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機構 日期 題名 作者
國立交通大學 2014-12-12T02:09:30Z 薄氧化層之退火處理 李建興; LI, JIAN-XIN; 李崇仁; 雷添福; LI, CHONG-REN; LEI, TIAN,FU
國立交通大學 2014-12-12T02:09:29Z 以雜波測試圖樣測試定值故障 陳明宇; CHEN, MING-YU; 李崇仁; LI, CHONG-REN
國立交通大學 2014-12-12T02:09:29Z 疊形非晶矽膜形成的複晶矽接觸P﹢-N淺接面之特性 蔡德安; CAI, DE-AN; 李崇仁; 雷添福; LI, CHONG-REN; LEI, TIAN-FU
國立交通大學 2014-12-12T02:09:28Z 組合邏輯電路的極小測試集 黃鍚霖; HUANG, XI-LIN; 李崇仁; LI, CHONG-REN
國立交通大學 2014-12-12T02:09:28Z 分散式障礙模擬 林萬益; LIN, WAN-YI; 李崇仁; LI, CHONG-REN
國立交通大學 2014-12-12T02:09:25Z 二氧化鈦薄膜之研究 嚴昌生; YAN, CHANG-SHENG; 雷添福; 李崇仁; LEI, TIAN-FU; LI, CHONG-REN
國立交通大學 2014-12-12T02:09:25Z 使用複晶矽(非晶矽)為擴散源形成複晶矽化鈦淺椄面之研究 黃正同; HUANG, ZHENG-TONG; 雷添福; 李崇仁; LEI, TIAN-FU; LI, CHONG-REN
國立交通大學 2014-12-12T02:08:31Z 在超大型積體數位電路的障礙分析 陳竹一; CHEN, ZHU-YI; 李崇仁; 沈文仁; LI, CHONG-REN; SHEN, WEN-REN
國立交通大學 2014-12-12T02:08:29Z 高品質的金蕭基二極體之研究 林世欽; LIN,SHI-QIN; 李崇仁; LI,CHONG-REN
國立交通大學 2014-12-12T02:07:52Z 一功能層次之可測試性度量 黃允熙; Huang, Yun-Xi; 李崇仁; Li, Chong-Ren

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