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| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:07:16Z |
一階層式測試圖樣產生器
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楊景翔; YANG,JING-XIANG; 李崇仁; LI,CHONG-REN |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:07:15Z |
一序向電路之測試圖樣產生器
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梁新聰; LIANG,XIN-CONG; 李崇仁; LI,CHONG-REN |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:07:14Z |
一功能層次之可測試性度量
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黃允熙; HUANG,YUN-XI; 李崇仁; LI,CHONG-REN |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:07:14Z |
一可測試性序向電路之合成系統
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吳維修; WU,WEI-XIU; 李崇仁; LI,CHONG-REN |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:07:09Z |
數位電路中延遲故障之可測試性度量
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吳文慶; WU,WEN-QING; 李崇仁; LI,CHONG-REN |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:07:08Z |
階層式測試圖樣產生方法
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王玲玲; WANG,LING-LING; 李崇仁; LI,CHONG-REN |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:07:01Z |
多值邏輯之故障測試
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王慧民; WANG,HUI-MIN; 李崇仁; LI,CHONG-REN |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:06:59Z |
一個並行圖樣延遲故障模擬器
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黃順達; HUANG,SHUN-DA; 李崇仁; LI,CHONG-REN |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:06:59Z |
可測性計量輔助之序向電路測試圖樣產生器及部分掃描設計方法
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陳文斌; CHEN,WEN-BIN; 李崇仁; LI,CHONG-REN |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:06:54Z |
擴散障壁對於鈀鍺在N-型砷化鎵歐姆接觸熱穩定性之影響
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黃文昌; HUANG,WEN-CHANG; 李崇仁; 雷添福; LI,CHONG-REN; LEI,TIAN-FU |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:05:53Z |
複晶矽P-N 接面之特性
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吳協霖; WU, XIE-LIN; 李崇仁; 雷添福; LI, CHONG-REN; LEI, TIAN-FU |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:05:53Z |
對延遲故障的嚴格測試圖樣產生器
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廖述俊; LIAO, SHU-JUN; 李崇仁; 沈文仁; LI, CHONG-REN; SHEN, WEN-REN |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:05:53Z |
瞬時動態大信號的C-V 特性測量
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王文通; WANG, WEN-TONG; 李崇仁; 雷添福; LI, CHONG-REN; LEI, TIAN-FU |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:05:51Z |
金氧半電晶體在超薄閘極層(30-100A°)下之特性分析
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趙亮; ZHAO, LIANG; 李崇仁; 雷添福; LI, CHONG-REN; LEI, TIAN-FU |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:05:50Z |
以單極性函數理論推導功能測試及可測試性設計
|
謝發忠; XIE, FA-ZHONG; 李崇仁; 沈文仁; LI, CHONG-REN; SHEN, WEN-REN |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:05:50Z |
同步時序電路之故障模擬器
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錢美星; QIAN, MEI-XING; 李崇仁; 沈文仁; LI, CHONG-REN; SHEN, WEN-REN |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:05:48Z |
可測試性設計規則檢查器
|
陳勁卓; CHEN, JIN-ZHUO; 李崇仁; 沈文仁; LI, CHONG-REN; SHEN, WEN-REN |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:05:45Z |
可測性計量輔助產生測試圖樣
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王敏書; WANG, MIN-SHU; 李崇仁; 沈文仁; LI, CHONG-REN; SHEN, WEN-REN |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:05:43Z |
與金絕半結構相關之交換現象與交換元件
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張勁燕; ZHANG, JIN-YAN; 李崇仁; LI, CHONG-REN |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:05:43Z |
橢圓測試儀在薄膜測量方法上的研究與改進
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何昭煌; HE, ZHAO-HUANG; 李崇仁; 雷添福; LI, CHONG-REN; LEI, TIAN-FU |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:05:43Z |
一個並行圖樣混合階層錯誤模擬器
|
黃志松; HUANG, ZHI-SONG; 李崇仁; 沈文仁; LI, CHONG-REN; SHEN, WEN-REN |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:05:08Z |
數位積體電路測試機
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姚忠一; YAO, ZHONG-YI; 李崇仁; LI, CHONG-REN |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:05:04Z |
超大型積體組合電路自動測試圖樣產生系統
|
江勝昌; JIANG, SHENG-CHANG2; 李崇仁; 沈文仁; LI, CHONG-REN; SHEN, WEN-REN |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:05:04Z |
超大型積體數位電路之故障模擬器
|
陳明德; CHEN, MING-DE; 李崇仁; 沈文仁; LI, CHONG-REN; SHEN, WEN-REN |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:04:28Z |
複晶矽 P - N 接面
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梁景哲; LIANG, JING-ZHE; 李崇仁; 雷添福; LI, CHONG-REN; LEI, TIAN-FU |
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