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机构	日期	题名	作者
臺大學術典藏	2018-09-10T08:18:50Z	Effects of gate-bias stress on ZnO thin-film transistors	L.-Y. Su;H.-Y. Lin;S.-L. Wang;Y.-H. Yeh;C.-C. Cheng;L.-H. Peng;J.-J. Huang; L.-Y. Su; H.-Y. Lin; S.-L. Wang; Y.-H. Yeh; C.-C. Cheng; L.-H. Peng; J.-J. Huang; JIAN-JANG HUANG; LUNG-HAN PENG
元智大學	2012-11-29	科學與技術關聯性分析：以磷酸鋰鐵電池技術演化為例	L-Y. Su; J. S. Liu; Lu L.Y.Y.

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