Joseph, J.; Jovanovic, P.; Jusko, J.; Jusko, O.; Kaplon, J.; Karagoz-Unel, M.; Ketterer, Ch.; Kody?, P.; Koffeman, E.; Kohout, Z.; Kohriki, T.; Kok, H.; Kondo, T.; Koperny, S.; Korporaal, A.; Koukol, V.; Kr\\'al, V.; Kramberger, G.; Kub\\'ik, P.; Kudlaty, J.; Kuilman, W.; Kundu, N.; Lacasta, C.; Lacuesta, V.; Lau, W.; Lee, S.C.; Leguyt, R.; Leney, K.; Lenz, S.; Lester, C.G.; Liang, Z.; Liebicher, K.; Limper, M.; Lindquist, L.E.; Lindsay, S.; Linhart, V.; Lintern, A.; Locket, C.; Lockwood, M.; Loebinger, F.K.; Lozano, M.; Ludwig, I.; Ludwig, J.; Lutz, G.; Maassen, M.; MacIna, D.; MacPherson, A.; MacWaters, C.; Magrath, C.A.; Malecki, P.; M; i?, I.; Mangin-Brinet, M.; Marshall, G.; Mart\\'i-Garc\\'ia, S.; Martinez-Mckinney, G.F.M.; Matheson, J.P.; McEwan, F.; McMahon, S.J.; McPhail, D.; Meinhardt, J.; Mellado, B.; Mercer, I.J.; Messmer, I.; Mikulec, B.; Miku?, M.; Mima, S.; Mistry, K.; Mitra, A.; Mitsou, V.A.; Modesto, P.; Moed, S.; Mohn, B.; Moles, R.; Moorhead, G.F.; Moreno, B.; Morin, J.; Morris, J.; Moser, H.G.; Moszczynski, A.; Muijs, A.J.M.; Munneke, B.; Murray, W.J.; Muskett, D.; Nacher, J.; Nagai, K.; Naito, D.; Nakano, I.; Nelson, C.; Nichols, A.; Nickerson, R.B.; Nisius, R.; Noviss, J.; Olcese, M.; O'Shea, V.; Oye, O.K.; Paganis, S.; Palmer, M.J.; Parker, M.A.; Parzefall, U.; Pater, J.R.; Pernegger, H.; Perrin, E.; Phillips, A.; Phillips, P.W.; Pieron, J.P.; Poltorak, K.; Posp\\'i?il, S.; Postranecky, M.; Pritchard, T.; Prokofiev, K.; Raine, C.; Ratoff, P.N.; Reitmeijer, A.; ?ezn\\'i?ek, P.; Richter, R.H.; Robichaud-V\\'eronneau, A.; Robinson, D.; Robson, A.; Rodriguez-Oliete, R.; Roe, S.; Rolfe, G.; R\\ovenkamp, J.; Runge, K.; Saavedra, A.; Sadrozinski, H.F.W.; Sanchez, F.J.; S; aker, H.; Schieck, J.; Schuijlenburg, H.; Siegrist, J.; Seiden, A.; Sfyrla, A.; Simm, G.; Slatter, J.; Slav\\'i\\'eek, T.; Smith, B.; Smith, K.M.; Smith, N.A.; Snippe, C.; Snow, S.W.; Solar, M.; Solberg, A.O.; Sopko, B.; Sopko, V.; Sospedra, L.; Southern, G.D.; Sowinski, M.; Spencer, E.; Spieler, H.; Stanecka, E.; Stapnes, S.; Stastny, J.; ?teckl, I.; Stodulski, M.; Strachko, V.; Stradling, A.; Stugu, B.; Sutcliffe, P.; Szczygiel, R.; Takashima, R.; Tanaka, R.; Tappern, G.; Tarrant, J.; Taylor, G.N.; Temple, S.; Teng, P.K.; Terada, S.; Thompson, R.J.; Thresher, N.E.; Titov, M.; Tovey, D.R.; Tratzl, G.; Tricoli, A.; Turala, M.; Turner, P.R.; Tyndel, M.; Ull\\'an, M.; Unno, Y.; Vickey, T.; Vacek, V.; Van Der Kraaij, E.; Van Ovenbeek, M.; Viehhauser, G.; Vu, C.; Villani, E.G.; Vu Anh, T.; Vossebeld, J.H.; Wachler, M.; Wallny, R.; Ward, C.P.; Warren, M.R.M.; Wastie, R.; Weber, M.; Weidberg, A.R.; Weilhammer, P.; Wells, P.S.; Werneke, P.; Wetzel, P.; White, M.J.; Wiesmann, M.; Wilmut, I.; Wilson, J.A.; Wolter, M.; Wormald, M.P.; Wu, S.L.; Wu, X.; Zimmer, J.; Zsenei, A.; Zhu, H. |
| 臺大學術典藏 |
2018-09-10T06:01:39Z |
Erratum: Bottom photoproduction measured using decays into muons in dijet events in ep collisions at s=318GeV (Physical Review D - Particles, Fields, Gravitation and Cosmology (2004) 70, (012008))
|
Derrick, M.; Krakauer, D.; Loizides, J.H.; Magill, S.; Miglioranzi, S.; Musgrave, B.; Repond, J.; Yoshida, R.; Mattingly, M.C.K.; Antonioli, P.; Bari, G.; Basile, M.; Bellagamba, L.; Boscherini, D.; Bruni, A.; Bruni, G.; Cara Romeo, G.; Cifarelli, L.; Cindolo, F.; Contin, A.; Corradi, M.; De Pasquale, S.; Giusti, P.; Iacobucci, G.; Margiotti, A.; Montanari, A.; Nania, R.; Palmonari, F.; Pesci, A.; Sartorelli, G.; Zichichi, A.; Aghuzumtsyan, G.; Bartsch, D.; Brock, I.; Goers, S.; Hartmann, H.; Hilger, E.; Irrgang, P.; Jakob, H.-P.; Kind, O.; Meyer, U.; Paul, E.; Rautenberg, J.; Renner, R.; Stifutkin, A.; T; ler, J.; Voss, K.C.; Wang, M.; Weber, A.; Bailey, D.S.; Brook, N.H.; Cole, J.E.; Heath, G.P.; Namsoo, T.; Robins, S.; Wing, M.; Capua, M.; Mastroberardino, A.; Schioppa, M.; Susinno, G.; Kim, J.Y.; Kim, Y.K.; Lee, J.H.; Lim, I.T.; Pac, M.Y.; Caldwell, A.; Helbich, M.; Liu, X.; Mellado, B.; Ning, Y.; Paganis, S.; Ren, Z.; Schmidke, W.B.; Sciulli, F.; Chwastowski, J.; Eskreys, A.; Figiel, J.; Galas, A.; Olkiewicz, K.; Stopa, P.; Zawiejski, L.; Adamczyk, L.; Bo?d, T.; Grabowska-Bo?d, I.; Kisielewska, D.; Kowal, A.M.; Kowal, M.; Kowalski, T.; Przybycie?, M.; Suszycki, L.; Szuba, D.; Szuba, J.; Kota?ski, A.; S?omi?ski, W.; Adler, V.; Behrens, U.; Bloch, I.; Borras, K.; Chiochia, V.; Dannheim, D.; Drews, G.; Fourletova, J.; Fricke, U.; Geiser, A.; G\\ottlicher, P.; Gutsche, O.; Haas, T.; Hain, W.; Hillert, S.; Kahle, B.; K\\otz, U.; Kowalski, H.; Kramberger, G.; Labes, H.; Lelas, D.; Lim, H.; L\\ohr, B.; Mankel, R.; Melzer-Pellmann, I.-A.; Nguyen, C.N.; Notz, D.; Nucio-Quiroz, A.E.; Polini, A.; Raval, A.; Rurua, L.; Schneekloth, U.; St\\osslein, U.; Wolf, G.; Youngman, C.; Zeuner, W.; Schlenstedt, S.; Barbagli, G.; Gallo, E.; Genta, C.; Pelfer, P.G.; Bamberger, A.; Benen, A.; Karstens, F.; Dobur, D.; Vlasov, N.N.; Bell, M.; Bussey, P.J.; Doyle, A.T.; Ferr; o, J.; Hamilton, J.; Hanlon, S.; Saxon, D.H.; Skillicorn, I.O.; Gialas, I.; Carli, T.; Gosau, T.; Holm, U.; Krumnack, N.; Lohrmann, E.; Milite, M.; Salehi, H.; Schleper, P.; Stonjek, S.; Wichmann, K.; Wick, K.; Ziegler, A.; Ziegler, A.; Collins-Tooth, C.; Foudas, C.; Gon?alo, R.; Long, K.R.; Tapper, A.D.; Cloth, P.; Filges, D.; Kataoka, M.; Nagano, K.; Tokushuku, K.; Yamada, S.; Yamazaki, Y.; Barakbaev, A.N.; Boos, E.G.; Pokrovskiy, N.S.; Zhautykov, B.O.; Son, D.; Piotrzkowski, K.; Barreiro, F.; Glasman, C.; Gonz\\'alez, O.; Labarga, L.; Del Peso, J.; Tassi, E.; Terr\\'on, J.; V\\'azquez, M.; Zambrana, M.; Barbi, M.; Corriveau, F.; Gliga, S.; Lainesse, J.; Padhi, S.; Stairs, D.G.; Walsh, R.; Tsurugai, T.; Antonov, A.; Danilov, P.; Dolgoshein, B.A.; Gladkov, D.; Sosnovtsev, V.; Suchkov, S.; Dementiev, R.K.; Ermolov, P.F.; Golubkov, Yu.A.; Katkov, I.I.; Khein, L.A.; Korzhavina, I.A.; Kuzmin, V.A.; Levchenko, B.B.; Lukina, O.Y.; Proskuryakov, A.S.; Shcheglova, L.M.; Zotkin, S.A.; Coppola, N.; Grijpink, S.; Koffeman, E.; Kooijman, P.; Maddox, E.; Pellegrino, A.; Schagen, S.; Tiecke, H.; Velthuis, J.J.; Wiggers, L.; De Wolf, E.; Br\\ummer, N.; Bylsma, B.; Durkin, L.S.; Ling, T.Y.; Cooper-Sarkar, A.M.; Cottrell, A.; Devenish, R.C.E.; Foster, B.; Grzelak, G.; Gwenlan, C.; Patel, S.; Straub, P.B.; Walczak, R.; Bertolin, A.; Brugnera, R.; Carlin, R.; Dal Corso, F.; Dusini, S.; Garfagnini, A.; Limentani, S.; Longhin, A.; Parenti, A.; Posocco, M.; Stanco, L.; Turcato, M.; Heaphy, E.A.; Metlica, F.; Oh, B.Y.; Whitmore, J.J.; Iga, Y.; D'Agostini, G.; Marini, G.; Nigro, A.; Cormack, C.; Hart, J.C.; McCubbin, N.A.; Heusch, C.; Park, I.H.; Pavel, N.; Abramowicz, H.; Gabareen, A.; Kananov, S.; Kreisel, A.; Levy, A.; Kuze, M.; Fusayasu, T.; Kagawa, S.; Kohno, T.; Tawara, T.; Yamashita, T.; Hamatsu, R.; Hirose, T.; Inuzuka, M.; Kaji, H.; Kitamura, S.; Matsuzawa, K.; Ferrero, M.I.; Monaco, V.; Sacchi, R.; Solano, A.; Arneodo, M.; Ruspa, M.; Koop, T.; Martin, J.F.; Mirea, A.; Butterworth, J.M.; Hall-Wilton, R.; Jones, T.W.; Lightwood, M.S.; Sutton, M.R.; Targett-Adams, C.; Ciborowski, J.; Ciesielski, R.; ?uzniak, P.; Nowak, R.J.; Pawlak, J.M.; Sztuk, J.; Tymieniecka, T.; Ukleja, A.; Ukleja, J.; Zarnecki, A.F.; Adamus, M.; Plucinski, P.; Eisenberg, Y.; Gladilin, L.K.; Hochman, D.; Karshon, U.; Riveline, M.; K?ira, D.; Lammers, S.; Li, L.; Reeder, D.D.; Rosin, M.; Savin, A.A.; Smith, W.H.; Deshp; e, A.; Dhawan, S.; Bhadra, S.; Catterall, C.D.; Fourletov, S.; Hartner, G.; Menary, S.; Soares, M.; St; age, J.; Stathes Paganis |
显示项目 1-10 / 13 (共2页)
1 2 > >>
每页显示[10|25|50]项目
|
