臺灣學術機構典藏系統 (Taiwan Academic Institutional Repository, TAIR)

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機構	日期	題名	作者
臺大學術典藏	2018-09-10T03:24:21Z	A comparison of the morphological changes after Nd-YAG and CO2 laser irradiation of dentin surfaces	Lan, W.-H.;Chen, K.-W.;Jeng, J.-H.;Lin, C.-P.;Lin, S.-K.; CHUN-PIN LIN
臺大學術典藏	2018-09-10T03:24:19Z	A comparison of the morphological changes after Nd-YAG and CO2 laser irradiation of dentin surfaces	Lan, W.-H.;Chen, K.-W.;Jeng, J.-H.;Lin, C.-P.;Lin, S.-K.; JIIANG-HUEI JENG
臺大學術典藏	2018-06-28T18:23:48Z	Application of NonDestructive Testing in Cyclic Fatigue of Endodontic Ni-Ti Rotary Instruments	Lan, W.H.; Lin, C.P.; 單秋成(CHOW-SHING SHIN); Li, U.M.; Li, U.M.; 單秋成(Chow-Shing Shin); Lin, C.P.; Lan, W.H.
國立交通大學	2014-12-08T15:16:12Z	Surface KOH treatment in AlGaN-based photodiodes	Lan, W. -H.; Huang, K. -C.; Huang, K. F.
國立交通大學	2014-12-08T15:14:50Z	GaN-based light-emitting diodes prepared on vicinal sapphire substrates	Lin, J. C.; Su, Y. K.; Chang, S. J.; Lan, W. H.; Huang, K. C.; Chen, W. R.; Cheng, Y. C.; Lin, W. J.
國立交通大學	2014-12-08T15:13:14Z	High responsivity of GaN p-i-n photodiode by using low-temperature interlayer	Lin, J. C.; Su, Y. K.; Chang, S. J.; Lan, W. H.; Huang, K. C.; Chen, W. R.; Huang, C. Y.; Lai, W. C.; Lin, W. J.; Cheng, Y. C.
國立交通大學	2014-12-08T15:12:49Z	Improved external quantum efficiency of GaN p-i-n photodiodes with a TiO2 roughened surface	Lin, J. C.; Su, Y. K.; Chang, S. J.; Lan, W. H.; Huang, K. C.; Cheng, Y. C.; Lin, W. J.
國立交通大學	2014-12-08T15:12:23Z	GaN p-i-n photodetectors with an LT-GaN interlayer	Lin, J. C.; Su, Y. K.; Chang, S. J.; Lan, W. H.; Huang, K. C.; Chen, W. R.; Lan, C. H.; Huang, C. C.; Lin, W. J.; Cheng, Y. C.
國立交通大學	2014-12-08T15:11:17Z	Low dark current GaN p-i-n photodetectors with a low-temperature AIN interlayer	Lin, J. C.; Su, Y. K.; Chang, S. J.; Lan, W. H.; Chen, W. R.; Huang, K. C.; Cheng, Y. C.; Lin, W. J.
國立交通大學	2014-12-08T15:11:05Z	High light output intensity of titanium dioxide textured light-emitting diodes	Huang, K. C.; Lan, W. H.; Huang, K. F.; Lin, J. C.; Cheng, Y. C.; Lin, W. J.; Pan, S. M.

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