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机构	日期	题名	作者
國立成功大學	2015-10	In Situ Synchrotron X-ray Diffraction Measurement of the Strain Distribution in Si Die for the Embedded Substrates	Hsu, Hsueh Hsien; Chen, Hao; Ouyang, Yao Tsung; Chiu, Tz Cheng; Chang, Tao Chih; Lee, Hsin Yi; Ku, Chin Shun; Wu, Albert T.

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