English  |  正體中文  |  简体中文  |  總筆數 :2822924  
造訪人次 :  30054624    線上人數 :  1057
教育部委託研究計畫      計畫執行:國立臺灣大學圖書館
 
臺灣學術機構典藏系統 (Taiwan Academic Institutional Repository, TAIR)
關於TAIR

瀏覽

消息

著作權

相關連結

"kuo j b"的相關文件

回到依作者瀏覽
依題名排序 依日期排序

顯示項目 21-30 / 128 (共13頁)
<< < 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 > >>
每頁顯示[10|25|50]項目

機構 日期 題名 作者
國立臺灣大學 2005-04 0.7 V Manchester carry look-ahead circuit using PD SOI CMOS asymmetrical dynamic threshold pass transistor techniques suitable for low-voltage CMOS VLSI systems Chiang, T.Y.; Kuo, J.B.
國立臺灣大學 2004-12 A 0.8 V CMOS TSPC adiabatic DCVS logic circuit with the bootstrap technique for low-power VLSI Chen, H.P.; Kuo, J.B.
國立臺灣大學 2004-07 Evolution of low-voltage CMOS digital VLSI circuits using bootstrap technique Kuo, J.B.
臺大學術典藏 2004-07 Evolution of low-voltage CMOS digital VLSI circuits using bootstrap technique Kuo, J.B.Kuojb; Kuo, J.B.; KuoJB
國立臺灣大學 2004-04 Low-Voltage SOI CMOS VLSI Devices and Circuits Lin, S. C.; Kuo, J. B.
國立臺灣大學 2004-03 CMOS Digital IC Kuo, J. B.
國立臺灣大學 2004 A Compact Threshold Voltage Model for Gate Misalignment Effect of DG FD SOI NMOS Devices Considering Fringing Electric Field Effects Kuo, J.B.; Sun, E.C.
國立臺灣大學 2003-11 Analysis of gate misalignment effect on the threshold voltage of double-gate (DG) ultrathin fully-depleted (FD) silicon-on-insulator (SOI) NMOS devices using a compact model considering fringing electric field effect Kuo, J.B.; Sun, E.C.; Lin, M.T.
臺大學術典藏 2003-11 Analysis of gate misalignment effect on the threshold voltage of double-gate (DG) ultrathin fully-depleted (FD) silicon-on-insulator (SOI) NMOS devices using a compact model considering fringing electric field effect Kuo, J.B.; Sun, E.C.; Lin, M.T.Kuojb; Kuo, J.B.; Sun, E.C.; Lin, M.T.; KuoJB
國立臺灣大學 2003 Ultra-Low-Voltage SOI CMOS Inverting Driver Circuit Using Effective Charge Pump Based on Bootstrap Technique Chen, J.H.T.; Kuo, J.B.

顯示項目 21-30 / 128 (共13頁)
<< < 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 > >>
每頁顯示[10|25|50]項目