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机构 日期 题名 作者
國立交通大學 2020-10-05T01:59:50Z Energy Transformation Between the Inductor and the Power Transistor for the Unclamped Inductive Switching (UIS) Test Nidhi, Karuna; Lee, Jian-Hsing; Huang, Shao-Chang; Ker, Ming-Dou
國立交通大學 2019-08-02T02:15:29Z Avalanche Ruggedness Capability and Improvement of 5-V n-Channel Large-Array MOSFET in BCD Process Nidhi, Karuna; Ker, Ming-Dou; Lee, Jian-Hsing; Huang, Shao-Chang
國立交通大學 2018-08-21T05:53:47Z Improving Safe-Operating-Area o f a 5-V n-Channel Large Array MOSFET in a 0.15-mu m BCD Process Nidhi, Karuna; Ker, Ming-Dou; Lin, Tingyou; Lee, Jian-Hsing
國立交通大學 2014-12-08T15:30:52Z Semiself-Protection Scheme for Gigahertz High-Frequency Output ESD Protection Lee, Jian-Hsing; Huang, Shao-Chang; Su, Hung-Der; Chen, Ke-Horng
國立交通大學 2014-12-08T15:23:27Z Two-stage trigger silicon-controller rectifier (SCR) for radio-frequency (RF) input and output protections in nanometer technologies Lee, Jian-Hsing; Wu, Yi-Hsun; Huang, Shao-Chang; Lee, Yu-Huei; Chen, Ke-Horng
國立成功大學 2008-08 Dynamic turn-on mechanism of the n-MOSFET under high-current stress Yang, Dao-Hong; Chen, Jone F.; Lee, Jian-Hsing; Wu, Kuo-Ming

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