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机构 日期 题名 作者
國立交通大學 2014-12-08T15:03:52Z MULTIPLE-ANGLE INCIDENT ELLIPSOMETRY MEASUREMENT ON LOW-PRESSURE CHEMICAL-VAPOR-DEPOSITED AMORPHOUS-SILICON AND POLYSILICON CHAO, TS; LEE, CL; LEI, TF
國立交通大學 2014-12-08T15:03:46Z THE COMBINED EFFECTS OF LOW-PRESSURE NH3-ANNEALING AND H-2 PLASMA HYDROGENATION ON POLYSILICON THIN-FILM TRANSISTORS YANG, CK; LEI, TF; LEE, CL
國立交通大學 2014-12-08T15:03:33Z SUPPRESSION OF BORON PENETRATION IN PMOS BY USING BRIDE GETTERING EFFECT IN POLY-SI GATE LIN, YH; LEE, CL; LEI, TF; CHAO, TS
國立交通大學 2014-12-08T15:03:32Z CHARACTERISTICS OF BORON-DIFFUSION IN POLYSILICON SILICON SYSTEMS WITH A THIN SI-B LAYER AS DIFFUSION SOURCE CHEN, TP; LEI, TF; LIN, HC; CHANG, CY
國立交通大學 2014-12-08T15:03:31Z INHIBITION OF BIRDS BEAK IN LOCOS BY NEW BUFFER N2O OXIDE CHAO, TS; CHENG, JY; LEI, TF
國立交通大學 2014-12-08T15:03:30Z CROSSOVER PHENOMENON IN OXIDATION RATES OF THE (110) AND (111) ORIENTATIONS OF SILICON IN N2O CHAO, TS; LEI, TF
國立交通大學 2014-12-08T15:03:26Z THIN POLYOXIDE ON THE TOP OF POLY-SI GATE TO SUPPRESS BORON PENETRATION FOR PMOS LIN, YH; LEE, CL; LEI, TF; CHAO, TS
國立交通大學 2014-12-08T15:03:25Z FOURIER-TRANSFORM INFRARED SPECTROSCOPIC STUDY OF OXIDE-FILMS GROWN IN PURE N2O CHAO, TS; CHEN, WH; LEI, TF
國立交通大學 2014-12-08T15:03:22Z NITRIDATION OF THE STACKED POLY-SI GATE TO SUPPRESS THE BORON PENETRATION IN PMOS LIN, YH; LAI, SC; LEE, CL; LEI, TF; CHAO, TS
國立交通大學 2014-12-08T15:03:22Z THICKNESS EFFECT ON HYDROGEN PLASMA TREATMENT ON POLYCRYSTALLINE SILICON THIN-FILMS LIOU, BW; WU, YH; LEE, CL; LEI, TF

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