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机构	日期	题名	作者
國立交通大學	2018-08-21T05:53:15Z	High temperature storage reliability of palladium coated copper wire in different EFO current settings	Cheng, Pi-Ying; Lai, Po-Ying; Ye, Jiun-Ming; Chen, Tsung-Chia; Hsieh, Cheng-Li
國立交通大學	2018-08-21T05:52:50Z	Effect of Pd distribution on Pd-plated Cu wire using different electronic flame off settings	Cheng, Pi-Ying; Lai, Po-Ying; Ye, Zheng-Jie; Hsieh, Cheng-Li; Ye, Jiun-Ming

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