English  |  正體中文  |  简体中文  |  总笔数 :2856708  
造访人次 :  53585557    在线人数 :  827
教育部委托研究计画      计画执行:国立台湾大学图书馆
 
臺灣學術機構典藏系統 (Taiwan Academic Institutional Repository, TAIR)
关于TAIR

浏览

消息

著作权

相关连结

"lehnen p"的相关文件

回到依作者浏览
依题名排序 依日期排序

显示项目 1-10 / 11 (共2页)
1 2 > >>
每页显示[10|25|50]项目

机构 日期 题名 作者
國立交通大學 2019-04-02T06:00:18Z Improvements on electrical characteristics of p-channel metal-oxide-semiconductor field effect transistors with HfO2 gate stacks by post deposition N2O plasma treatment Lu, WT; Chien, CH; Lan, WT; Lee, TC; Yang, MJ; Shen, SW; Lehnen, P; Huang, TY
國立交通大學 2019-04-02T06:00:17Z Electrical characteristics of thin HfO2 gate dielectrics prepared using different pre-deposition surface treatments Chen, CW; Chien, CH; Perng, TH; Yang, MJ; Liang, JS; Lehnen, P; Tsui, BY; Chang, CY
國立交通大學 2014-12-08T15:40:23Z High-performance Pt/SrBi2Ta2O9/HfO2/Si structure for nondestructive readout memory Chien, CH; Wang, DY; Yang, MJ; Lehnen, P; Leu, CC; Chuang, SH; Huang, TY; Chang, CY
國立交通大學 2014-12-08T15:37:26Z The characteristics of hole trapping in HfO2/SiO2 gate dielectrics with TiN gate electrode Lu, WT; Lin, PC; Huang, TY; Chien, CH; Yang, MJ; Huang, IJ; Lehnen, P
國立交通大學 2014-12-08T15:37:15Z HfO2 MIS capacitor with copper gate electrode Perng, TH; Chien, CH; Chen, CW; Yang, MJ; Lehnen, P; Chang, CY; Huang, TY
國立交通大學 2014-12-08T15:37:09Z Effects of low-temperature NH3 treatment on the characteristics of HfO2/SiO2 gate stack Lu, WT; Chien, CH; Huang, IJ; Yang, MJ; Lehnen, P; Huang, TY
國立交通大學 2014-12-08T15:37:09Z High-density MIM capacitors with HfO(2) dielectrics Perng, TH; Chien, CH; Chen, CW; Lehnen, P; Chang, CY
國立交通大學 2014-12-08T15:36:22Z Electrical characteristics of thin HfO(2) gate dielectrics prepared using different pre-deposition surface treatments Chen, CW; Chien, CH; Perng, TH; Yang, MJ; Liang, JS; Lehnen, P; Tsui, BY; Chang, CY
國立交通大學 2014-12-08T15:36:00Z Low-temperature growth of polycrystalline ge films on SiO2 substrate by HDPCVD Yang, MJ; Shieh, J; Hsu, SL; Huang, IJ; Leu, CC; Shen, SW; Huang, TY; Lehnen, P; Chien, CH
國立交通大學 2014-12-08T15:18:06Z Improvements on electrical characteristics of p-channel metal-oxide-semiconductor field effect transistors with HfO(2) gate stacks by post deposition N(2)O plasma treatment Lu, WT; Chien, CH; Lan, WT; Lee, TC; Yang, MJ; Shen, SW; Lehnen, P; Huang, TY

显示项目 1-10 / 11 (共2页)
1 2 > >>
每页显示[10|25|50]项目