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| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:09:30Z |
薄氧化層之退火處理
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李建興; LI, JIAN-XIN; 李崇仁; 雷添福; LI, CHONG-REN; LEI, TIAN,FU |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:09:29Z |
以雜波測試圖樣測試定值故障
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陳明宇; CHEN, MING-YU; 李崇仁; LI, CHONG-REN |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:09:29Z |
疊形非晶矽膜形成的複晶矽接觸P﹢-N淺接面之特性
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蔡德安; CAI, DE-AN; 李崇仁; 雷添福; LI, CHONG-REN; LEI, TIAN-FU |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:09:28Z |
組合邏輯電路的極小測試集
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黃鍚霖; HUANG, XI-LIN; 李崇仁; LI, CHONG-REN |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:09:28Z |
分散式障礙模擬
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林萬益; LIN, WAN-YI; 李崇仁; LI, CHONG-REN |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:09:25Z |
二氧化鈦薄膜之研究
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嚴昌生; YAN, CHANG-SHENG; 雷添福; 李崇仁; LEI, TIAN-FU; LI, CHONG-REN |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:09:25Z |
使用複晶矽(非晶矽)為擴散源形成複晶矽化鈦淺椄面之研究
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黃正同; HUANG, ZHENG-TONG; 雷添福; 李崇仁; LEI, TIAN-FU; LI, CHONG-REN |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:08:31Z |
在超大型積體數位電路的障礙分析
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陳竹一; CHEN, ZHU-YI; 李崇仁; 沈文仁; LI, CHONG-REN; SHEN, WEN-REN |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:08:29Z |
高品質的金蕭基二極體之研究
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林世欽; LIN,SHI-QIN; 李崇仁; LI,CHONG-REN |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:07:52Z |
一功能層次之可測試性度量
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黃允熙; Huang, Yun-Xi; 李崇仁; Li, Chong-Ren |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:07:19Z |
橢圓測厚儀量測金屬性薄膜之光學常數及厚度
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顏瑛慈; YAN,YING-CI; 李崇仁; 雷添福; LI,CHONG-REN; LEI,TIAN-FU |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:07:19Z |
薄絕緣閘層場效電晶體特性之研究
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方惠加; FANG,HUI-JIA; 李崇仁; 雷添福; LI,CHONG-REN; LEI,TIAN-FU |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:07:18Z |
在單晶矽和複晶矽上成長的氧化層其特性之研究
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陳俊元; CHEN,JUN-YUAN; 李崇仁; 雷添福; LI,CHONG-REN; LEI,TIAN-FU |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:07:18Z |
形成超淺接面在使用非晶矽晶複晶矽和矽化鈦做固態擴散源
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廖忠志; LIAO,ZHONG-ZHI; 李崇仁; 雷添福; LI,CHONG-REN; LEI,TIAN-FU |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:07:18Z |
延遲障礙之障礙模擬
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蔡輝煌; CAI,HUI-HUANG; 李崇仁; LI,CHONG-REN |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:07:16Z |
一階層式測試圖樣產生器
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楊景翔; YANG,JING-XIANG; 李崇仁; LI,CHONG-REN |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:07:15Z |
一序向電路之測試圖樣產生器
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梁新聰; LIANG,XIN-CONG; 李崇仁; LI,CHONG-REN |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:07:14Z |
一功能層次之可測試性度量
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黃允熙; HUANG,YUN-XI; 李崇仁; LI,CHONG-REN |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:07:14Z |
一可測試性序向電路之合成系統
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吳維修; WU,WEI-XIU; 李崇仁; LI,CHONG-REN |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:07:09Z |
數位電路中延遲故障之可測試性度量
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吳文慶; WU,WEN-QING; 李崇仁; LI,CHONG-REN |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:07:08Z |
階層式測試圖樣產生方法
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王玲玲; WANG,LING-LING; 李崇仁; LI,CHONG-REN |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:07:01Z |
多值邏輯之故障測試
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王慧民; WANG,HUI-MIN; 李崇仁; LI,CHONG-REN |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:06:59Z |
一個並行圖樣延遲故障模擬器
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黃順達; HUANG,SHUN-DA; 李崇仁; LI,CHONG-REN |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:06:59Z |
可測性計量輔助之序向電路測試圖樣產生器及部分掃描設計方法
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陳文斌; CHEN,WEN-BIN; 李崇仁; LI,CHONG-REN |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:06:54Z |
擴散障壁對於鈀鍺在N-型砷化鎵歐姆接觸熱穩定性之影響
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黃文昌; HUANG,WEN-CHANG; 李崇仁; 雷添福; LI,CHONG-REN; LEI,TIAN-FU |
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